一种展平夹具的制作方法

本实用新型属于电子元器件测试领域技术领域，尤其涉及一种展平夹具。

背景技术：

目前，在FPC与显示屏幕之间的接触点的进行测试时，由于FPC比较软，产品平整度低，会造成测试不良，从而导致了测试效率低。

以上不足，有待改进。

技术实现要素：

为了克服现有的技术的不足,本实用新型提供一种展平夹具。

本实用新型技术方案如下所述：

一种展平夹具，包括夹具主体，所述夹具主体包括用于放置测试板的下模、用于压住测试板的上模，所述下模设于所述上模的下方，所述上模设有孔洞，所述孔洞内设有压棒，所述压棒穿过所述孔洞并与所述上模连接，所述压棒伸出所述上模的底部，所述压棒的数量为多个，多个所述压棒伸出所述上模的底部的长度由高至低向同一个方向依次设置，所述上模压合所述下模，由高至低依次设置的所述压棒逐渐展平所述测试板，所述压棒为弹簧针。

进一步地，所述压棒的数量为三个，三个所述压棒呈高中低依次设置，呈高中低设置的所述压棒依次展平所述测试板。

进一步地，所述上模包括第一上模板、第二上模板、第三上模板、第四上模板及第五上模板，所述第一上模板、所述第二上模板、所述第三上模板、所述第四上模板及所述第五上模板由下至上依次连接，所述第一上模板和所述第二上模板均设有所述孔洞，所述压棒与所述第一上模板和所述第二上模板均相连，所述压棒伸出所述第一上模板。

进一步地，所述压棒包括第一连接部和第二连接部，所述第一连接部与所述第一上模板连接，所述第二连接部与所述第二上模板连接。

进一步地，所述第一连接部与所述第一上模板挤压连接。

进一步地，所述第二连接部与所述第二上模板挤压连接。

根据上述方案的本实用新型，其有益效果在于：本实用新型提供的展平夹具，上模由高至低依次设置的压棒，可以在上模与下模压合时，将放置在下模上的测试板逐渐展平，避免了测试板在展平的过程中造成的变形及损坏，提高了测试板与测试转换板的接触连接的准确性，进而提高了产品的测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的爆炸结构示意图；

图2为本实用新型的销钉结构示意图。

其中，图中各附图标记：

1-夹具主体；

11-下模；12-上模；121-孔洞；122-压棒；

123-第一上模板；124-第二上模板；125-第三上模板；126-第四上模板；127-第五上模板；

1221-第一连接部；1222-第二连接部。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

需要说明的是，当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。

请参阅图1至图2，一种展平夹具，包括夹具主体1，夹具主体1包括用于放置测试板(图中未示出，下同)的下模11、用于压住测试板的上模12，下模11设于上模12的下方，上模 12设有孔洞121，孔洞121内设有压棒122，压棒122穿过孔洞121并与上模12连接，压棒 122伸出上模12的底部，压棒122的数量为多个，多个压棒122伸出上模12的底部的长度由高至低向同一个方向依次设置，所述上模压合所述下模，由高至低依次设置的压棒122逐渐展平测试板，压棒122为弹簧针。

本实施例提供的展平夹具的工作原理如下：在上模12的底部设有多个压棒122，且多个压棒122伸出上模12底部的长度由高至低向同一方向依次设置，上模12与下模11压合时，伸出上模12底部的压棒122，由高至低依次设置的压棒122逐渐展平测试板；由于压棒122 为弹簧针，上模12与下模11压合时，弹簧针产生弹性形变，上模12与下模11压合后，多个压棒122与下模11处于同一个水平面。

本实施例提供的展平夹具的有益效果为：本实用新型提供的展平夹具，上模由高至低依次设置的压棒122，可以在上模12与下模11压合时，将放置在下模11上的测试板逐渐展平，避免了测试板在展平的过程中造成的变形及损坏，提高了测试板与测试转换板的接触连接的准确性，进而提高了产品的测试效率。

优选地，压棒122的数量为三个，三个压棒122呈高中低依次设置，呈高中低设置的压棒122依次展平测试板。压棒122展平测试板时，呈高中低依次设置的压棒122依次展平测试板，这样设置更好的保护了测试板免被损坏，并提高了测试板与测试转换板的接触连接的准确性，进而提高了产品的测试效率。

优选地，上模12包括第一上模板123、第二上模板124、第三上模板125、第四上模板 126及第五上模板127，第一上模板123、第二上模板124、第三上模板125、第四上模板126 及第五上模板127由下至上依次连接，第一上模板123和第二上模板124均设有孔洞121，压棒122与第一上模板123和第二上模板124均相连，压棒122伸出第一上模板123。这样设置使得压棒122与上模12连接结构简单。

优选地，压棒122包括第一连接部1221和第二连接部1222，第一连接部1221与第一上模板123连接，第二连接部1222与第二上模板124连接。这样设置使得压棒122与上模12 连接结构简单。

优选地，第一连接部1221与第一上模板123挤压连接。这样设置使得压棒122与上模 12连接牢固，且方便拆装。

优选地，第二连接部1222与第二上模板124挤压连接。这样设置使得压棒122与上模 12连接牢固，且方便拆装。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。