1.一种基于光参量放大的光学元件损伤检测装置，其特征在于：所述的检测装置分为泵浦光光路和信号光光路两部分；在泵浦光入射方向上，依次放置延迟器（1）和非线性晶体C1（2）；泵浦光经过延迟器（1）后垂直入射到非线性晶体C1（2）中；在信号光入射方向上，放置被测样品S1（3）；信号光在通过被测样品S1（3）的后表面损伤点时发生散射；在散射光光路内，放置正透镜Ⅰ（4）；正透镜Ⅰ（4）对被测样品S1（3）进行成像，并将散射光变为平行光，同时按相位匹配角入射到非线性晶体C1（2）内；泵浦光与信号光在非线性晶体C1（2）内产生光放大信号；在放大信号出射方向上依次放置正透镜Ⅱ（5）和接收CCD（6）；正透镜Ⅱ（5）作用是将平行光进行会聚，并将正透镜Ⅰ（4）对被测样品S1（3）成的像传递到接收CCD（6）上；所述的接收CCD（6）外接计算机，来自接收CCD（6）的信号最后进入计算机进行数据处理。
2.根据权利要求1所述的基于光参量放大的光学元件损伤检测装置，其特征在于：所述的非线性晶体C1（2）采用90°非共线Ⅰ类相位匹配，根据入射激光波长选用非线性晶体，所述的非线性晶体包括BBO、KDP、LBO。
3.根据权利要求1所述的基于光参量放大的光学元件损伤检测装置，其特征在于：所述的延迟器（1）包括反射镜Ⅰ（101）和反射镜Ⅱ（102），反射镜Ⅰ（101）与泵浦光入射方向呈45°，反射镜Ⅱ（102）与经反射镜Ⅰ（101）反射后的反射光呈45°。