耦合装置及其检测电路和方法、烹饪器具与流程

本发明涉及家用电器领域，具体而言，涉及一种耦合装置及其检测电路和方法、烹饪器具。

背景技术：

相关技术中，具有加热功能的烹饪器具，例如电压力锅，其内部都设置有感温元件，感温元件通过线束与控制板进行电连接。当感温元件所在的部件为可拆卸部件时，感温元件不能直接通过线束与控制板电连接，需要一个耦合装置进行可拆分式连接，其中，耦合装置的触点一般为金属材质，表面一般进行镀铜等处理，在正常情况下，耦合装置的触点阻抗非常低，可以忽略不计。但是，使用时间久了之后，由于环境污染侵蚀，其触点容易被氧化或腐蚀，触点与触点之间便会产生较大的接触阻抗，对感温元件影响非常大，使感温元件测量温度数据偏离真实温度，从而引起不可预知的后果。

针对相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

本发明实施例提供了一种耦合装置及其检测电路和方法、烹饪器具，以至少解决相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的技术问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种耦合装置的检测电路，包括：耦合装置，包括：四个触点和至少两块接触面，每块接触面同时与一个或两个触点接触，四个触点包括：第一触点、第二触点、第三触点和第四触点；检测装置，包括：第一端和第二端，检测装置的第一端通过至少一块第一接触面与第一触点和第二触点连接，检测装置的第二端通过至少一块第二接触面与第三触点和第四触点连接；控制器，包括：第一采样端、第二采样端和第三采样端，第一采样端与第一触点和直流电源连接，第二采样端与第二触点连接，第三采样端和第三触点连接，第四触点接地，其中，控制器用于基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常。

在本发明实施例中，通过对耦合装置进行改进，设置四个触点，每块接触面同时与一个或两个触点接触，检测装置的每端通过至少一块接触面与两个触点连接，控制器的三个采样端分别与三个触点连接，通过采集三个采样端采集到的电压值，可以确定耦合装置是否接触正常，从而实现了对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，避免由于引入接触阻抗导致测温模块所测数据偏差，导致整机工作出现异常，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的技术效果，进而解决了相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的技术问题。

进一步地，控制器包括：第一处理单元，用于判断第一触点和第二触点对应的电压值之差是否小于或等于第一预设值，第三触点对应的电压值是否小于或等于第二预设值，以确定耦合装置是否接触正常。通过对连接于检测装置的同一端的触点对应的电压值进行检测，实现检测每块接触面是否存在阻抗的目的，进一步实现对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

进一步地，检测电路还包括：报警装置，与控制器连接，用于在确定述耦合装置接触异常的情况下，生成相应的报警提示信息。通过报警装置在耦合装置接触异常的情况下进行报警，从而用户可以及时对耦合装置的触点进行擦拭或维修，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

进一步地，控制器还包括：第二处理单元，用于在确定述耦合装置接触正常的情况下，基于第一触点对应的电压值，得到当前采样温度。通过在确定耦合装置接触正常之后得到当前采样温度，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

进一步地，检测电路还包括：三个保护模块，包括：第一保护模块、第二保护模块和第三保护模块，第一保护模块连接在第一触点和第一采样端之间，第二保护模块连接在第二触点和第二采样端之间，第三保护模块连接在第三触点和第三采样端之间。通过设置保护模块，避免采样端采集到的电压值过高，影响控制器的正常使用，而且，对采集到的电压值进行滤波，避免杂波对检测结果的影响，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

进一步地，每个保护模块包括：第一电阻，连接在触点和采样端之间；第一电容，连接在触点和地之间；第二电容，连接在采样端和地之间。通过设置第一电阻避免采样端采集到的电压值过高，通过设置第一电容和第二电容进行滤波，避免杂波对检测结果的影响。

