一种SF6低湿快速测量的光程池的制作方法

本实用新型涉及气体检测领域，具体是一种SF6低湿快速测量的光程池。

背景技术：

六氟化硫(SF6)气体作为优良的绝缘介质和灭弧介质，被广泛的应用于六氟化硫气体绝缘断路器、GIS、变压器、互感器、电力电缆等各种电气设备中。目前国内超高压输变电工程中所采用的断路器几乎全是SF6开关设备,但是,这类设备的性能与其绝缘介质SF6气体的质量关系很大,尤其以气体含水量影响最大。因此,SF6电气设备中的气体含水量,是监督设备安全运行的一项重要指标。SF6气体中水份含量过高,不仅会降低设备的绝缘能力,而且会对设备产生化学腐蚀。同时水份的存在对设备来说,经电弧分解而产生的有害物质将增多,因此，对于SF6气体中微量水份必须进行严格监测和控制。

由于SF6气体中水份含量是影响设备安全运行的一个重要指标,因此,各国都对SF6气体含水量情况特别重视，并制定了相应的微水指标,作为判断气体质量以及设备正常运行监督的依据

但是在传统的方法中，介质中水份的测量，无论是测量原理还是从实际的运行状况中，都存在对其分析结果的干扰和精确度较差的问题，从而造成测量误差。

技术实现要素：

针对以上不足点，本实用新型的目的就是提供一种SF6低湿快速测量的光程池，可快捷探测气体SF6中的水分的浓度等信息。

本实用新型的目的是通过这样的技术方案实现的，一种SF6低湿快速测量的光程池，它包括有激光电气盒、封闭的气室、平面镜和凹面镜，所述气室上设置有进气端和出气端，所述气室内部设置有相对的平面镜和凹面镜，所述激光电气盒设置在气室外一端，所述激光电气盒设置有激光入射端和激光出射端，所述激光入射端和激光出射端通过光纤与气室连接。

进一步，所述气室还设置有干燥器，所述气室的上端面由第一盖板和第二盖板固接构成，所述第一盖板设置有安装口，所述干燥器位于所述安装口处，所述第二盖板设置有用于干燥器滑动的开口，所述第二盖板位于开口处还设置有若干个通孔，所述干燥器底端固接滑动板，所述滑动板与所述开口滑动配合，所述滑动板上设置有用于与通孔配合使用的干燥孔。

进一步，所述安装口的外缘处设置有第一密封圈，所述通孔的外缘处设置有第二密封圈，所述干燥器的底座设置有第三密封圈。

进一步，所述激光电气盒包括探测器和激光器，所述激光入射端设置有用于向气室射入激光的激光器，所述激光出射端设置有用于接受处理激光的探测器。

进一步，所述激光器的光源为可调谐半导体激光光源。

进一步，所述探测器还配置有信号放大器，所述探测器与所述信号放大器电连接。

进一步，所述气室为扁平状，所述平面镜和凹面镜位于气室内部的两端，所述平面镜位于激光电气盒的一端。

由于采用了上述技术方案，本实用新型具有如下的优点：通过气室上设置有进气端和出气端，所述气室内部设置有相对的平面镜和凹面镜，所述激光电气盒设置在气室外一端，所述激光电气盒设置有激光入射端和激光出射端，所述激光入射端和激光出射端通过光纤与气室连接。通过激光器入射至气室内，在经过多次反射，根据可调谐半导体激光器的窄线宽和波长随注入电流改变的特性实现对分子的单个吸收线进行测量；具有可应用于各类强腐蚀性测量环境；可在高温、高压环境下测量，不受背景气体、粉尘及光学视窗污染干扰。

