本实用新型涉及光纤余长测量技术领域，具体地说是一种光纤余长测量装置。
背景技术：
光缆是光通信行业的主要媒介，而松套管是光缆的重要组成部分，为保证光缆具有抗拉性能，光缆松套管中的光纤应具有一定范围的余长。使光缆在受到外拉力时，光纤不至于先受力，能够承受一定范围的抗拉能力。因此余长是光缆制造过程中的最重要参数之一。
而目前测量松套管余长的方法都采用人工方式，利用人工拉直松套管截断后再抽出光纤进行测量，这种方式人为因素过多，使测量出的余长结果存在较大的误差。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种光纤余长测量装置，用于解决精确测量光纤余长的技术问题。
本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是：
一种光纤余长测量装置，包括测量台、位于测量台上用于固定被测松套管左端的左端压紧夹具、位于滑动模块上用于固定松套管右端的右端压紧夹具，所述的滑动模块可滑动的位于所述测量台上；测量台上设有用于测量松套管长度和光纤长度的刻度尺。
进一步的，所述测量台上设有测量轨道，所述滑动模块可滑动的安装在测量轨道上。
进一步的，所述测量台上还设有用于切割松套管左端的左截刀组件，以及切割松套管右端的右截刀组件。
进一步的，所述左截刀组件和右截刀组件采用电控刀具，并通过同一开关控制。
实用新型内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是实用新型所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：
(1)本测量装置结构简单，操作方便，测量精度高。
(2)本测量装置测量方法，简单易操作；极大的消除了人为因素造成的错误，能够较为精确的测量光纤余长。
附图说明
图1为本实用新型实施例的中测量装置的整体结构示意图；
图2为本实用新型实施例中松套管的结构示意图；
图中：1.测量台；2.左端压紧夹具；3.右端压紧夹具；4.左截刀组件；5.右截刀组件；6.滑动模块；7.刻度尺；8.松套管；9.光纤；10.测量移动导轨。
具体实施方式
为了能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本实用新型进行详细阐述。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本实用新型省略了对公知组件和技术描述以避免不必要地限制本实用新型。
如图1和图2所示，一种光纤余长测量装置，包括测量台1、左端压紧夹具2、右端压紧夹具3、左截刀组件4、右截刀组件5、滑动模块6和刻度尺7。
所述测量台1主要用于安装其它测量部件，以及放置被测松套管8；测量台1上设有测量移动导轨10，所述滑动模块6的底端可滑动的安装在所述的测量移动导轨10上。所述刻度尺7用于测量被测松套管8的长度以及松套管8内部光纤9的长度，刻度尺7安装在测量台1上，并位于所述测量移动导轨10的一侧，与测量移动导轨10平行设置。所述左端压紧夹具2安装在测量台1的左端，用于压紧被测松套管8的左端；所述右端压紧夹具3安装在所述滑动模块6上，用于压紧被测松套管8的右端以及压紧松套管8内被测光纤9的右端。所述的左截刀组件4安装在所述测量台1上，并位于所述左截刀组件4的内侧；所述右截刀组件5安装在所述测量台1上，并位于所述滑动模块6的内侧；左截刀组件4和右截刀组件5分别用于在左右两端切割被测松套管8。
优选的，所述左截刀组件4和右截刀组件5采用电控刀具，通过控制开关可以实现左截刀组件4和右截刀组件5同时对被测松套管8切割。
本测量装置结构简单，操作方便，测量精度高。
一种光纤余长测量方法：
(1)用左端压紧夹具2固定松套管8的左部，用右端压紧夹具3固定松套管8的右部；
(2)使滑动模块6向右端移动，施加张力，使所述松套管8拉直；
(3)采用左截刀组件4和右截刀组件5，分别对被拉直松套管8的两端切割，形成左右两端切割标记；
(4)通过刻度尺7读取被切割松套管8左右两端切割之间的长度为a；
(5)然后右端压紧夹具3松开对松套管8右端的固定，采用刀具从松套管8右端切割标记处，向松套管8左端环切剥除松套管8外皮，露出光纤9；优选的，松套管8被剥除外皮长度为50mm；
(6)采用右端压紧夹具3再次固定松套管8的右端；
(7)使滑动模块6继续向右移动，施加张力，将松套管8左右两端切割标记之间内的光纤9拉直；
(8)通过刻度尺7读取拉直后光纤9的长度为β；
(9)那么松套管8中的光纤9余长Z为：Z＝(β-α)/α。
本测量方法，简单易操作；极大的消除了人为因素造成的错误，能够较为精确的测量光纤余长。
除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式进行了描述，但并非对本实用新型保护范围的限制，在本实用新型技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性的劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围内。