技术特征：
技术总结
本发明提出了一种用于H桥电路的老炼装置及其老炼方法，属于电器元件测试技术领域，其具体包括N级依次排布的老炼单元以及连接在第一级老炼单元输入端的电源电路和连接在第N级老炼单元输出端的负载电阻，所述每一级老炼单元均包括待测件，且每一级老炼单元的输出端与下一级老炼单元的待测件的输入端连接。本发明的目的在于解决现有技术中用于H桥电路的老炼装置耗电量大，耗材多的问题，利用本发明的老炼装置可以有效地降低产品的成本。
技术研发人员：林建伟
受保护的技术使用者：西安伟京电子制造有限公司
技术研发日：2019.07.23
技术公布日：2019.10.18