进一步地，检测电路还包括：第二电阻，连接在第一触点和直流电源之间。通过设置第二电阻避免检测装置的电流过大，对检测装置造成损坏，影响检测装置的正常使用。

进一步地，检测装置至少包括：感温元件。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种耦合装置的检测方法，耦合装置包括：四个触点和至少两块接触面，每块接触面同时与一个或两个触点接触，四个触点包括：第一触点、第二触点、第三触点和第四触点，检测装置的第一端通过至少一块第一接触面与第一触点和第二触点连接，检测装置的第二端通过至少一块第二接触面与第三触点和第四触点连接，控制器的第一采样端与第一触点和直流电源连接，控制器的第二采样端与第二触点连接，控制器的第三采样端和第三触点连接，第四触点接地，其中，检测方法还包括：获取第一采样端、第二采样端和三采样端采集到的电压值，得到第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值；基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常。

进一步地，基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常，包括：获取第一触点和第二触点对应的电压值之差，得到电压差值；判断电压差值是否小于或等于第一预设值，第三触点对应的电压值是否小于或等于第二预设值；如果电压差值大于第一预设值，或第三触点对应的电压值大于第二预设值，则确定耦合装置接触异常。

进一步地，如果电压差之小于或等于第一预设值，且第三触点对应的电压值小于或等于第二预设值，则确定耦合装置接触正常。

进一步地，在确定述耦合装置接触异常的情况下，生成相应的报警提示信息。

进一步地，在确定述耦合装置接触正常的情况下，基于第一触点对应的电压值，得到当前采样温度。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种耦合装置，包括：四个触点；至少两块接触面，每块接触面同时与一个或两个触点接触。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种烹饪器具，包括：上述的耦合装置的检测电路。

进一步地，烹饪器具为电压力锅。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行上述的耦合装置的检测方法。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种处理器，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述的耦合装置的检测方法。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的一种耦合装置的检测电路的示意图；

图2是根据本发明实施例的一种可选的耦合装置的示意图；

图3是根据本发明实施例的一种可选的耦合装置的检测电路的电路示意图；

图4是根据本发明实施例的一种耦合装置的检测方法的流程图；以及

图5是根据本发明实施例的一种可选的耦合装置的检测方法的流程图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

实施例1

根据本发明实施例，提供了一种耦合装置的检测电路的实施例。

图1是根据本发明实施例的一种耦合装置的检测电路的示意图，如图1所示，该检测电路包括：耦合装置10、检测装置20和控制器30，其中，耦合装置10包括：四个触点11和至少两块接触面12，每块接触面同时与一个或两个触点接触，四个触点包括：第一触点、第二触点、第三触点和第四触点；检测装置20包括：第一端和第二端，检测装置20的第一端通过至少一块第一接触面与第一触点和第二触点连接，检测装置20的第二端通过至少一块第二接触面与第三触点和第四触点连接；控制器30包括：第一采样端、第二采样端和第三采样端，第一采样端与第一触点和直流电源连接，第二采样端与第二触点连接，第三采样端和第三触点连接，第四触点接地。

其中，控制器30用于基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常。

具体地，为了避免触点阻抗带来的危害，可以对耦合装置进行改进，在本发明实施例中，以耦合装置包括：四个触点和两块接触面为例进行说明，如图2所示，耦合装置的一边设计为4个触点，分别为第一触点s1-1、第二触点s1-2、第四触点s2-1和第三触点s2-2，另外一边设计为两块整体接触面，分别为a和b，且在耦合过程中让2触点同时与一块接触面接触，例如，第一触点s1-1和第二触点s1-2与接触面a接触，第四触点s2-1和第三触点s2-2与接触面b接触。

需要说明的是，耦合装置不仅仅可以包括四个触点，还可以包括五个或者更多的触点，检测原理与四个触点的检测原理相同，但是，由于设置触点越多，成本越高，因此，本发明实施例中，以四个触点为例进行详细说明。

可选地，检测装置为感温元件。

具体地，上述的检测装置可以是感温元件、压力传感器等，在本发明实施例中，以感温元件为例进行说明，常用的感温元件可以是ntc(热敏电阻，negativetemperaturecoefficient)，如图2所示，ntc的两端分别连接接触面a和b。

