通电迁移测试治具的制作方法

本实用新型涉及产品测试领域，尤其是涉及一种通电迁移测试治具。

背景技术：

传统的在对电容屏等产品做迁移测试时，普遍使用专用的迁移测试转接板，在转接板上焊接对应的针(pin)数的专用连接器，接触电源的不同电压连接端。这类专用的迁移测试转接板的泛用性不强，而且连接器反复插拔后会容易出现损坏，损坏后修复起来也比较麻烦。此外，还有对产品的FPC端口处的金手指进行一一焊线来引出与电源连接的方式，该测试方式也比较繁琐，耗时耗力，而且存在虚焊的问题，影响测试过程的稳定性和测试结果的可靠性。

技术实现要素：

基于此，针对上述技术问题，有必要提供一种使用简便地通电迁移测试治具。

本是实用新型解决上述技术问题的技术方案如下。

一种通电迁移测试治具，包括基板、调节杆以及压板；所述基板具有测试区，所述测试区设有用于在测试时与待测试产品的金手指连接端接触电连接的多个导电条；所述调节杆与所述基板活动连接，所述调节杆与所述压板连接以用于带动所述压板朝向或远离所述测试区运动；所述压板与所述基板的测试区位置对应。

在其中一个实施例中，所述导电条凸出于所述基板的测试区表面。

在其中一个实施例中，所述通电迁移测试治具还包括第一连接线和第二连接线，所述第一连接线与所述第二连接线分别用于连接电源的不同电压接口，任意相邻的两个导电条中的一个与所述第一连接线电连接，另一个与所述第二连接线电连接。

在其中一个实施例中，所述基板为内部设有走线的PCB板，与所述第一连接线电连接的多个导电条是通过基板内部的走线汇在一起后与所述第一连接线电连接，与所述第二连接线电连接的多个导电条也是通过基板内部的走线汇在一起后与所述第二连接线电连接。

在其中一个实施例中，所述压板朝向所述基板的测试区的表面设有缓冲垫。

在其中一个实施例中，所述调节杆包括手柄杆和连接杆，所述手柄杆与所述连接杆分别铰接在所述基板上，所述手柄杆的一端与所述连接杆的一端传动连接，所述连接杆与所述压板固定连接，拨动所述手柄杆能够带动所述连接杆转动进而带动所述压板靠近或远离所述基板的测试区。

在其中一个实施例中，所述手柄杆与所述连接杆传动连接的端部共同铰接在所述基板上。

在其中一个实施例中，所述通电迁移测试治具还包括固定座，所述固定座固定安装在所述基板上，所述固定座上设有铰接座，所述手柄杆与所述连接杆通过同一转轴活动铰接在所述铰接座上。

在其中一个实施例中，所述基板上还设有定位件。

在其中一个实施例中，所述定位件对应多个导电条的中部位置的导电条设置。

上述通电迁移测试治具在使用时，可直接将待测试产品的金手指连接端置于基板的测试区与压板之间，并与基板上的导电条对应，通过拨动调节杆，可带动压板朝向基板的测试区运动，将金手指连接端抵接在基板的测试区以与导电条接触电连接，通过对导电条通电即可对待测试产品进行迁移测试。该通电迁移测试治具在测试使用时，无需制作专用连接器或焊接连接线，使用方便，且在测试使用时，无需插拔待测试产品的金手指连接端，因而对待测试产品的损伤小，而通过压板将金手指连接端抵接在基板的测试区与导电条接触电连接，接触稳定性好，有利于提高测试结果的准确性和可靠性。

附图说明

图1为一实施例的通电迁移测试治具的俯视图；

图2为图1所示通电迁移测试治具的一状态的侧视图；

图3为图1所示通电迁移测试治具的另一状态的侧视图；

图4为使用多个图1所示的通电迁移测试治具对待测试产品进行测试的俯视图；

图5为图4所示通电迁移测试治具在测试时与金手指连接端连接的俯视图；

图6为图4所示通电迁移测试治具在测试时与金手指连接端连接的侧视图。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”、“铰接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

如图1、图2和图3所示，一实施例的通电迁移测试治具10，包括基板100、调节杆200以及压板300。

基板100可以是通用性的PCB板或其他板，可以是单层板，也可以是多层板。请结合图4、图5和图6，基板100具有测试区102。测试区102设有用于在测试时与待测试产品20的金手指连接端22接触电连接的多个导电条110。

导电条110可以是各类导电材料制作的长条形结构，如金手指结构等。优选地，导电条110稍凸出于基板100的测试区102的表面，这样可以与金手指连接端22形成更为有效的接触式电连接。

导电条110的数量有多个，多个导电条110在基板100上成排设置。导电条110的数量不能小于待测试产品20的金手指连接端22的金手指的pin脚数，在一个实施例中，导电条110的数量不小于80个。导电条110的数量在允许的情况下可尽量多，这样可以适配不同型号和尺寸的具有不同金手指pin脚数的待测试产品20，增强该通电迁移测试治具10的适用性。

