用于分析气体混合物的方法和气体传感器与流程

文档序号:26101568发布日期:2021-07-30 18:12阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种用于分析气体混合物的方法,在所述方法中,使设置为用于吸附和/或吸收所述气体混合物的组分(20)的层(11)暴露在所述气体混合物中,所述方法包括以下步骤:

-在所述层(11)具有第一温度(t1)期间,测量所述层的至少一个电阻值(r),

-将所述层(11)的温度(t)从所述第一温度(t1)减小到第二温度(t2),

-在所述层(11)具有所述第二温度(t2)期间,测量所述层的至少一个电阻值(r),

-将所述层(11)的温度(t)从所述第二温度(t2)提高到第三温度(t3),

-在所述层(11)具有所述第三温度(t3)期间,测量所述层的至少一个电阻值(r),和

-根据所测得的电阻值(r)分析所述气体混合物的组分(20)。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:

-将所述层(11)的温度从所述第三温度(t3)减小到第四温度(t4),并且

-在所述层(11)具有所述第四温度(t4)期间,测量所述层的至少一个电阻值(r),

其中,所述第一温度(t1)不同于所述第三温度(t3),和/或所述第二温度(t2)不同于所述第四温度(t4)。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:

-将所述层(11)的温度(t)从所述第四温度(t4)提高到所述第一温度(t1)。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,周期性地执行所述方法,其中,所述方法的周期长度位于20秒至120秒的范围内。

5.一种用于分析气体混合物的方法,在所述方法中,使分别设置为用于吸附和/或吸收所述气体混合物的组分(20)的第一层(11a)和第二层(11b)暴露在所述气体混合物中,所述方法包括以下步骤:

-在所述第一层(11a)具有第一温度(t1)期间,测量所述第一层的至少一个电阻值,

-将所述第一层(11a)的温度(t)从所述第一温度(t1)减小到第二温度(t2),

-在所述第一层(11a)具有所述第二温度(t2)期间,测量所述第一层的至少一个电阻值(r),

-在所述第二层(11b)具有第三温度(t3)期间,测量所述第二层的至少一个电阻值(r),

-将所述第二层(11b)的温度(t)从所述第三温度(t3)减小到第四温度(t4),

-在所述第二层(11b)具有所述第四温度(t4)期间,测量所述第二层的至少一个电阻值(r),和

-根据所测得的电阻值(r)分析所述气体混合物的组分(20),

其中,所述第一温度(t1)不同于所述第三温度(t3),和/或所述第二温度(t2)不同于所述第四温度(t4)。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,在所述层(11,11a,11b)具有所述第二温度(t2)或所述第四温度(t4)期间对所述层的至少一个电阻值的测量在该层(11,11a,11b)已经在5秒至30秒范围内的时间段上保持对应的温度(t2,t4)之后进行。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法,其特征在于,在所述层(11,11a,11b)具有所述第一温度(t1)或所述第三温度(t3)期间对所述层的至少一个电阻值(r)的测量在该层(11,11a,11b)已经在至少100毫秒的时间段上保持对应的温度(t1,t3)之后进行。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述层(11,11a,11b)的温度(t)从所述第二温度(t2)到所述第三温度(t3)的提高和/或所述层(11,11a,11b)的温度(t)从所述第四温度(t4)到所述第一温度(t1)的提高在最多1秒内进行。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述第一温度(t1)和所述第三温度(t3)分别相互独立地位于250℃至400℃的范围内。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,其特征在于,所述第二温度(t2)和所述第四温度(t4)分别相互独立地位于20℃至200℃的范围内。

11.根据权利要求1至8中任一项所述的方法,其特征在于,所述第一温度(t1)和所述第三温度(t3)相同并且位于300℃至400℃的范围内,所述第二温度(t2)位于30℃至100℃的范围内,所述第四温度(t4)位于100℃至180℃的范围内。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法,其特征在于,所述气体混合物包含至少两种不同的含硫组分(20)。

13.一种计算机程序,所述计算机程序设置为用于执行根据权利要求1至12中任一项所述的方法的每个步骤。

14.一种机器可读的存储介质,根据权利要求13所述的计算机程序存储在所述机器可读的存储介质上。

15.一种气体传感器(10a,10b),所述气体传感器设置为用于借助根据权利要求1至12中任一项所述的方法来分析气体混合物。


技术总结
本发明涉及一种用于分析气体混合物的方法,在所述方法中,使设置用于吸附和/或吸收所述气体混合物的组分的层暴露在所述气体混合物中。该方法包括将所述层从第一温度(T)冷却到第二温度(T2)上和将所述层从所述第二温度(T2)加热到第三温度(T3)上。在所述层分别具有所述第一温度(T)、所述第二温度(T2)和所述第三温度(T3)期间,分别测量所述层的至少一个电阻值(R)。此外,本发明涉及一种方法,在所述方法中,使第一层和第二层暴露在气体混合物中。将所述第一层从第一温度(T)冷却到第二温度(T2)上并且将所述第二层从第三温度(T3)冷却到第四温度(T4)上。所述第一温度(T)不同于所述第三温度(T3),和/或所述第二温度(T2)不同于所述第四温度(T4)。在所述第一层分别具有所述第一温度(T)和所述第二温度(T2)并且所述第二层分别具有所述第三温度(T3)和所述第四温度期间,分别测量相应的层的至少一个电阻值(R)。在两种方法中,根据所述电阻值(R)分析所述气体混合物的组分。

技术研发人员:P·诺尔特;M·马蒂内普拉达;K·吕克特
受保护的技术使用者:罗伯特·博世有限公司
技术研发日:2019.12.06
技术公布日:2021.07.30
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