光纤陀螺多组件测试系统的制作方法

本发明属于光纤环组件模块的温度性能测试技术领域，尤其涉及一种光纤陀螺多组件测试系统。

背景技术：

现有技术中，对光纤环组件等模块进行温度性能测试时，主要是将陀螺测试和光纤环测试(适应各种尺寸的光纤环)相结合，而不能对多种组件进行测试，不同种类的待测组件所需光路和电路不一致，并且测量精度有待于提高。

技术实现要素：

本发明所要解决的技术问题是，提供一种光纤陀螺多组件测试系统，针对不同类型的光纤陀螺组件测试需求，根据实际情况与待测组件熔接、连接，并调整适当光功率，实现光纤陀螺组件的测量。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种光纤陀螺多组件测试系统，包括至少一个2×2耦合器、y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤c，y波导的另一端为尾纤a和尾纤b。

按上述技术方案，主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。

按上述技术方案，光纤环尾纤与y波导尾纤a和b相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部y波导上，光纤环放置于温箱中。

按上述技术方案，待测组件包括y波导与光纤环，该y波导尾纤与系统耦合器尾纤c相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到组件的y波导电极上，待测组件中的y波导与光纤环尾纤两两连接。

按上述技术方案，待测组件包括光纤环、y波导、待测耦合器，待测耦合器的一端与待测y波导的一端连接，待测y波导的另外2端与光纤环尾纤两两连接，待测耦合器的另外2端分别与系统耦合器尾纤c第二探测器的尾纤d相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到待测组件y波导电极，待测组件放置于温箱中。

按上述技术方案，光源为sld或ase光源。

本发明方案解决的技术问题是：首先解决光源功率光功率匹配问题：通过高精度dac芯片输出可控电压来调整光源驱动电流，实现光源光功率可调。通过调整光源驱动电流，得到合适的光功率，实现对不同组件测试时，不同光路损耗下，探测器信号在最佳附近；其次解决不同待测组件光路、电路兼容问题：解决了不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题，通过对光路和电路进行设计，实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。

本发明产生的有益效果是：1)具备光源温控及驱动电流可调功能，系统可根据待测件实际损耗情况，调整合适光功率，使系统测试多种待测组件；

2)具备多种待测组件温度测试功能，待测件可以为：“光纤环”、“光纤环+y波导”组件和“光纤环+y波导+耦合器”组件；

3)具备两路信号检测电路，可根据待测件不同，选用其中之一检测电路进行待测件测试；

4)实现两路、三路甚至更多的测量通道的组合系统。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：

图1是本发明实施例光纤陀螺多组件测试系统示意图；

图2是本发明实施例中光纤环组件测试连接示意图；

图3是本发明实施例中光纤环+y波导组件测试连接示意图；

图4是本发明实施例中光纤环+y波导+耦合器组件测试连接示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

如图1所示，本发明实施例中，提供一种光纤陀螺多组件测试系统，光源为sld或ase光源，包括一个2×2耦合器、y波导、探测器、、主控电路以及上位机。主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出。

将y波导尾纤a和b，耦合器尾纤c、探测器尾纤d引出至系统外时：

1)当待测件为光纤环时，将光纤环尾纤与y波导尾纤a和b相熔接，调整合适的光源驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部y波导上。光纤环放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对光纤环的测试，见附图2。

2)当待测件为“光纤环+yy波导”组件时，将待测组件的y波导尾纤与系统耦合器尾纤c相熔接，调整适当光源驱动电流，同时将闭环反馈信号加载到组件的y波导电极上，待测组件放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对“光纤环+y波导”组件的测试，见附图3。

3)当待测件为“光纤环+y波导+耦合器”组件时，将待测组件耦合器之一尾纤与系统耦合器尾纤c熔接，将待测组件耦合器另一尾纤与探测器尾纤d相熔接，调整适当光源驱动电流，闭环反馈信号加载到待测组件y波导(外部波导)电极后，待测组件放置于试验平台或环境中，本测试系统即实现了对“光纤环+y波导+耦合器”组件的测试，见附图4。

应当理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，而所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。

技术特征：

1.一种光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，包括至少一个2×2耦合器、y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤c，y波导的另一端为尾纤a和尾纤b。

2.根据权利要求1所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，主控电路包含可调驱动电流及温控电路、探测器信号检测电路、闭环反馈信号电路、信号处理、控制及输出电路。

3.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，光纤环尾纤与y波导尾纤a和b相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到系统内部y波导上，光纤环放置于温箱中。

4.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，待测组件包括y波导与光纤环，该y波导尾纤与系统耦合器尾纤c相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到组件的y波导电极上，待测组件中的y波导与光纤环尾纤两两连接。

5.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，待测组件包括光纤环、y波导、待测耦合器，待测耦合器的一端与待测y波导的一端连接，待测y波导的另外2端与光纤环尾纤两两连接，待测耦合器的另外2端分别与系统耦合器尾纤c第二探测器的尾纤d相熔接，调整光源可调驱动电流，闭环反馈信号加载到待测组件y波导电极，待测组件放置于温箱中。

6.根据权利要求1或2所述的光纤陀螺多组件测试系统，其特征在于，光源为sld或ase光源。

技术总结
本发明公开了一种光纤陀螺多组件测试系统，包括至少一个2×2耦合器、Y波导、探测器、主控电路，耦合器的输入一端连接光源，耦合器的输入二端连接探测器，耦合器的输出一端连接Y波导的一端，耦合器的输出二端为尾纤C，Y波导的另一端为尾纤A和尾纤B。本发明测试系统实现了对不同组件测试时，不同光路损耗下，探测器信号在最佳附近；解决不同种类的待测组件所需光路和电路不一致的问题，通过对光路和电路进行设计，实现了对多种光纤陀螺组件的测试目的。

技术研发人员：徐知芳;卜兴华;袁曚;方阳;袁磊;廉正刚;皮亚斌
受保护的技术使用者：武汉长盈通光电技术有限公司
技术研发日：2020.01.07
技术公布日：2020.06.16