本实施例的通电迁移测试治具10进一步还包括第一连接线120和第二连接线130。第一连接线120与第二连接线130分别用于连接电源的不同电压接口，如在图4所示的实施例中，第一连接线120用于连接电源30的30V的接口，第二连接线130用于连接电源30的0V的接口。基板100上的多个导电条110中，任意相邻的两个导电条110中的一个与第一连接线120电连接，另一个与第二连接线130电连接，即间隔的导电条110连接同一连接线。

在一个实施例中，基板100为内部设有走线的PCB板，与第一连接线120电连接的多个导电条110是通过基板100内部的走线汇在一起后与第一连接线120电连接，与第二连接线130电连接的多个导电条110也是通过基板100内部的走线汇在一起后与第二连接线130电连接。

调节杆200与基板100活动连接，即调节杆200与基板100之前能够相对运动，例如，调节杆200的两端能够相对于基板100转动。调节杆200与压板300连接以用于调节压板300朝向或远离测试区102运动。压板300与基板100的测试区102位置对应，在测试时压板300能够将待测试产品20的金手指连接端21抵接在基板100的测试区102。

具体地，在本实施例中，调节杆200包括手柄杆210和连接杆220。手柄杆210与连接杆220分别铰接在基板100上。手柄杆210的一端与连接杆220的一端传动连接。连接杆220与压板300固定连接，如压板300可设在连接杆220的另一端。拨动手柄杆210能够带动连接杆220转动进而带动压板300靠近或远离基板100的测试区102。

更具体地，请结合图2和图3，手柄杆210与连接杆220传动连接的端部可共同铰接在基板100上。在图示所示的具体实施例中，下压手柄杆210能够带动连接杆220也下压，进而带动压板300靠近测试区102，以将待测试产品20的金手指连接端21压在测试区102的导电条110上；同理，抬升手柄杆210也能够带动连接杆220固定压板300的部分抬升，带动压板300远离测试区102。具有上述联动机制的手柄杆210与连接杆220可通过各种联动方式实现，如可以通过滑杆和滑槽结构实现，具体地，如可以在连接杆220的一端设置卡槽，手柄杆210的一端插入该卡槽内，转动手柄杆210可带动连接杆220转动；又如可以通过齿轮传动实现，如可以将手柄杆210与连接杆220传动连接的端部相对设置为齿轮啮合连接等。

在图1所示的具体实施例中，该通电迁移测试治具10还进一步包括固定座400。固定座400固定安装在基板100上，如可以通过螺钉410等固定方式固定在基板100上。固定座400上设有铰接座420，手柄杆210与连接杆220通过同一转轴活动铰接在铰接座420上。

优选地，固定座400以及铰接座420对应多个导电条110的中部位置设置，这样，通过手柄杆210与连接杆220带动压板300压向测试区102时，可以对压板300均匀施力，防止因一侧施力导致施力不均匀而影响金手指连接端21与导电条110的接触电连接。

进一步，在本实施例中，压板300朝向基板100的测试区102的表面设有缓冲垫310。缓冲垫310可以是泡棉、硅胶等具有一定弹性的物体。缓冲垫310可以在压板300压向测试区102时起到缓冲压力的作用，防止压板300直接与金手指连接端21连接而将其压坏，同时还可以起到填充高度差和间隙的作用，保证金手指连接端21与测试区102的导电条110贴合时的受力均匀性。

更进一步，基板100上还可以设置定位件(图未示)。通过定位件进行导向和定位，可以保证金手指连接端21的pin脚与导电条110精准对位，避免出现pin脚与导电条110对位不准而影响测试。在一个实施例中，定位件可以是设在测试区102上的与导电条110平行的凸条结构。因压板300与连接杆220的连接位置优选位于多个导电条110的中部位置，定位件可对应多个导电条110的中部位置的导电条110设置，这样在测试时，可优先使用中部位置的导电条110来与金手指连接端21接触电连接，防止因使用靠近边缘部位的导电条100而出现压板300施力不均而导致出现接触不良的情况发生。

上述通电迁移测试治具10在使用时，可直接将待测试产品20的金手指连接端21置于基板100的测试区102与压板300之间，并与基板100上的导电条110对应，通过拨动(如下压)调节杆200，可带动压板300朝向基板100的测试区102运动，将金手指连接端21抵接在基板100的测试区102以与导电条110接触电连接，通过对导电条110通电即可对待测试产品20进行迁移测试。

如图4所示，该通电迁移测试治具10尤其适合大尺寸待测试产品20，如大尺寸多边出线的触摸屏产品，其多个侧边具有FPC引线，FPC引线的端部为金手指连接端21。该通电迁移测试治具10在测试使用时，无需制作专用连接器或焊接连接线，使用方便，且在测试使用时，无需插拔待测试产品的金手指连接端21，因而对待测试产品20的损伤小，通过压板300将金手指连接端21抵接在基板100的测试区102与导电条110接触电连接，接触稳定性好，有利于提高测试结果的准确性和可靠性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。