本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说明书和权利要求书来实现和获得。

附图说明

本实用新型的附图说明如下。

图1为SF6低湿快速测量的光程池的结构示意图。

图2为图1的俯视结构示意图。

图3为图1的左视结构示意图。

图4为图1A处的局部放大结构示意图。

图5为SF6低湿快速测量的光程池的立体结构示意图。

图6为SF6低湿快速测量的光程池的剖视结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

如图1至图6所示，一种SF6低湿快速测量的光程池，包括有激光电气盒1、封闭的气室9、平面镜13和凹面镜7，所述气室上设置有进气端5和出气端6，所述气室内部设置有相对的平面镜13和凹面镜7，所述激光电气盒1设置在气室9外一端，所述激光电气盒1设置有激光入射端12和激光出射端11，所述激光入射端12和激光出射端11通过光纤与气室9连接。所述气室9为扁平状，所述平面镜13和凹面镜7位于气室9内部的两端，所述平面镜13位于激光电气盒1的一端。本实用新型的气室9为开口盒体上加设第一盖板401和第二盖板402，第一盖板401、第二盖板402和盒体均为铝合金材质。激光探测光路由激光光源、探测器构成。激光光源采用可调谐半导体激光光源。激光光源通过光纤入射到封闭气室，再经过凹面镜7和平面镜13的多次反射，反射到出射端的光纤上，探测器将待测光信号变成电信号，然后信号被采集进入信号及显示系统，进行处理、分析、存储和显示等操作。反射光路是凹面镜7和平面镜13构成，使激光光源发出的探测光线经过多次反射，从而增加探测光束和待测气体之间的相互作用距离，可以提高检测精度，并经过出射端的光纤连接到探测器上

所述气室9还设置有干燥器3，所述气室的上端面由第一盖板401和第二盖板402固接构成，所述第一盖板401设置有安装口2，所述干燥器3位于所述安装口2处，所述第二盖板402设置有用于干燥器3滑动的开口10，所述第二盖板位于开口10处还设置有若干个通孔14，所述干燥器3底端固接滑动板15，所述滑动板15与所述开口10滑动配合，所述滑动板15上设置有用于与通孔14配合使用的干燥孔16。本实用新型用干燥器干燥密闭气室，而且干燥器和密闭气室可以选择开通和关闭两种状态，非工作状态时，干燥孔16与通孔14连通，干燥器3和密闭气室9被打开，干燥器3吸收气室9内多余水分，并保证气室9的干净状态。从而排除外界和气室内部水分的干扰；分析状态时，干燥孔16与通孔14错开，干燥器3和密闭气室9是关闭状态，这样待测气体的水分也不会受影响，直接被测量。

所述安装口的外缘处设置有第一密封圈801，所述通孔的外缘处设置有第二密封圈802，所述干燥器3的底座设置有第三密封圈803。起到密封气室的作用，保证干燥器通过滑动切换工作状态时，保证气室密闭。

所述激光电气盒1包括探测器和激光器，所述激光入射端设置有用于向气室射入激光的激光器，所述激光出射端设置有用于接受处理激光的探测器。所述探测器还配置有信号放大器，所述探测器与所述信号放大器电连接。

工作原理及其应用：由激光器发出的光线，经过激光入射端12，投射到凹面镜7上，经过平面镜13的多次反射，并与进入到干燥气室9的SF6的气体充分的接触作用，最后经过激光出射端面的光纤，光线被反射到探测器上，探测器再将收到的待测光信号变成电信号，再通过信号放大器处理，并经过A/D转换之后，进行二次谐波处理，得到待探测气体SF6中的水分的浓度等信息，并将这些探测数据显示在显示屏上。本实用新型主要是利用可调谐半导体激光器的窄线宽和波长随注入电流改变的特性实现对分子的单个吸收线进行测量，具有可应用于各类强腐蚀性测量环境；可在高温、高压环境下测量，不受背景气体、粉尘及光学视窗污染干扰。可实现良好的灵敏度、较宽的检测范围和高速的数据获取功能，并同时具备交叉敏感度小、可靠性和稳定性高、使用寿命长等特点，适合科研和电力系统等领域SF6开关设备水分的测量，从而实现电力设备的安全运行，具有巨大的经济效益和社会效益。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。