一种电子芯片检测装置的制作方法

本实用新型涉及电子芯片技术领域，具体来说，涉及一种电子芯片检测装置。

背景技术：

芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。电子芯片设备在生产完电子芯片之后，需要对电子芯片进行综合测试及各种电流电压的测试，目前的电子芯片的检测方式就是检测工人手持着从电气检测箱上引出的检测探针，通过观察着电气检测箱上的指示灯的状态和显示屏所显示的参数大小来判断着该电子芯片是否合格，然而这种检测方式不仅极大的增加着检测人员的工作强度，同时也会导致检测过程中检测探针发生晃动所引起的误差，严重影响着检测精度，实用性差。

中国专利cn201821628679.9提出了一种电子芯片检测装置，包括操作台、检测探针和显示屏，检测探针与显示屏电连接；还包括左支板、右支板、左固定板、右固定板、左限位杆、右限位杆、左限位弹簧、右限位弹簧、压板、安装板、第一步进电机、转盘、上铰接螺杆、螺纹管、下铰接螺杆、电机座、第一转轴、第二步进电机、圆形放置板、plc控制器和第二转轴，圆形放置板的顶端成圆形等角度设置有四组定位槽。该方案随解决了需求人工手持电气检测装置对电子芯片的检测所带来的问题，但其第一步进电机、转盘、上铰接螺杆、螺纹管、下铰接螺杆等元件组成的动力装置，存在工作时不稳，导致检测精密度过低，进而该装置的实用性差。

针对相关技术中的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现要素：

针对相关技术中的问题，本实用新型提出一种电子芯片检测装置，以克服现有相关技术所存在的上述技术问题。

本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种电子芯片检测装置，包括检测桌体，所述检测桌体桌面中部两侧均设置有支撑板，所述支撑板上部设置有固定框，两个所述固定框之间设置有升降板，所述升降板的底部设置有升降杆，所述升降杆的正面设置有电气检测装置，所述升降杆底部设置有检测探针，所述升降板的背部设置有升降装置，所述升降装置设置在所述检测桌体上表面，所述检测桌体上表面中部设置有托盘，所述检测桌体上表面一侧设置有控制键组，所述托盘上表面设置有芯片定位圆板，所述检测桌体桌面底部设置有第一步进电机。

进一步，所述固定框包括上限位板和下限位板，所述上限位板中部贯穿有限位杆，所述限位杆底部与所述升降板上部固定连接，所述下限位板顶部设置有弹簧，所述弹簧顶部与所述升降板底部固定连接。

进一步，所述电气检测装置固定设置在所述升降杆的正面上部，所述电气检测装置正面设置有指示灯和显示屏。

进一步，所述升降装置包括支撑架，所述支撑架背面底部设置有第二步进电机，所述第二步进电机，所述第二步进电机的输出轴设置有第一锥齿轮，所述第一锥齿轮的正面设置有第二锥齿轮，所述第一锥齿轮与第二锥齿轮啮合，所述支撑架底面中部设置有螺纹丝杆，所述螺纹丝杆的底端通过轴承转动连接于所述支撑架底部，所述螺纹丝杆的顶端与所述支撑架顶端中部转动连接，所述螺纹丝杆中部设置有移动块，所述移动块与所述螺纹丝杆螺纹连接，所述支撑架两侧和背面中部均设置有限位凹槽。

