一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒的制作方法

本实用新型涉及一种对超声波探伤设备进行校准的静态校准样棒，属于超声波探伤设备技术领域。

背景技术：

随着技术的进步，无损探伤技术越来越多地应用于工业生产过程中，其安全性、可靠性、经济性决定了它的重要地位。工业生产中，对工件进行超声探伤的原理是探伤仪产生高频电脉冲施加在探头上，激励探头中的压电晶片产生振动，使之产生超声波。超声波以一定的速度向工件中传播，当遇到缺陷时，一部分声波被反射回来，另一部分声波继续向前传播，遇到工件底面后也反射回来。由缺陷及底面反射回来的声波达到探头时，又通过探头压电晶片将声振动变为电脉冲。发射波、缺陷波和底波经过仪器放大后，在仪器的荧光屏上显示出来，再通过数据分析判定缺陷是否超标。

超声探伤受探头自身差异、使用性能衰减、仪器性能变化等因素影响，需要定期对其进行静态校准，国内特钢行业执行的静态校准周期也不尽相同，有2天、一周、半月、一月等。对于探伤设备静态校准周期较短的精整线，需要快速校准，以满足产能要求。目前对棒材缺陷检测的设备是旋转超声设备，这种旋转超声设备一般由三种探头组成，即顺时针横波探头、纵波探头、逆时针横波探头，为达到高速检测目的，通常每类探头由多个晶片（通常4个）并排组成，以增加扫查螺距。在进行静态校准时需要使用静态校准样棒，现在使用的静态校准样棒中的样伤只对一个晶片具有校准功能，校准仪器时需要使用移动样棒分别校准所有晶片，校准时间长，不能适应快速检测的需要，有必要进行改进。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒，这种静态校准样棒可以实现快速检测，达到快速校准超声波设备的要求，以提高检测速度，满足生产的需要。

解决上述技术问题的技术方案是：

一种能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒，在静态校准样棒的棒体表面有三个用于校准的人工缺陷，三个人工缺陷分别是一个中心横孔和两个表面纵向刻槽，中心横孔和两个表面纵向刻槽的长度方向与静态校准样棒的中心轴线平行，两个表面纵向刻槽在静态校准样棒的长度方向上分别位于中心横孔的两端，中心横孔和两个表面纵向刻槽分别与超声波探测设备的纵波探头、横波探头的轴向位置相对，两个表面纵向刻槽在静态校准样棒的圆周方向上分别位于中心横孔的两侧，两个表面纵向刻槽分别与超声波探测设备的两个横波探头的圆周位置相对，中心横孔和两个表面纵向刻槽的面积分别覆盖超声波探测设备的纵波探头和横波探头。

上述能够进行快速校准的超声波探伤静态校准样棒，它还有一个表面环向刻槽，表面环向刻槽位于静态校准样棒插入超声波探测设备的进口端，表面环向刻槽与静态校准样棒的中心轴线垂直，表面环向刻槽的中心点与中心横孔的中心轴线重合。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型在一个静态校准样棒上设置了三个人工缺陷，三个人工缺陷分别与一个纵波探头和两个横波探头相对，可以同时对纵波探头和两个横波探头进行校准。本实用新型结构简单、操作简便、检测快速稳定，不需移动静态校准样棒，即可校准每组探头，并可同时校准每组探头内的各个晶片，实现快速校准，显著提高了检测速度，可以满足大批量生产的需要。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图中标记如下：静态校准样棒1、中心横孔2、表面纵向刻槽3、表面环向刻槽4。

具体实施方式

本实用新型由静态校准样棒1、中心横孔2、表面纵向刻槽3、表面环向刻槽4组成。

图中显示，在静态校准样棒1的棒体表面上制作了三个用于校准的人工缺陷，三个人工缺陷分别是一个中心横孔2和两个表面纵向刻槽3，中心横孔2用以校准纵波探头，表面纵向刻槽3用以校准横波探头，两个表面纵向刻槽3完全一致，以达到横波探头校准后灵敏度相同的目的。

图中显示，中心横孔2和两个表面纵向刻槽3的长度方向与静态校准样棒1的中心轴线平行，两个表面纵向刻槽3在静态校准样棒1的长度方向上分别位于中心横孔2的两端，中心横孔2和两个表面纵向刻槽3分别与超声波探测设备的纵波探头、横波探头的轴向位置相对。同时，两个表面纵向刻槽3在静态校准样棒1的圆周方向上分别位于中心横孔2的两侧，两个表面纵向刻槽3分别与超声波探测设备的两个横波探头的圆周位置相对。中心横孔2和两个表面纵向刻槽3的面积分别覆盖超声波探测设备的纵波探头和横波探头。

图中显示，表面环向刻槽4位于静态校准样棒1插入超声波探测设备的进口端，表面环向刻槽4与静态校准样棒1的中心轴线垂直，表面环向刻槽4的中心点与中心横孔2的中心轴线重合。在设备进口端（根据现场情况确定进口端或出口端）对应静态校准样棒1处标记1个表面环向刻槽4的标志点，标志点位于设备的正上方，标志点在设备的轴向与纵波探头相对。当标志点处于设备的正上方时，纵波探头也处于设备正上方，这时静态校准样棒1上的两个表面纵向刻槽3与两个个横波探头在圆周方向上相对应。

本实用新型的使用操作步骤如下：

a．更换对应静态校准样棒1规格的导套，调整探头水程位置，将纵波探头置于正上方。

b．开启旋转超声耦合水以及检测软件，做好相关准备工作。

c．将专用静态校准样棒1穿入旋转超声设备，将表面环向刻槽4对准设备进口端正上方，此时静态校准样棒1上的三个人工缺陷分别与三个探头在轴向位置对应，两个表面纵向刻槽3与两个横波探头周向位置对应。

d．手动校准：微微转动静态校准样棒1，人工调整增益逐个校准三个探头。

e．自动校准：启动超声设备旋转探头，使用软件自动调整增益校准三个探头。

本实用新型与其它校准方法相比，具有结构简单、人工缺陷能够准确定位并同时校准一组探头、不需移动静态校准样棒达到快速校准、适用范围广的特点。