浪涌脉冲电流冲击电路及测试台的制作方法

本申请涉及可靠性测试技术领域，特别是涉及一种浪涌脉冲电流冲击电路及测试台。

背景技术：

整流二极管(rectifierdiode)是一种将交流电转变为直流电的电子行业通用元器件，被广泛应用于各种控制器的电路板中。通常它包含一个pn结，有正极和负极两个端子，在电路中，电流只能从二极管的正极流入。

然而，由于电网脉冲的不稳定性，若选用的整流二极管性能较差，电路板中的整流二极管很容易由于浪涌脉冲电流的冲击发生损坏，间接影响控制器以及对应电子设备的正常使用。因此，传统的整流二极管具有使用可靠性差的缺点。

技术实现要素：

基于此，有必要针对传统的整流二极管使用可靠性差的问题，提供一种浪涌脉冲电流冲击电路及测试台。

一种浪涌脉冲电流冲击电路，包括：脉冲电流发生装置、脉冲计数装置和待测器件接入电路，所述脉冲电流发生装置连接所述脉冲计数装置，所述脉冲计数装置连接所述待测器件接入电路，所述脉冲电流发生装置用于生成浪涌脉冲电流；所述脉冲计数装置用于记录流入所述待测器件接入电路的浪涌脉冲电流次数；所述待测器件接入电路用于接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件。

在一个实施例中，浪涌脉冲电流冲击电路还包括测试转换装置和外部接线柱，所述测试转换装置连接所述脉冲计数装置，所述测试转换装置用于当接收内部检测指令时，将所述脉冲计数装置和所述待测器件接入电路连接，当接收到外部检测指令时，通过所述外部接线柱将所述脉冲计数装置与需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的外部电路连接。

在一个实施例中，所述测试转换装置为双刀双掷开关。

在一个实施例中，所述待测器件接入电路包括基座和分压电阻，所述基座用于接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件，所述基座连接所述分压电阻，所述分压电阻用于当所述测试转换装置接收内部检测指令时，连接至所述测试转换装置。

在一个实施例中，所述基座包括夹具基座和顶针基座，所述分压电阻包括第一分压电阻和第二分压电阻，所述夹具基座连接所述第一分压电阻，所述顶针基座连接所述第二分压电阻，所述第一分压电阻用于当所述测试转换装置接收内部检测指令时，连接至所述测试转换装置，所述第二分压电阻用于当所述测试转换装置接收内部检测指令时，连接至所述测试转换装置。

在一个实施例中，所述测器件接入电路还包括电源，所述电源的正极连接所述基座，所述电源的负极连接所述脉冲计数装置和所述测试转换装置。

在一个实施例中，所述脉冲电流发生装置包括恒流电源和时间继电器，所述恒流电源连接所述时间继电器，所述时间继电器连接所述脉冲计数装置。

一种测试台，其特征在于，包括上述的浪涌脉冲电流冲击电路。

在一个实施例中，测试台还包括计数显示器和计时显示器，所述计时显示器连接所述脉冲电流发生装置的时间继电器，所述计数显示器连接所述脉冲计数装置。

在一个实施例中，测试台还包括复位按键和启停按键，所述复位按键连接所述脉冲计数装置，所述启停按键连接所述脉冲电流发生装置的恒流电源。

上述浪涌脉冲电流冲击电路及测试台，通过待测器件接入电路接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件(即待测器件)，然后通过脉冲电流发生装置生成浪涌脉冲电流并输出，同时通过脉冲计数装置进行计数，从而为待测器件输入一定数量的浪涌脉冲电流进行冲击，从而保证用户选取能够承受浪涌脉冲电流的冲击的器件。当待测器件为整流二极管时，用户只需要将浪涌脉冲电流冲击后的整流二极管进行特性曲线分析，即可以判断该二极管是否满足使用要求，从而选择满足性能要求的整流二极管，避免实际工况中由于浪涌脉冲电流的冲击发生损坏，有效提高整流二极管的使用可靠性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一实施例中浪涌脉冲电流冲击电路结构示意图；

