技术总结
本实用新型属于机械装备可靠性与寿命测试技术领域，本实用新型涉及一种用于密封圈老化寿命试验的测试装置，其包括上板、下板和塞圈，塞圈包括第一塞圈和第二塞圈，上板的第一表面上设置有第一沟槽和定位孔，下板的第一表面上设置有第二沟槽和定位销，定位销与上板上的定位孔相互配合，第一沟槽的宽度与第二沟槽的宽度相等，在第二沟槽的第一侧壁设置第一塞圈且第二侧壁上设置第二塞圈，第一塞圈的直径小于第二塞圈的直径，上板和下板上分别设置定位角，上板设置有观察口，观察口沿着第一沟槽的直径方向设置，观察口沿着第一沟槽直径方向的尺寸大于第一沟槽的宽度，上板的第一沟槽内设置均匀分布的测试孔。
技术研发人员：孙岗;滕明;陈允;崔博源;边智;韩占杰;孟理华;黄爽
受保护的技术使用者：中国航空综合技术研究所;国家电网有限公司;中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院
技术研发日：2018.06.26
技术公布日：2019.01.22