具升级功能的测试机台的制作方法

具升级功能的测试机台
1.原申请案的申请日：2015/12/18
2.原申请案的申请号：201510953861.6
3.原申请案的发明创造名称：
4.本发明涉及一种具升级功能的测试机台，尤其涉及一种利用一升级转板来进行不同环针数量待测物的测试工作的测试机台。


背景技术：

5.随着一般通用电子产品的推陈出新，常伴随最新的功能研发与更优化的系统设计，使得通用电子产品的硬件规格将对应提升与进阶。据此，为了适应通用电子产品升级后的硬件规格，制造商用来生产与测试的对应机台将随之进行相关更新工作，或额外添购其他机台来符合已升级的硬件规格，致相对应的生产成本与研发训练费用可能大幅提高。
6.在此情况下，若一般芯片制造商能对应加入相关的改良方法或可对应升级的零组件模块至既有的生产与测试机台，而不需全部汰换既有的生产与测试机台，此将提升既有生产或测试机台的使用寿命与生产效能，同时，对于原本可能增加的经营成本或耗材费用也能有效地减免与递延，据此，制造商能将节省的成本/费用再投入进阶的生产研发与开发计划，以提高市场竞争力，并形成良性的生产/研发的循环过程。
7.因此，提供具升级功能的测试机台与其升级方法，而无须淘汰既有的生产或测试机台，同时提升其使用寿命与生产效能，已成为本领域的重要课题。