图2为另一实施例中浪涌脉冲电流冲击电路结构示意图；

图3为一实施例中浪涌脉冲电流冲击电路结构图；

图4为一实施例中基座结构示意图；

图5为一实施例中测试台的操作界面示意图；

图6为一实施例中测试台结构示意图。

附图标记说明：10-脉冲电流发生装置；11-恒流电源；12-时间继电器；20-脉冲计数装置；30-待测器件接入电路；31-基座；311-顶针基座；312-夹具针座；32-分压电阻；321-第一分压电阻；322-第二分压电阻；40-测试转换装置；41-第一静触点；42-第二静触点；43-第一动触点；44-第二动触点；45-第三动触点；46-第四动触点；50-外部接线柱；60-计数显示器；61-计数调节按键；70-计时显示器；71-计时调节按键；80-启停按键；90-复位按键；91-指示灯。

具体实施方式

为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。

请参阅图1，一种浪涌脉冲电流冲击电路，包括：脉冲电流发生装置10、脉冲计数装置20和待测器件接入电路30，脉冲电流发生装置10连接脉冲计数装置20，脉冲计数装置20连接待测器件接入电路30，脉冲电流发生装置10用于生成浪涌脉冲电流；脉冲计数装置20用于记录流入待测器件接入电路30的浪涌脉冲电流次数；待测器件接入电路30用于接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件。

具体地，本实施例的浪涌脉冲电流冲击电路具有为待测器件提供特定大小以及特定次数浪涌脉冲电流进行冲击的功能，浪涌脉冲电流的大小可以通过脉冲电流发生装置10调节。而浪涌脉冲电流的冲击次数则通过脉冲计数装置20进行记录，当脉冲次数达到用户所需的次数时，直接控制脉冲电流发生装置10停止脉冲电流的输出即可。通过待测器件接入电路30可以将需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件接入，从而模拟待测器件在电网脉冲中的工作，为待测器件进行浪涌脉冲电流的冲击。

可以理解，待测器件的类型并不是唯一的，只要是浪涌脉冲电流的冲击会对其工作可靠性产生影响的器件、电路或其它装置均可。例如，在一个实施例中，待测器件为整流二极管，即通过本实施例的浪涌脉冲电流冲击电路，将整流二极管通过待测器件接入电路30接入整个浪涌脉冲电流冲击电路。然后在脉冲电流发生装置10输出的浪涌脉冲电流的冲击下，实现整流二极管的冲击测试。在进行冲击的同时，脉冲计数装置20实时统计输入待测器件接入电路30的脉冲个数，当脉冲个数达到预设数量时，停止浪涌脉冲电流的输出，此时浪涌脉冲电流对整流二极管的冲击操作完成。后续用户只需要将冲击后的整流二极管接入二极管特性分析仪(例如晶体管图示仪)中进行特性曲线分析，即可以判断整流二极管是否能够承受浪涌脉冲电流的冲击，从而决定是否选用该整流二极管。

请参阅图2，在一个实施例中，浪涌脉冲电流冲击电路还包括测试转换装置40和外部接线柱50，测试转换装置40连接脉冲计数装置20，测试转换装置40用于当接收内部检测指令时，将脉冲计数装置20和待测器件接入电路30连接，当接收到外部检测指令时，通过外部接线柱50将脉冲计数装置20与需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的外部电路连接。

具体地，内部检测指令即为控制浪涌脉冲电流冲击电路通过自身待测器件接入电路30，实现待检测器件的浪涌脉冲电流冲击操作的指令。外部检测指令即为通过外部接线柱50输出浪涌脉冲电流，实现外部电路的浪涌脉冲电流冲击操作的指令。测试转换装置40即为能够切换至不同浪涌脉冲电流测试线路的装置，通过该测试转换装置40，可以实现脉冲计数装置20-测试转换装置40-待测器件接入电路30三者的依次连接，通过待测器件接入电路30接入待测试器件实现脉冲电流冲击操作；还可以实现脉冲计数装置20-测试转换装置40-外部接线柱50-外部电路四者的依次连接，为外部电路通入浪涌脉冲电流，实现对外部电路的浪涌脉冲冲击操作。

通过本实施例的方案，根据用户的不同测试需求，该浪涌脉冲电流冲击电路既可以通过自身的待测器件接入电路30接入待测试器件实现浪涌脉冲电流的冲击，还可以通过外部接线柱50接入其它的电子电路，通过测试转换电路的转换，实现对外部电子电路的浪涌脉冲电流冲击操作。

