一种雷达射频单元综合测试系统的制作方法

文档序号:18217319发布日期:2019-07-19 22:44阅读:337来源:国知局
一种雷达射频单元综合测试系统的制作方法

本实用新型涉及的是一种雷达射频单元综合测试系统,属于设备性能测试技术领域。



背景技术:

射频单元是雷达组件的一部分,射频单元在投入使用前,均需要对射频单元进行测试,为射频单元提供电源、激励信号、工作模式控制,最后验证射频单元的性能是否合格。



技术实现要素:

本发明创造所要解决的技术问题是如何对雷达射频单元进行自动、综合测试,并评估雷达射频单元是否合格的技术问题。

本发明创造的技术方案:一种雷达射频单元综合测试系统,其特征在于包括测试平台1、脉冲信号源2、微波信号源3、定向耦合器4、衰减器5、开关矩阵测试台6、第一脉冲功率计7、第二脉冲功率计8和电源9,测试平台1通过GPIB总线分别与脉冲信号源2、微波信号源3、电源9和第二脉冲功率计8连接;脉冲信号源2、微波信号源3、定向耦合器4和射频单元10依次连接,定向耦合器4的耦合口接入第一脉冲功率计7,射频单元10输出口依次连接衰减器5和第二脉冲功率计8,电源9和开关矩阵测试台6分别与射频单元10连接。

优选地,所述开关矩阵测试台6向射频单元10提供控制信号,开关矩阵测试台6用于控制射频单元10的工作模式。

优选地,所述电源9向射频单元10提供供电。

优选地,所述脉冲信号源2输出的脉冲信号作为微波信号源3的外调制。

优选地,所述微波信号源3输出脉冲调制的微波信号,通过定向耦合器4后输入到射频单元10。

优选地,所述射频单元10的输出经过衰减器5的衰减后,再输出给第二脉冲功率计8,第二脉冲功率计8可测量经衰减后的输出信号的性能。

本发明创造的优点:本雷达射频单元自动化程度高,可高效测试雷达射频单元的性能;综合化程度高,可以射频单元的全部关键指标进行测试;适应程度高,对同系列的多种射频单元都可以进行测试;测试员只需要敲定射频单元的工作参数,剩下的繁琐的测试流程全部是自动完成,并最后输出测试结果与详细报表。

附图说明

图1是雷达射频单元综合测试系统的连接原理图。

具体实施方式

如图1所示,一种雷达射频单元综合测试系统,其特征在于包括测试平台1、脉冲信号源2、微波信号源3、定向耦合器4、衰减器5、开关矩阵测试台6、第一脉冲功率计7、第二脉冲功率计8和电源9,测试平台1通过GPIB总线分别与脉冲信号源2、微波信号源3、电源9和第二脉冲功率计8连接;脉冲信号源2、微波信号源3、定向耦合器4和射频单元10依次连接,定向耦合器4的耦合口接入第一脉冲功率计7,射频单元10输出口依次连接衰减器5和第二脉冲功率计8,电源9和开关矩阵测试台6分别与射频单元10连接。

所述开关矩阵测试台6向射频单元10提供控制信号,开关矩阵测试台6用于控制射频单元10的工作模式。

所述电源9向射频单元10提供供电。

所述脉冲信号源2输出的脉冲信号作为微波信号源3的外调制。

所述微波信号源3输出脉冲调制的微波信号,通过定向耦合器4后输入到射频单元10。

所述射频单元10的输出经过衰减器5的衰减后,再输出给第二脉冲功率计8,第二脉冲功率计8可测量经衰减后的输出信号的性能。

工作流程:

整个雷达射频单元综合测试系统以测试平台1为核心,测试平台1通过GPIB总线与脉冲信号源2、微波信号源3、电源9和第二脉冲功率计8程控连接。测试平台1通过自动测试流程,集成了用户操作界面,实现操作者与仪器、设备的交互。测试平台1内置多个自动测试程序,控制多个仪器设备,同时读取仪器的测量参数,最后将结果进行内部计量与汇总,形成报表从而达到最终测试雷达射频单元的目的。

测试平台1通过GPIB总线控制脉冲信号源2产生的脉冲信号,脉冲信号源2向微波信号源3输入脉冲信号,微波信号源3将脉冲信号调制到微波频段,产生连续微波信号,微波信号源3通过定向耦合器4向射频单元10输入微波信号,定向耦合器4同时将射频单元10输出的反射信号耦合给第一脉冲功率计7;第一脉冲功率计7用于测量射频单元10输出的反射信号的性能。

测试平台1通过GPIB总线控制电源9给射频单元10提供需要的供电及供电顺序;开关矩阵测试台6向射频单元中的微波开关进行控制,以模拟多种微波单元组合的工作模式;射频单元10的输入反射信号,通过定向耦合器4耦合给第一脉冲功率计7,由测试平台1通过GPIB总线读取;射频单元10的输出信号经衰减器5后,由第二脉冲功率计8对其进行检测,并由测试平台1读取。

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