技术总结
本发明公开了一种电路板通电性能测试基座,包括测试基座，测试基座上设有机台，机台的内部靠近机台上表面设有PCB板，机台的正面下半部分设有接线口，电源开关，电流调节旋钮，电压调节旋钮，报警指示灯，显示屏，机台的上表面设有测试基板，测试基板的两端对称设有立柱，立柱固定在机台上表面，立柱上设有下压板，下压板套装在立柱上，下压板与机台上表面之间设有弹簧，下压板的下表面设有触头，下压板的侧面设有接线孔，接线孔与触头之间采用导线连接，该测试机座设计合理，检测方便，可以通过调节电流的大小来检测测试电路板的通电性能。节电流的大小来检测测试电路板的通电性能。节电流的大小来检测测试电路板的通电性能。
技术研发人员：刘生 刘燕华 王虹 欧阳盼
受保护的技术使用者：湖南诚创鑫科技有限公司
技术研发日：2020.10.15
技术公布日：2021/1/25