应当指出的是，内部检测指令与外部检测指令的类型并不是唯一的，具体可以是用户通过不同开关按键下发的指令，只要在不同指令下，实现对应器件或外部电路的浪涌脉冲电流冲击操作即可。

例如，在一个实施例中，测试转换装置40为双刀双掷开关。对应的内部检测指令即为用户将双刀双掷开关掷在第一状态时的动作信号，外部检测指令即为用户将双刀双掷开关掷在第二状态时的动作信号。

请结合参阅图3，双刀双掷开关的静触点用于连接脉冲计数装置20，而双刀双掷开关的动触点则根据不同的检测指令实现连接至外部接线柱50或者待测器件接入电路30。双刀双掷开关由第一开关和第二开关两个单刀双掷开关组成，其中，第一开关包括第一静触点41、第一动触点43和第二动触点44，第二开关包括第二静触点42、第三动触点45和第四动触点46。第一动触点43和第二动触点44可以根据不同的检测指令，切换使得外部接线柱50或者是待测器件接入电路30接入。第三动触点45和第四动触点46同样可以根据不同的检测指令，切换使得外部接线柱50或者是待测器件接入电路30接入。当用户需要使用外部接线柱50实现外部电路的浪涌脉冲电流冲击时，只需要拨动双刀双掷开关，使得第一动触点43与第一静触点41之间导通，或者第二静触点42与第三动触点45之间导通，使得外部接线柱50接入电路。而当用户需要使用待测器件接入电路30实现的浪涌脉冲电流冲击时，只需要拨动双刀双掷开关，使得第二动触点45与第一静触点41之间导通，或者第二静触点42与第四动触点46之间导通，使得待测器件接入电路30接入电路即可。

请参阅图3，在一个实施例中，待测器件接入电路30包括基座31和分压电阻32，基座31用于接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件，基座31连接分压电阻32，分压电阻32用于当测试转换装置40接收内部检测指令时，连接至测试转换装置40。

具体地，基座31用于接入待测试器件，当脉冲电流发生装置10产生的浪涌脉冲电流输送至基座31之后，若基座31上接入待测试器件，则通过基座31将浪涌脉冲电流输送至待测试器件，实现待测试器件的浪涌脉冲电流冲击操作。

本实施例中，在基座31上串联分压电阻32，当待测试器件通电进行浪涌脉冲电流冲击测试时，避免接入待测试器件的电源电压过高，对待检测器件造成损伤，影响浪涌脉冲电流冲击测试的可靠性。例如，在一个是实施例中，当待检测器件为整流二极管时，整流二极管正向导通时可通过分压电阻32对二极管进行分压，避免电压过高对二极管造成损伤，保证浪涌脉冲电流冲击电路的工作可靠性。应当指出的是，分压电阻32的阻值大小并不是唯一的，在一个实施例中，可以采用阻值为100ω的电阻作为分压电阻32。

进一步地，在一个实施例中，测器件接入电路还包括电源，电源的正极连接基座31，电源的负极连接脉冲计数装置20和测试转换装置40。本实施例通过电源的设置，当脉冲计数装置20和待测器件接入电路30的分压电阻32连接时，相应的此时电源也会被接通，当待测试器件接入待测器件接入电路30的基座31时，电源将会为待测试器件进行供电，同时，待测试器件还会接收到来自脉冲电流发生装置10的浪涌脉冲电流，实现待测试器件的浪涌脉冲电流冲击操作。

请参阅图3，在一个实施例中，基座31包括夹具基座312和顶针基座311，分压电阻32包括第一分压电阻321和第二分压电阻322，夹具基座312连接第一分压电阻321，顶针基座311连接第二分压电阻322，第一分压电阻321用于当测试转换装置40接收内部检测指令时，连接至测试转换装置40，第二分压电阻322用于当测试转换装置40接收内部检测指令时，连接至测试转换装置40。