进一步，所述移动块与所述升降板固定连接，所述移动块两侧和背面设置有凸体，所述凸体与所述限位凹槽。

进一步，所述托盘固定设置在所述检测桌体上表面，所述托盘远离所述控制键组的一侧设置有孔洞。

进一步，所述芯片定位圆板周侧设置有四个定位槽，相邻的两个所述定位槽间隔角度为90°，所述定位槽略小于所述孔洞。

进一步，所述第一步进电机的输出轴贯穿于所述检测桌体上表面和所述托盘中部，且与所述芯片定位圆板固定连接。

本实用新型的有益效果为：用本电子芯片检测装置进行检测时，操作员通过控制键组启动检测装置对电子芯片进行检测，检测装置启动后，第二步进电机带动第一锥齿轮转动，进而第一锥齿轮带动第二锥齿轮转动，第二锥齿轮转动使螺纹丝杆转动，进一步由于移动块与螺纹丝杆螺纹连接，螺纹丝杆转动使移动块在螺纹丝杆上向上移动，同时限位凹槽与凸体使移动块移动时不会发生偏移，移动块与升降板固定连接进行升降运动，进一步升降板上升，同时带动升降杆上的检测探针上升，操作人员将带电子芯片储存盒放置于孔洞正下方，再将所需检测的电子芯片用镊子将电子芯片放入芯片定位圆板上远离孔洞的三个定位槽中，此过程通过第一步进电机转动使芯片定位圆板进行转动，使圆板进一位(进一位为俯视定位芯片圆板，正时针旋转90°)将电子芯片一一放入定位槽中，再次通过控制键组控制检测装置，使检测探针下降对电子芯片一一检测，检测完成后，第一步进电机带动芯片定位圆板进行转动，电子芯片通过孔洞掉入准备的电子芯片储存盒中进行保存，利用第一锥齿轮、第二锥齿轮、螺纹丝杆、转动使移动块在螺纹丝杆上能够上下移，限位凹槽与凸体使移动块上下移动时不会发生偏移，再进行检测时装置更加稳定，不会发生晃动现象，利用定位槽与孔洞相吻合，利用第一步进电机带动芯片定位圆板进行转动，使电子芯片通过孔洞掉出，以便电子芯片检测完成后的换取。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是根据本实用新型实施例的立体示意图；

图2是根据本实用新型实施例的a处局部放大图；

图3是根据本实用新型实施例的b处局部放大图；

图4是根据本实用新型实施例的升降装置立体示意图；

图5是根据本实用新型实施例的电子芯片放置装置示意图。

图中：

1、检测桌体；2、支撑板；3、固定框；301、上限位板；302、下限位板；303、限位杆；304、弹簧；4、升降板；5、升降杆；6、电气检测装置；601、指示灯；602、显示屏；7、检测探针；8、升降装置；801、支撑架；802、第二步进电机；803、第一锥齿轮；804、第二锥齿轮；805、螺纹丝杆；806、移动块；807、限位凹槽；808、凸体；9、托盘；901、孔洞；10、控制键组；11、芯片定位圆板；111、定位槽；12、第一步进电机。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

根据本实用新型的实施例，提供了一种电子芯片检测装置。

如图1-5所示，根据本实用新型实施例的电子芯片检测装置，包括：检测桌体1，所述检测桌体1桌面中部两侧均设置有支撑板2，所述支撑板2上部设置有固定框3，两个所述固定框3之间设置有升降板4，所述升降板4的底部设置有升降杆5，所述升降杆5的正面设置有电气检测装置6，所述升降杆5底部设置有检测探针7，所述升降板4的背部设置有升降装置8，所述升降装置8设置在所述检测桌体1上表面，所述检测桌体1上表面中部设置有托盘9，所述检测桌体1上表面一侧设置有控制键组10，所述托盘9上表面设置有芯片定位圆板11，所述检测桌体1桌面底部设置有第一步进电机12。

在一个实施例中，对于上述固定框3来说，所述固定框3包括上限位板301和下限位板302，所述上限位板301中部贯穿有限位杆303，所述限位杆303底部与所述升降板4上部固定连接，所述下限位板302顶部设置有弹簧304，所述弹簧304顶部与所述升降板4底部固定连接，从而利用固定框3来限制限位杆303的升降范围，进而限制升降板4的升降范围。

在一个实施例中，对于上述电气检测装置6来说，所述电气检测装置6固定设置在所述升降杆5的正面上部，所述电气检测装置6正面设置有指示灯601和显示屏602，从而利用电气检测装置6能够很好的观测检测结果。

