技术特征：
技术总结
本申请提供一种管道内壁测量系统。当激光跟踪仪光路无法直接到达的所述被测弯曲管道的内壁区域时，激光跟踪仪发出第一束激光并通过被测弯曲管道的一端端口进入。此时，第一束激光射到反射结构，改变第一束激光的光路方向。同时，回射压紧机构在无法直接到达管道内壁区域的位置，使得经反射结构反射后的第一束激光射到回射压紧机构的第一回射结构上，第一束激光经第一回射结构回射形成第二束激光，第二束激光沿第一束激光的光路返回至激光跟踪仪。激光跟踪仪接收第二束激光并通过激光跟踪仪装置测算第一回射结构的空间位置信息，从而获得激光跟踪仪光路无法直接到达管道内壁区域的内壁信息。
技术研发人员：缪东晶;刘学德;王国磊;李建双;李连福;张帅;郑继辉
受保护的技术使用者：中国计量科学研究院
技术研发日：2019.04.10
技术公布日：2019.06.14