具体地，以待测试器件为整流二极管为例，本实施例采用两种不同类型的基座31并联，且每一类型基座31均串联有分压电阻32，分别实现不同类型整流二极管的测试操作。进一步地，当测试转换装置40为双刀双掷开关时，双刀双掷开关由第一开关和第二开关两个单刀双掷开关组成，其中，第一开关包括第一静触点41、第一动触点43和第二动触点44，第二开关包括第二静触点42、第三动触点45和第四动触点46。第一分压电阻321用于根据待测器件接入电路30进行测试时，连接至双刀双掷开关的第四动触点46，第二分压电阻322用于根据待测器件接入电路30进行测试时，连接至双刀双掷开关的第二动触点44。若双刀双掷开关的第一静触点41连接至脉冲计数装置20，此时通过第一开关可以实现外部接线柱50或者第二分压电阻322的接入切换，当第一开关的第一静触点41与第二动触点44连接时，可以通过顶针基座311连接贴片式二极管，实现贴片式二极管的浪涌脉冲电流冲击操作；若第一开关的第一静触点41与第一动触点43连接，则可以通过外部接线柱50实现外部电路的浪涌脉冲电流冲击操作。进一步地，当双刀双掷开关的第二静触点42连接至脉冲计数装置20，此时通过第二开关可以实现外部接线柱50或者第一分压电阻321的接入切换，当第二开关的第二静触点42与第四动触点46连接时，可以通过夹具基座312连接引线式插件二极管，实现引线式插件二极管的浪涌脉冲电流冲击操作；若第二开关的第二静触点42与第三动触点45连接，则可以通过外部接线柱50实现外部电路的浪涌脉冲电流冲击操作。

在一个实施例中，请结合参阅图4，顶针基座311连接至夹具基座312，电源正极只需要连接至顶针基座311或夹具基座312，即可以同时实现为顶针基座311和夹具基座312通电操作。在另一个实施例中，还可以是将电源分别连接至顶针基座311和夹具基座312，实现两者的分别进行通电，也即实现两种类型的待测试器件的分别通电操作。

请继续参阅图3，在一个实施例中，脉冲电流发生装置10包括恒流电源11和时间继电器12，恒流电源11连接时间继电器12，时间继电器12连接脉冲计数装置20。

具体地，本实施例通过恒流源产生恒定大小的电流，而该恒定大小的电流则通过时间继电器12流入脉冲计数装置20，也就是说每间隔一定时间，向脉冲计数装置20输入一次电流，该电流即为浪涌脉冲电流。应当指出的是，用户可以根据实际需求设置不同的浪涌脉冲电流周期，也就是时间继电器12的延时时间进行不同设置，以实现周期性浪涌脉冲电流的输出操作。

上述浪涌脉冲电流冲击电路，通过待测器件接入电路30接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件(即待测器件)，然后通过脉冲电流发生装置10生成浪涌脉冲电流并输出，同时通过脉冲计数装置20进行计数，从而为待测器件输入一定数量的浪涌脉冲电流进行冲击，从而保证用户选取能够承受浪涌脉冲电流的冲击的器件。当待测器件为整流二极管时，用户只需要将浪涌脉冲电流冲击后的整流二极管进行特性曲线分析，即可以判断该二极管是否满足使用要求，从而选择满足性能要求的整流二极管，避免实际工况中由于浪涌脉冲电流的冲击发生损坏，有效提高整流二极管的使用可靠性。

一种测试台，其特征在于，包括上述的浪涌脉冲电流冲击电路。

具体地，请结合参阅图1-图3，浪涌脉冲电流冲击电路包括脉冲电流发生装置10、脉冲计数装置20和待测器件接入电路30，脉冲电流发生装置10连接脉冲计数装置20，脉冲计数装置20连接待测器件接入电路30，脉冲电流发生装置10用于生成浪涌脉冲电流；脉冲计数装置20用于记录流入待测器件接入电路30的浪涌脉冲电流次数；待测器件接入电路30用于接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件。

本实施例的测试台具有为待测器件提供特定大小以及特定次数浪涌脉冲电流进行冲击的功能，浪涌脉冲电流的大小可以通过脉冲电流发生装置10调节。而浪涌脉冲电流的冲击次数则通过脉冲计数装置20进行记录，当脉冲次数达到用户所需的次数时，直接控制脉冲电流发生装置10停止脉冲电流的输出即可。通过待测器件接入电路30可以将需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件接入，从而模拟待测器件在电网脉冲中的工作，为待测器件进行浪涌脉冲电流的冲击。