需要说明的是，检测装置的类型不同，包括的连接端的数量不同，对于某些特定的类型，检测装置可以包括三个甚至更多的连接端，无论检测装置的连接端的数量多少，为了实现检测目的，每个端需要通过至少一块接触面与两个触点连接。本发明实施例中，以感温元件包括两个端为例进行详细说明。

在与同一块接触面接触的2个触点中，1个触点的连接用于构成原先测温回路，另1个触点用于构成接触阻抗的检测回路，两个回路均与控制器连接。正常情况下，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗近似为0，2个触点的电压近似相同。而当触点出现氧化或腐蚀时，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗较大，2个触点的电压差异较大。控制器可以是单片机，具有多个采样端，通过多个采样端可以分别采集测温回路和检测回路的电压值，从而实现检测耦合装置的接触是否良好，以及确定当前采样温度。

例如，如图3所示，第一触点s1-1和第四触点s2-1构成原先测温回路，第二触点s1-2和第三触点s2-2构成接触阻抗的检测回路，其中，第一触点s1-1与直流电源5v连接，第四触点s2-1接地。第一触点s1-1、第二触点s1-2和第三触点s2-2分别与单片机的三个采样端连接，具体地，第一触点s1-1与第一采样端ad_judge_1连接，第二触点s1-2与第二采样端ad_judge_2连接，第三触点s2-2与第三采样端ad_judge_3连接。单片机通过三个采样端可以采集到三个电压值，分别为v1、v2和v3，根据上述三个电压值可以检测出耦合装置的接触是否良好。

在本发明实施例中，通过对耦合装置进行改进，设置四个触点，每块接触面同时与一个或两个触点接触，检测装置的每端通过至少一块接触面与两个触点连接，控制器的三个采样端分别与三个触点连接，通过采集三个采样端采集到的电压值，可以确定耦合装置是否接触正常，从而实现了对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，避免由于引入接触阻抗导致测温模块所测数据偏差，导致整机工作出现异常，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的技术效果，进而解决了相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的技术问题。

可选地，控制器包括：第一处理单元。其中，第一处理单元，用于判断第一触点和第二触点对应的电压值之差是否小于或等于第一预设值，第三触点对应的电压值是否小于或等于第二预设值，以确定耦合装置是否接触正常。

具体地，由于触点出现氧化或腐蚀，连接于检测装置的同一端的触点对应的电压值存在较大差异，也即，两个电压值的差值大于一个阈值，即上述的第一预设值，该阈值可以取0.03v，可以根据检测允许的误差来确定触点出现氧化或腐蚀的阈值。由于第四触点接地，可以仅仅采集第三触点的电压值，通过比较第三触点的电压值是否大于一个阈值，即上述的第二预设值，该阈值理论上近似为0，同样可以根据检测允许的误差来确定触点出现氧化或腐蚀的阈值。

例如，如图3所示，为了防止接触阻抗导致测温不准，可以首先检测接触面a和b处的接触阻抗，通过第一采样端ad_judge_1采集电压值v1，第二采样端ad_judge_2采集电压值v2，第三采样端ad_judge_3采集电压值v3，此处可以设置容许误差量△v1(即上述的第一预设值)和△v2(即上述的第二预设值)。如果(v2-v1)>△v1，则表明接触面a与第一触点s1-1和第二触点s1-2之间的接触阻抗较大，否则表明接触面a与第一触点s1-1和第二触点s1-2之间的接触阻抗近似为0。如果v3>△v2，则表明接触面b与第四触点s2-1和第三触点s2-2之间的接触阻抗较大，否则表明接触面b与第四触点s2-1和第三触点s2-2之间的接触阻抗近似为0。

通过上述方案，通过对连接于检测装置的同一端的触点对应的电压值进行检测，实现检测每块接触面是否存在阻抗的目的，进一步实现对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