技术实现要素：

8.因此，本发明的主要目的即在于提供一种具升级功能的测试机台，来相应延长既有生产或测试机台的使用寿命与生产效能。
9.本发明公开一种具升级功能的测试机台，包含有：一升级转板及一机台本体，其中所述升级转板包含一转板与一组装套件模块，所述组装套件模块包含有一测试塔座，用来连接及稳固所述转板，所述组装套件模块还包含有一上方稳固套件模块与一下方稳固套件模块，其中所述上方稳固套件模块与所述下方稳固套件模块都对应为一环型设计；以及，所述机台本体用来提供一容置空间来设置所述升级转板，以让所述测试机台进行不同环测针数量的待测物的一测试工作；其中，所述上方稳固套件模块包含有一上方配件单元，所述上方配件单元供推拉以让所述上方稳固套件模块与所述下方稳固套件模块进行一顺时针旋转工作或一逆时针旋转工作，以将所述上方稳固套件模块旋转连接/脱离所述升级转板的一上表面，或将所述下方稳固套件模块旋转连接/脱离所述升级转板的一下表面，进而让所述上方稳固套件模块与所述下方稳固套件模块上下锁固且包覆所述升级转板。
附图说明
10.图1为本发明实施例的一测试机台的示意图。
11.图2为本发明实施例的一升级转板的拆解示意图。
12.图3为本发明实施例的一升级转板与一组装套件模块的拆解示意图。
13.图4为本发明实施例一升级转板与一组装套件模块的侧视剖面图。
14.图5为本发明实施例一升级转板与一组装套件模块的组合完成图。
15.图6为本发明实施例的一测试头座模块的剖面示意图。
16.附图标记说明：
[0017]1ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
测试机台
[0018]
10、20
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升级转板
[0019]
100
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转板
[0020]
102、30
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组装套件模块
[0021]
1020
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测试塔座
[0022]
1022
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加固环单元
[0023]
1024
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基底
[0024]
12
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机台本体
[0025]
120
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基座
[0026]
122
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测式头座模块
[0027]
300
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上方稳固套件模块
[0028]
3000～3010 上方配件单元
[0029]
302
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下方稳固套件模块
[0030]
3020～3022 下方配件单元
[0031]
sd
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容置空间
[0032]
ob
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待测物
[0033]
ap、op
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环测针
具体实施方式
[0034]
在说明书及权利要求书中使用了某些词汇来指称特定的组件。本领域技术人员应可理解，制造商可能会用不同的名词来称呼同样的组件。本说明书及权利要求书并不以名称的差异来作为区别组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区别的基准。在通篇说明书及权利要求书中所提及的「包含」为一开放式的用语，故应解释成「包含但不限定于」。
[0035]
请参考图1，图1为本发明实施例的一测试机台1的示意图。如图1所示，测试机台1包含有一升级转板10以及一机台本体12，其中升级转板10包含有一转板100与一组装套件模块102，而机台本体12包含有一基座120以及一测试头座模块122。据此，一待测物ob可放置于基座120的一容置空间sd，以对应进行待测物ob的测试工作，至于本实施例中的待测物ob可为一平面显示器的一驱动器，且对应包含有不同的针数，而测试机台1所对应的工作规格可为nd1(包含1280针数)、nd2(包含1536针数)或nd3(包含2304针数)，相关工作将于以下段落详述。
[0036]
请继续参考图2，图2为本发明实施例的一升级转板20的拆解示意图。较佳地，如图1所示，本实施例的升级转板20已包含转板100、组装套件模块102以及一基底1024，同时再参考图2，本实施例中的组装套件模块102还包含有一测试塔座(pogo tower)1020与一加固环单元1022。其中加固环单元1022用来连接至升级转板20的一上表面，使得转板100可通过加固环单元1022的紧密结构设置方式，来固定于加固环单元1022与测试塔座1020之间，以避免转板100于使用或测试的过程中因外力发生，而导致转板100发生形变，至于基底1024则用来承载转板100与加固环单元1022。
[0037]
请参考图3，图3为本发明实施例的一升级转板20与另一组装套件模块30的拆解示意图。如图3所示，本实施例中的组装套件模块30还包含有一上方稳固套件模块300与一下方稳固套件模块302，其中上方稳固套件模块300与下方稳固套件模块302可对应为一环型设计的多个套件组合体，即本实施例中上方稳固套件模块300还包含有上方配件单元3000～3010，而下方稳固套件模块302还包含有下方配件单元3020～3022，且上方配件单元3000～3010与下方配件单元3020～3022将依序迭设来连接升级转板20，以下将逐一说明本实施例中上方配件单元3000～3010与下方配件单元3020～3022所对应的不同名称及其相关的设置顺序。
[0038]
先从上方稳固套件模块300来说，其中上方配件单元3000为一夹钳座台盖板，且设置于升级转板20上；上方配件单元3001为一夹钳座台固定环，且设置于上方配件单元3000上；上方配件单元3002为一座台旋转座轴承，且设置于上方配件单元3001上；上方配件单元3003为一座台旋转座，包含有上方配件单元3002；上方配件单元3004为一夹钳座台盖板轴承，且设置于上方配件单元3000上；上方配件单元3005为一座台旋转座把手，且设置于上方配件单元3003上；上方配件单元3006为一定位块，且设置于上方配件单元3000上形成固定方式；上方配件单元3007为一测试塔座引导栓，且设置于上方配件单元3000上；上方配件单元3008为一传感器遮断片，且设置于上方配件单元3003上；上方配件单元3009为一夹钳座台盖板轴承，且设置于上方配件单元3000上；上方配件单元3010为一传感器外盖，且设置来对应上方配件单元3008。再从下方稳固套件模块302来说，下方配件单元3022为一夹钳座台基座，且设置于升级转板20下；下方配件单元3021为一升级转板专属座台，且设置于下方配件单元3022下；下方配件单元3020为一底盘，且设置于下方配件单元3021下。
[0039]
在此情况下，本实施例中的夹钳座台固定环(即上方配件单元3000)与升级转板专属座台(即下方配件单元3021)的环型设计，可用来上下结构锁固或环状固定升级转板20，同时，传感器遮断片(即上方配件单元3008)可用来验证上方稳固套件模块300与下方稳固套件模块302间是否已完成锁固升级转板20所对应的工作，以让测试机台1可对应进行待测物ob的测试工作。换言之，于本实施例中，使用者仅需利用上方配件单元3000～3010与下方配件单元3020～3022的环形结构设计，依序设置且连接锁固至升级转板20，即可完成上方稳固套件模块300与下方稳固套件模块302的组装工作，至于上方配件单元3000～3010与下方配件单元3020～3022间的锁固关系，例如可通过常见的机构配件组装与公、母螺纹的紧密咬合，非用以限制本发明的保护范围。
[0040]
较佳地，由于本实施例中上方配件单元3005形成座台旋转座把手，其可对应提供使用者施力的杠杆支点，同时搭配上方稳固套件模块300与下方稳固套件模块302的环型设计，使用者可直接推拉上方配件单元3005，即可让上方稳固套件模块300与下方稳固套件模
块302进行一顺时针旋转工作或一逆时针旋转工作，以将上方稳固套件模块300旋转连接/脱离升级转板20的上表面，或将下方稳固套件模块302旋转连接/脱离升级转板20的下表面，进而让上方稳固套件模块300与下方稳固套件模块302上下锁固且包覆升级转板20，据此，使用者可依据不同待测物的产品规格，相应地进行转板的升级工作，大幅提高产品的工作便利性与实用可扩充性。
[0041]
另外，本实施例中升级转板20与组装套件模块30的一侧视剖面图，还可参考图4所绘的内容来获得相关说明，至于图5所绘的一组合完成图，则为本实施例中组装完成的升级转板20与组装套件模块30的示意图。据此，组装完成的升级转板20与组装套件模块30将可相应地锁固于测试头座模块122上来替代原本的转板模块，以提供不同环测针数量的待测物的测试工作。
[0042]
除此之外，请参考图6，图6为本发明实施例的一测试头座模块122的剖面示意图。如图6所示，测试头座模块122包含有多个探针，其中，设置于内侧环状圆盘且为同圆心排列的环测针op，即为未升级前的一原始测试区域，设置于外侧环状圆盘且为同圆心排列的环测针ap，即为升级后的一新增测试区域。据此，本实施例仅需额外设置升级转板20来与组装套件模块30形成组装，即可让测试机台1进行不同环测针数量的平面显示器驱动器的测试工作，例如本实施例的升级转板20可让测试机台1适用于规格为nd1、nd2或nd3等不同的探针数量。相较于现有技术，本实施例已可大幅增加测试机台用来测试平面显示驱动器所对应的探针数量，而无须淘汰原本所使用的测试机台，进而提升其使用寿命与生产效能。
[0043]
请再参考图1，当使用者欲进行待测物ob的测试工作，使用者将于基座120的一容置空间sd放置一待测物ob，且待测物ob为包含有多个对应针孔的一芯片单元。进一步，本实施例中机台本体12还包含有一控制器，且当使用者通过控制器产生一控制命令来对基座120进行一铅直位移工作时，放置于容置空间sd内的待测物ob将随着基座120的铅直位移工作，对应电性连接至测试头座模块122的多个探针，并让多个探针相应地插入芯片单元中多个对应针孔来进行待测物的测试工作，进而取得待测物的电路检验与产品特性等相关结果报告。
[0044]
综上所述，本发明实施例提供一种具备有升级方法的测试机台，其可通过一升级转板与相关配件模块的组合工作，于未升级前的原始测试区域对应增设一新增测试区域，以用于不同环针数量的待测物的测试工作，使得相关制造或设备厂商无须淘汰既有测试机台，即可用来检验不同硬件规格的产品，同时提高既有测试机台的使用寿命与生产效能。
[0045]
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。