可以理解，待测器件的类型并不是唯一的，只要是浪涌脉冲电流的冲击会对其工作可靠性产生影响的器件、电路或其它装置均可。例如，在一个实施例中，待测器件为整流二极管，即通过本实施例的浪涌脉冲电流冲击电路，将整流二极管通过待测器件接入电路30接入整个浪涌脉冲电流冲击电路。然后在脉冲电流发生装置10输出的浪涌脉冲电流的冲击下，实现整流二极管的冲击测试。在进行冲击的同时，脉冲计数装置20实时统计输入待测器件接入电路30的脉冲个数，当脉冲个数达到预设数量时，停止浪涌脉冲电流的输出，此时浪涌脉冲电流对整流二极管的冲击操作完成。后续用户只需要将冲击后的整流二极管接入二极管特性分析仪(例如晶体管图示仪)中进行特性曲线分析，即可以判断整流二极管是否能够承受浪涌脉冲电流的冲击，从而决定是否选用该整流二极管。

请参阅图5与图6，在一个实施例中，测试台还包括计数显示器60和计时显示器70，计时显示器70连接脉冲电流发生装置10的时间继电器12(图未示)，计数显示器60连接脉冲计数装置20(图未示)。

具体地，本实施例通过计数显示器60的设置，每当脉冲计数装置20记录通过一次浪涌脉冲电流之后，计数显示器60上记录的次数就会加一，以便于用户及时得知待测器件进行浪涌脉冲电流冲击的次数，同时，通过计时显示器70的设置，用户可以实时查看浪涌脉冲电流的发生状态，提高用户体验。

进一步地，在一个实施例中，请结合参阅图5，测试台的壳体上还设置有计数调节按键60以及计时调节按键71，根据计数调节按键60可以实现预设浪涌脉冲电流次数的调节，从而在输入待检测器件的浪涌脉冲电流次数达到预设浪涌脉冲电流次数时，能够输出提示信息提示用户。可以理解，此时可以在测试台的壳体设置指示灯91，当输入待检测器件的浪涌脉冲电流次数达到预设浪涌脉冲电流次数时，控制指示灯91输出指示信号，及时告知用户。而通过计时调节按键71，用户可以根据不同的测试需求，设置不同大小的时间延迟(即浪涌脉冲电流的周期)，进一步提高测试台的使用可靠性。

请结合参阅图5，在一个实施例中，测试台还包括复位按键90和启停按键80，复位按键90连接脉冲计数装置20(图未示)，启停按键80连接脉冲电流发生装置10的恒流电源11(图未示)。

具体地，当用户需要进行浪涌脉冲电力冲击测试时，可以通过启停按键80控制脉冲电流发生装置10的恒流电源11开启，开启整个浪涌脉冲电流冲击操作；而当用户不需要进行浪涌脉冲电力冲击测试时，可以通过启停按键80控制脉冲电流发生装置10的恒流电源11关闭，中断整个浪涌脉冲电流冲击操作。进一步地，启停按键80可以是通过同一个按键来实现，也可以是如图5或图6所示，通过两个不同的按键来实现。当浪涌脉冲电流冲击操作完成，即脉冲计数装置20记录的浪涌脉冲电流次数达到预设次数时，用户可以通过复位按键90将脉冲计数装置20记录的浪涌脉冲电流次数清零，以便于执行下一次的浪涌脉冲电流冲击操作。

应当指出的是，在一个实施例中，基座31的数量并不是唯一的。例如，请结合参阅图6，可以是在测试台同时设置多个基座31，每一基座31均可以接入待测试器件进行浪涌脉冲电流冲击操作，从而可以同时实现多个待测试器件的浪涌脉冲电流冲击，具有较高的工作效率。

上述测试台，通过待测器件接入电路30接入需要通过浪涌脉冲电流进行冲击测试的器件(即待测器件)，然后通过脉冲电流发生装置10生成浪涌脉冲电流并输出，同时通过脉冲计数装置20进行计数，从而为待测器件输入一定数量的浪涌脉冲电流进行冲击，从而保证用户选取能够承受浪涌脉冲电流的冲击的器件。当待测器件为整流二极管时，用户只需要将浪涌脉冲电流冲击后的整流二极管进行特性曲线分析，即可以判断该二极管是否满足使用要求，从而选择满足性能要求的整流二极管，避免实际工况中由于浪涌脉冲电流的冲击发生损坏，有效提高整流二极管的使用可靠性。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。