涂层检测方法、装置以及计算机存储介质与流程

本发明涉及涂层检测领域，尤其涉及一种涂层检测方法、装置以及计算机存储介质。

背景技术：

涂层质量是否符合标准，对于产品质量起到至关重要的影响。

现有技术中，通常采用解剖涂层的方式检测涂层质量，专业人员通过解剖得到的涂层判断涂层质量是否符合标准。

然而，解剖涂层通常会对涂层产生一定损耗，可能导致产品因涂层的损耗而报废。

技术实现要素：

本发明解决的技术问题是涂层检测对涂层本身产生损耗。

为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种涂层检测方法，包括：令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

可选的，所述标准曲线偏差范围为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

可选的，从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

可选的，记录所述样本超声波的数据信息。

本发明还提供一种涂层检测装置，包括：发送单元，用于令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；接收单元，用于获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；生成单元，用于根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；对比单元，根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，用于将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，所述生成单元，还用于根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

可选的，所述标准曲线偏差范围为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

可选的，所述对比单元，还用于从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

可选的，还用于若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

可选的，所述对比单元，还用于记录所述样本超声波的数据信息。

本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

本发明还提供一种涂层检测装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时所述处理器执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：

通过向涂层发射超声波，接收涂层反射的超声波并生成对应的衰减曲线，由于符合标准的涂层的属性是相似的，因此通过衰减曲线的波形可以判断涂层是否合格。采用上述方案，避免了对涂层的损耗，实现无损检测涂层状态。

进一步，通过使用预设的标准曲线偏差范围与衰减曲线进行比对，可以实现机器对涂层状态的自动判断，节省大量时间，避免了人为判断而产生的误差，同时也节约了人力成本。

附图说明

图1是本发明实施例提供的涂层检测方法的流程示意图；

图2是本发明实施例提供的涂层检测装置的结构示意图。

具体实施方式

现有技术中，通常采用解剖涂层的方式检测涂层质量，专业人员通过解剖得到的涂层判断涂层质量是否符合标准。

然而，解剖涂层通常会对涂层产生一定损耗，可能导致产品因涂层的损耗而报废。此外，还需要专业人员对涂层进行检测。采用现有的涂层检测方法，由于检测结果因人而异，因此容易产生误差，并且人工成本较高。

通过向涂层发射超声波，接收涂层反射的超声波并生成对应的衰减曲线，由于符合标准的涂层的属性是相似的，因此通过衰减曲线的波形可以判断涂层是否合格。采用上述方案，避免了对涂层的损耗，实现无损检测涂层状态。并且，由于无需通过专业人员对解剖的涂层进行分析，因此检测结果的精度较高，且人工成本较低。

为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。

参阅图1，其为本发明实施例提供的涂层检测方法的流程示意图，包括具体步骤，其中：

步骤s101，令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波。

在具体实施中，涂层可以是涂料施涂于金属，织物，塑料所得到的固态连续膜，例如涂胶。

在具体实施中，待测涂层设置于材料的间隔之中。

在具体实施中，为了保证检测超声波避免受到外界的干扰，可以尽量贴近待测涂层发送检测超声波。

步骤s102，获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波。

在具体实施中，由于超声波波形的变化可以反映物质的属性，因此，在检测超声波射向待测涂层后，可以得到反射产生的样本超声波。根据反射产生的样本超声波的波形可以反映待测涂层的物质属性，进而判断待测涂层的属性是否符合要求。

在具体实施中，为了保证样本超声波可以避免受到外界的干扰，可以尽量贴近待测涂层接收样本超声波。

在具体实施中，本发明所提供的涂层检测方法，使用单一超声波传感器完成发送超声波以及接受待测涂层反馈的样本超声波的工作。

步骤s103，根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线。

在具体实施中，在接收所述样本超声波后，可以使用对应的超声波波形软件生成与样本超声波对应的衰减曲线。

在具体实施中，可以根据预设的基准坐标系，读取样本超声波的衰减曲线对应的波峰的横坐标与纵坐标。将所述衰减曲线描绘于坐标系中，更加直观的体现出所述样本超声波的衰减曲线，同时也更易于判断所述衰减曲线反映的涂层的物质属性是否符合标准。

在具体实施中，由于所述样本超声波的衰减曲线的波形具有一定规律，可以通过读取预设数量的波峰形成的衰减曲线判断待测涂层的物质属性是否符合标准，读取的波峰可以由用户根据实际情况设定。

