一种双轴测长仪的制作方法

本实用新型涉及测量设备领域，尤其是涉及一种双轴测长仪。

背景技术：

测长仪是一种既可用直接比较测量法，又可用微差比较测量法对工件进行精密测量的光学计量仪器。现在市场上的测长仪一次只能测试一个工件，在测试相同规格的工件时，只能一个个的进行测试，浪费了时间，工作效率低。

技术实现要素：

本实用新型要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，提供一种能同时测量两个相同规格工件的测长仪。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种双轴测长仪，包括测长仪本体，所述测长仪本体包括底座、工作台、测量座和尾座，所述底座上方中部有凹槽，所述工作台安装在凹槽内，所述测量座安装在凹槽左侧上方，测量座的上端固定安装测量轴，所述测量轴连接有读数显微镜，测量轴通过轴基座固定安装在测量座上，所述尾座安装在凹槽右侧上方，尾座的上端固定安装尾管，所述尾管和测量轴为两根，尾管与测量轴相对设置。

进一步，所述工作台包括工作平台、升降轴、转动手柄、摆动手柄和升降手柄，所述升降轴上端连接着工作平台，下端固定在底座内，所述工作平台下方设有升降手柄，所述升降手柄和工作平台之间设有转动手柄和摆动手柄。

进一步，所述摆动手柄控制工作平台的的左右摆动幅度为±3°。

进一步，所述转动手柄控制工作平台绕升降轴旋转角度±90°。

进一步，所述工作平台表面为凹凸状。

本实用新型的有益效果：本实用新型将测量轴和尾管都设置成两根，能同时测量相同规格的工件，节约了测量时间，提高了工作效率；同时工作平台的转动角度从以前的只能转动角度为±3°，改变成转动角度为±90°，有利于测量大尺寸或者不规则工件的最小内径或者最小尺寸；工作平台的不平整设置，有利于光滑工件的放置。

附图说明

图1—为一种测长仪装置示意图

图中：1—升降轴， 2—升降手柄，3—底座， 4—测量座，5—测量轴，

6—微分筒， 7—工作平台，8—摆动手柄，9—转动手柄，10—尾管，11—尾座，12—平衡手柄。

具体实施方式

以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。

参照图1：一种双轴测长仪，包括测长仪本体，测长仪本体包括底座3、工作台、测量座4和尾座11，底座3上方中部有凹槽，工作台安装在凹槽内，测量座4安装在凹槽左侧上方，测量座4的上端固定安装测量轴5，测量轴5安装有读数显微镜（图未示），测量轴5通过轴基座固定安装在测量座4上，尾座11安装在凹槽右侧上方，尾座11的上端固定安装尾管10，尾管10和测量轴5为均两个，尾管10与测量轴5相对设置。

工作台可以做五种运动：

工作台的升降运动：旋转升降手柄2可以使工作台上升或下降。为了保证工作台在承受不同重量的工件时，仍能同样灵活的上升或下降，在底座3右侧内装有一个平衡装置，它的操作是通过底座3右侧端的平衡手柄12来进行的。

工作台的横向移动：旋转微分筒6，可使工作台作0~25mm的横向移动。微分筒的分化值为0.01mm。

工作台的摆动：摆动手柄8可使工作台作±3°的左右倾斜摆动。

工作台的转动：转动手柄9可使工作台绕升降轴1旋转±90°。工作台的转动角度比一般的测长仪的工作台的转动角度大，是为了有利于测量大尺寸或者不规则工件的最小内径或者最小尺寸。

工作台的自由滑动：在测量轴线向上，工作台可自由滑动，滑动范围为10mm。

同时，工作台上方的工作平台7设置为凹凸状。在测量光滑的工件时，有利于工件固定放置，不会进行移动。

本实施例中，测长仪上的安装有测量座4，测量座上安装有两个测量轴5，和测量座相对设置的有尾座11，尾座上有两个尾管10。两个测量轴5和两个尾管10的组合将测长仪的测试区分为两个，两个测试区能够独立使用，也可以同时使用。在测量相同规格的工件时，可以同时使用两个测试区，这样能够提高工作效率，节省测量时间。每个测量轴5的尾端都安装有读数显微镜，每个读数显微镜上的读数只和对应的测量轴测量数据有关。两个测试区对工件的测量，无论是单独测量还是同时测量，使用的测量方法和现有测长仪的测量方法类似。现有测长仪如JD18投影万能测长仪等。