可选地，检测电路还包括：报警装置。

其中，报警装置与控制器连接，用于在确定述耦合装置接触异常的情况下，生成相应的报警提示信息。

具体地，在通过上述方案确定任意一块接触面处的接触阻抗较大之后，为了避免触点之间的接触阻抗导致测温不准，可以生成报警提示信息，提示用户需要将耦合装置的触点进行擦拭，擦拭干净后再使用，或者有其他故障并进行维修。上述的报警装置可以是显示屏、扬声器或者蜂鸣器，报警提示信息可以是显示屏上显示的提示文字或者语音信息，例如，显示“耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修”，或者显示相应的故障代码，从而用户可以确定耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修，报警提示信息还可以是蜂鸣器发出的蜂鸣声，从而用户可以确定耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修。

通过上述方案，通过报警装置在耦合装置接触异常的情况下进行报警，从而用户可以及时对耦合装置的触点进行擦拭或维修，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

可选地，控制器还包括：第二处理单元。

其中，第二处理单元用于在确定述耦合装置接触正常的情况下，基于第一触点对应的电压值，得到当前采样温度。

具体地，如果所有接触面处的接触阻抗均处于合理范围之内，如果在合理范围之内，也即，(v2-v1)<△v1，且v3<△v2，则可以通过第一触点对应的电压值计算出当前采样温度。例如，单片机的第一采样端ad_judge_1采集电压值v0，根据v0计算得到当前采样温度。

通过上述方案，通过在确定耦合装置接触正常之后得到当前采样温度，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

可选地，检测电路还包括：三个保护模块，包括：第一保护模块、第二保护模块和第三保护模块，第一保护模块连接在第一触点和第一采样端之间，第二保护模块连接在第二触点和第二采样端之间，第三保护模块连接在第三触点和第三采样端之间。

具体地，为了避免采样端采集到的电压值过高，影响控制器的正常使用，而且，为了对采集到的电压值进行滤波，避免杂波对检测结果的影响，如图3所示，可以分别在第一触点s1-1、第二触点s1-2和第三触点s2-2以及第一采样端ad_judge_1、第二采样端ad_judge_2和第三采样端ad_judge_3之间连接保护模块，进一步达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的效果。

可选地，每个保护模块包括：第一电阻、第一电容和第二电容。其中，第一电阻连接在触点和采样端之间；第一电容连接在触点和地之间；第二电容连接在采样端和地之间。

具体地，保护模块可以包括一个电阻和两个电容，电阻的电阻值为4.7kω。如图3所示，第一触点s1-1和第一采样端ad_judge_1之间串联第一电阻r15，第一电容c3的一端接第一接触点s1-1，另一端接地，第二电容c4的一端接第一采样端ad_judge_1，另一端接地。第二触点s1-2和第二采样端ad_judge_2之间串联第一电阻r4，第一电容c6的一端接第二触点s1-2，另一端接地，第二电容c5的一端接第二采样端ad_judge_2，另一端接地。第三触点s2-2和第三采样端ad_judge_3之间串联第一电阻r11，第一电容c8的一端接第三触点s2-2，另一端接地，第二电容c7的一端接第三采样端ad_judge_3，另一端接地。

通过上述方案，通过设置第一电阻避免采样端采集到的电压值过高，通过设置第一电容和第二电容进行滤波，避免杂波对检测结果的影响。

可选地，检测电路还包括：第二电阻，其中，第二电阻连接在第一触点和直流电源之间。

具体地，如图3所示，上述的第一电阻可以是连接在第一触点s1-1和5v直流电源之间的电阻r1，该电阻的电阻值为5.1kω。通过设置第二电阻避免感温元件的电流过大，对感温元件造成损坏，影响感温元件的正常使用。

实施例2

根据本发明实施例，提供了一种耦合装置的检测方法的实施例，需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

图4是根据本发明实施例的一种耦合装置的检测方法的流程图，如图1所示，耦合装置包括：四个触点和至少两块接触面，每块接触面同时与一个或两个触点接触，四个触点包括：第一触点、第二触点、第三触点和第四触点，检测装置的第一端通过至少一块第一接触面与第一触点和第二触点连接，检测装置的第二端通过至少一块第二接触面与第三触点和第四触点连接，控制器的第一采样端与第一触点和直流电源连接，控制器的第二采样端与第二触点连接，控制器的第三采样端和第三触点连接，第四触点接地。如图4所示，该检测方法包括如下步骤：