在一个实施例中，对于上述升降装置8来说，所述升降装置8包括支撑架801，所述支撑架801背面底部设置有第二步进电机802，所述第二步进电机802，所述第二步进电机802的输出轴设置有第一锥齿轮803，所述第一锥齿轮803的正面设置有第二锥齿轮804，所述第一锥齿轮803与第二锥齿轮804啮合，所述支撑架801底面中部设置有螺纹丝杆805，所述螺纹丝杆805的底端通过轴承转动连接于所述支撑架801底部，所述螺纹丝杆805的顶端与所述支撑架801顶端中部转动连接，所述螺纹丝杆805中部设置有移动块806，所述移动块806与所述螺纹丝杆805螺纹连接，所述支撑架801两侧和背面中部均设置有限位凹槽807，从而利用第二步进电机802带动第一锥齿轮803转动，进而使第一锥齿轮803带动第二锥齿轮804转动，第二锥齿轮804转动使螺纹丝杆805转动，进一步由于移动块806与螺纹丝杆805螺纹连接，螺纹丝杆805转动使移动块806在螺纹丝杆805上能够上下移动。

在一个实施例中，对于上述移动块806来说，所述移动块806与所述升降板4固定连接，所述移动块806两侧和背面设置有凸体808，所述凸体808与所述限位凹槽807，从而利用限位凹槽807与凸体808使移动块806上下移动时不会发生偏移。

在一个实施例中，对于上述托盘9来说，所述托盘9固定设置在所述检测桌体1上表面，所述托盘9远离所述控制键组10的一侧设置有孔洞901，从而利用控制键组10来控制检测装置的检测流程。

在一个实施例中，对于上述芯片定位圆板11来说，所述芯片定位圆板11周侧设置有四个定位槽111，相邻的两个所述定位槽111间隔角度为90°，所述定位槽111略小于所述孔洞901，在实际检测中，用镊子将电子芯片放入远离孔洞901的三个定位槽111中，检测完成后通过第一步进电机12转动使芯片定位圆板11进行转动，使圆板进一位(进一位为俯视定位芯片圆板，正时针旋转90°)，进而使定位槽111与孔洞901相吻合，进一步使电子芯片通过孔洞901掉出，此外，考虑到实际操作时，操作人员应将带电子芯片储存盒放置于孔洞901正下方，以防掉落的电阻芯片损伤。

在一个实施例中，对于上述第一步进电机12来说，所述第一步进电机12的输出轴贯穿于所述检测桌体1上表面和所述托盘9中部，且与所述芯片定位圆板11固定连接，从而利用第一步进电机12带动芯片定位圆板11进行转动，以便电子芯片检测完成后的换取。

综上所述，借助于本实用新型的上述技术方案，用本电子芯片检测装置进行检测时，操作员通过控制键组10启动检测装置对电子芯片进行检测，检测装置启动后，第二步进电机802带动第一锥齿轮803转动，进而第一锥齿轮803带动第二锥齿轮804转动，第二锥齿轮804转动使螺纹丝杆805转动，进一步由于移动块806与螺纹丝杆805螺纹连接，螺纹丝杆805转动使移动块806在螺纹丝杆805上向上移动，同时限位凹槽807与凸体808使移动块806移动时不会发生偏移，移动块806与升降板4固定连接进行升降运动，进一步升降板4上升，同时带动升降杆5上的检测探针7上升，操作人员将带电子芯片储存盒放置于孔洞901正下方，再将所需检测的电子芯片用镊子将电子芯片放入芯片定位圆板11上远离孔洞901的三个定位槽111中，此过程通过第一步进电机12转动使芯片定位圆板11进行转动，使圆板进一位(进一位为俯视定位芯片圆板，正时针旋转90°)将电子芯片一一放入定位槽111中，再次通过控制键组10控制检测装置，使检测探针7下降对电子芯片一一检测，检测完成后，第一步进电机12带动芯片定位圆板11进行转动，电子芯片通过孔洞901掉入准备的电子芯片储存盒中进行保存。

有益效果：1、利用第一锥齿轮、第二锥齿轮、螺纹丝杆、转动使移动块在螺纹丝杆上能够上下移，限位凹槽与凸体使移动块上下移动时不会发生偏移，再进行检测时装置更加稳定，不会发生晃动现象。

2、利用定位槽与孔洞相吻合，利用第一步进电机带动芯片定位圆板进行转动，使电子芯片通过孔洞掉出，以便电子芯片检测完成后的换取。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。