步骤s104，根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

在具体实施中，样本超声波的衰减曲线若处于标准曲线偏差范围内，可以判定所述待测涂层合格；反之，样本超声波的衰减曲线不处于或不完全处于预设的标准曲线偏差范围内，可以判定所述待测涂层不合格。

在具体实施中，不同的待测涂层种类、不同的涂层所述依附的材料，对应的标准曲线偏差范围均不同。因此，在进行涂层检测时，可以根据待测涂层的属性或者种类，以及待测涂层所依附的材料的属性或者种类，确定对应的标准曲线偏差范围。

由此可见，通过超声波判定待测涂层是否合格，避免了因解剖涂层而对涂层产生的损耗。

在具体实施中，由于预设了标准曲线偏差范围，因此可以由机器直接进行对比与判定，无需专业人员的人工判定，在省去了人工成本的同时，也提升了检测结果的客观性与准确性。

在具体实施中，标准曲线偏差范围可以由用户根据实际情况设定。

本发明实施例中，根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线，包括：根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

在具体实施中，为了可以更加直观的体现样本超声波的衰减曲线的特性，可以将其表现在预设的基准坐标系上。同时，统一了数据的标准，一方面易于记录样本超声波的衰减曲线对应的相关数据信息，另一方面可以将不同曲线的数据进行对比。

在具体实施中，基准坐标系可以由用户根据实际情况设定。

本发明实施例中，所述标准曲线偏差范围为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

在具体实施中，标准曲线偏差范围的上限可以是标准曲线数据库中，多条合格的样本超声波的衰减曲线中，波峰纵坐标绝对值最大的衰减曲线；标准曲线偏差的下限可以是标准曲线数据库中，多条合格的样本超声波的衰减曲线中，波峰纵坐标绝对值最小的衰减曲线。两条曲线之间的范围可以是标准曲线偏差范围。

在具体实施中，通过根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，即可从标准曲线数据库中调取相应的标准曲线偏差范围。

在具体实施中，标准曲线偏差范围可以由用户根据实际情况设定。

本发明实施例中，判定待测涂层是否合格的方式可以是，从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

在具体实施中，选取的样本波峰的数量可以由用户根据实际情况设定，可以为7～8个。

在具体实施中，将选取的样本波峰与标准曲线偏差范围进行比对，由样本波峰处于标准曲线偏差范围的数量判断待测涂层是否合格，具体数量标准可以由用户根据实际情况设定。

本发明实施例中，若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

在具体实施中预设阀值可以由用户根据实际情况设定，可以是当样本波峰全部落在所述标准曲线偏差范围内，判定待测涂层合格。

本发明实施例中，在完成待测涂层的合格判定之后，记录所述样本超声波的数据信息。

在具体实施中，可以记录的内容包括，所述样本超声波的衰减曲线的各个波峰对应在基准坐标系上的纵坐标与横坐标，所述样本超声波对应的待测涂层是否合格等信息。以便于随时查询。

参阅图2，其为本发明实施例提供的涂层检测装置20的结构示意图，其中具体包括：

发送单元201，用于令超声波传感器向设置于材料间隔内的待测涂层发送检测超声波；

接收单元202，用于获取所述超声波传感器接收的所述待测涂层反馈的样本超声波；

生成单元203，用于根据所述样本超声波生成所述样本超声波的衰减曲线；

对比单元204，用于根据所述材料以及所述待测涂层确定标准曲线偏差范围，将所述样本超声波的衰减曲线与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

本发明实施例中，所述生成单元203，还可以用于根据所述样本超声波的波峰在预设的基准坐标系上对应的横坐标以及纵坐标，生成所述样本超声波的衰减曲线。

本发明实施例中，所述标准曲线偏差范围可以为：根据所述材料的属性以及所述待测涂层的属性，从标准曲线数据库中确定的波峰最大值曲线与波峰最小值曲线之间的范围。

本发明实施例中，所述对比单元204，还可以用于从所述样本超声波的衰减曲线选取预设数量的样本波峰；将所述样本波峰与所述标准曲线偏差范围进行对比，判断所述待测涂层是否合格。

本发明实施例中，所述对比单元204，还可以用于若落在所述标准曲线偏差范围内的波峰数量超过预设阀值，判定所述待测涂层合格。

本发明实施例中，所述对比单元204，还可以用于记录所述样本超声波的数据信息。

本发明实施例中还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

本发明实施例中还提供一种涂层检测装置，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机指令，所述计算机指令运行时所述处理器执行上述任一种的涂层检测方法的步骤。

本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指示相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：rom、ram、磁盘或光盘等。

虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。