步骤s402，获取第一采样端、第二采样端和三采样端采集到的电压值，得到第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值。

步骤s404，基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常。

具体地，为了避免触点阻抗带来的危害，可以对耦合装置进行改进，在本发明实施例中，以耦合装置包括：四个触点和两块接触面为例进行说明，如图2所示，耦合装置的一边设计为4个触点，分别为第一触点s1-1、第二触点s1-2、第四触点s2-1和第三触点s2-2，另外一边设计为两块整体接触面，分别为a和b，且在耦合过程中让2触点同时与一块接触面接触，例如，第一触点s1-1和第二触点s1-2与接触面a接触，第四触点s2-1和第三触点s2-2与接触面b接触。

可选地，检测装置为感温元件。

具体地，上述的检测装置可以是感温元件、压力传感器等，在本发明实施例中，以感温元件为例进行说明，常用的感温元件可以是ntc(热敏电阻，negativetemperaturecoefficient)，如图2所示，ntc的两端分别连接接触面a和b。

在与同一块接触面接触的2个触点中，1个触点的连接用于构成原先测温回路，另1个触点用于构成接触阻抗的检测回路，两个回路均与控制器连接。正常情况下，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗近似为0，2个触点的电压近似相同。而当触点出现氧化或腐蚀时，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗较大，2个触点的电压差异较大。控制器可以是单片机，具有多个采样端，通过多个采样端可以分别采集测温回路和检测回路的电压值，从而实现检测耦合装置的接触是否良好，以及确定当前采样温度。

在本发明实施例中，通过对耦合装置进行改进，设置四个触点，每块接触面同时与一个或两个触点接触，检测装置的每端通过至少一块接触面与两个触点连接，控制器的三个采样端分别与三个触点连接，通过采集三个采样端采集到的电压值，可以确定耦合装置是否接触正常，从而实现了对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，避免由于引入接触阻抗导致测温模块所测数据偏差，导致整机工作出现异常，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的技术效果，进而解决了相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的技术问题。

可选地，步骤s404，基于第一触点、第二触点和第三触点对应的电压值，确定耦合装置是否接触正常，包括：获取第一触点和第二触点对应的电压值之差，得到电压差值；判断电压差值是否小于或等于第一预设值，第三触点对应的电压值是否小于或等于第二预设值；如果电压差值大于第一预设值，或第三触点对应的电压值大于第二预设值，则确定耦合装置接触异常。

具体地，由于触点出现氧化或腐蚀，连接于检测装置的同一端的触点对应的电压值存在较大差异，也即，两个电压值的差值大于一个阈值，即上述的第一预设值，该阈值可以取0.03v，可以根据检测允许的误差来确定触点出现氧化或腐蚀的阈值。由于第四触点接地，可以仅仅采集第三触点的电压值，通过比较第三触点的电压值是否大于一个阈值，即上述的第二预设值，该阈值理论上近似为0，同样可以根据检测允许的误差来确定触点出现氧化或腐蚀的阈值。

可选地，如果电压差之小于或等于第一预设值，且第三触点对应的电压值小于或等于第二预设值，则确定耦合装置接触正常。

具体地，如果所有接触面处的接触阻抗均处于合理范围之内，如果在合理范围之内，也即，(v2-v1)<△v1，且v3<△v2，则可以确定耦合装置接触正常，不会影响测温。

可选地，在确定述耦合装置接触异常的情况下，生成相应的报警提示信息。

具体地，在通过上述方案确定任意一块接触面处的接触阻抗较大之后，为了避免触点之间的接触阻抗导致测温不准，可以生成报警提示信息，提示用户需要将耦合装置的触点进行擦拭，擦拭干净后再使用，或者有其他故障并进行维修。上述的报警装置可以是显示屏、扬声器或者蜂鸣器，报警提示信息可以是显示屏上显示的提示文字或者语音信息，例如，显示“耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修”，或者显示相应的故障代码，从而用户可以确定耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修，报警提示信息还可以是蜂鸣器发出的蜂鸣声，从而用户可以确定耦合装置的触点出现氧化或腐蚀，需要擦拭或维修。

可选地，在确定述耦合装置接触正常的情况下，基于第二触点对应的电压值，得到当前采样温度。

具体地，如果所有接触面处的接触阻抗均处于合理范围之内，如果在合理范围之内，则可以通过第一触点对应的电压值计算出当前采样温度。

图5是根据本发明实施例的一种可选的耦合装置的检测方法的流程图，以如图3所示的电路示意图为例进行说明，如图5所示，该方法包括如下步骤：可以设置ad_judge_1口为输入，设置ad_judge_2口为输入，以及设置ad_judge_3口为输入，并开启adc采样，通过ad_judge_1口采样得到电压v1，通过ad_judge_2口采样得到电压v2，设置一最小容许误差△v1，判断是否(v2-v1)>△v1，如果是，则提示触点异常，启动失败；如果否，则通过ad_judge_3口采样得到电压v3，设置一最小容许误差△v2，判断是否v3>△v2，如果是，则提示触点异常，启动失败；如果否，则确定触点阻抗正常，将电压v1送入单片机adc采样，获取感温模块采样温度，检测结束，进入正常测温。

实施例3

根据本发明实施例，提供了一种耦合装置的实施例。

如图1所示，耦合装置10包括：四个触点11和至少两块接触面12，其中，每块接触面同时与一个或两个触点接触。

具体地，为了避免触点阻抗带来的危害，可以对耦合装置进行改进，在本发明实施例中，以耦合装置包括：四个触点和两块接触面为例进行说明，如图2所示，耦合装置的一边设计为4个触点，分别为第一触点s1-1、第二触点s1-2、第四触点s2-1和第三触点s2-2，另外一边设计为两块整体接触面，分别为a和b，且在耦合过程中让2触点同时与一块接触面接触，例如，第一触点s1-1和第二触点s1-2与接触面a接触，第四触点s2-1和第三触点s2-2与接触面b接触。

在与同一块接触面接触的2个触点中，1个触点的连接用于构成原先测温回路，另1个触点用于构成接触阻抗的检测回路，两个回路均与控制器连接。正常情况下，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗近似为0，2个触点的电压近似相同。而当触点出现氧化或腐蚀时，与同一块接触面接触的2个触点之间的接触阻抗较大，2个触点的电压差异较大。

在本发明实施例中，通过对耦合装置进行改进，设置四个触点，每块接触面同时与一个或两个触点接触，检测装置的每端通过至少一块接触面与两个触点连接，控制器的三个采样端分别与三个触点连接，通过采集三个采样端采集到的电压值，可以确定耦合装置是否接触正常，从而实现了对耦合装置的触点是否被氧化或腐蚀进行检测，避免由于引入接触阻抗导致测温模块所测数据偏差，导致整机工作出现异常，达到了提升测温数据的准确度，提升烹饪器具的安全性，提升用户体验感和好感度的技术效果，进而解决了相关技术中耦合装置的触点被氧化或腐蚀，导致测温数据误差较大的技术问题。

实施例4

根据本发明实施例，提供了一种烹饪器具的实施例，包括：上述的耦合装置的检测电路。

具体地，上述的烹饪器具可以是具有加热功能的烹饪器具，例如可以是电压力锅、电饭锅、电磁炉、料理机等。可选地，本发明实施例中，烹饪器具为电压力锅。

实施例5

根据本发明实施例，提供了一种存储介质的实施例，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行上述实施例2中的耦合装置的检测方法。

实施例6

根据本发明实施例，提供了一种处理器的实施例，处理器用于运行程序，其中，程序运行时执行上述实施例2中的耦合装置的检测方法。

上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。

在本发明的上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的技术内容，可通过其它的方式实现。其中，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如所述单元的划分，可以为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，单元或模块的间接耦合或通信连接，可以是电性或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：u盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。