技术特征：
1.一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座(1)和检测头(2)，其特征在于，所述底座(1)上固定连接有支撑柱(3)，所述支撑柱(3)上通过固定杆(4)固定连接有检测板(5)，所述检测板(5)上设置有用于推动检测头(2)的助推机构，所述检测板(5)的正下方设置有检测台(6)，所述检测台(6)上设置有定位机构；所述助推机构包括设置于检测板(5)中部的轨道槽(7)，所述轨道槽(7)内滑动配合有推块(8)，所述轨道槽(7)沿检测板(5)的长度方向延伸，所述轨道槽(7)的两侧均设置有侧板(9)，所述侧板(9)采用c字形结构，两块所述侧板(9)固定连接于检测板(5)上，两块所述侧板(9)上均滑动连接有滑块(10)，两块所述侧板(9)上均转动连接有丝杆(11)，所述丝杆(11)沿侧板(9)的长度方向延伸，所述丝杆(11)上贯穿滑块(10)并与滑块(10)之间螺纹配合，两个所述滑块分别通过第一弹簧(12)与推块(8)弹性连接，所述推块(8)的底部采用磁性材料制成，所述检测头(2)上端固定连接有永磁块(13)，所述永磁块(13)与推块(8)之间异极相对。2.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位机构包括设置于检测台(6)上方的定位环(14)，所述定位环(14)的周侧壁上均布有四个安装块(15)，所述安装块(15)的下端固定连接有导向杆(16)，所述导向杆(16)贯穿并滑动连接于检测台(6)上，所述导向杆(16)的下端固定连接有固定板(17)，所述导向杆(16)上套设有第二弹簧(18)，所述第二弹簧(18)的两端分别与固定板(17)和检测台(6)连接。3.根据权利要求2所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述定位环(14)采用磁性材料制成，所述检测台(6)上表面嵌设有与定位环(14)共轴的环形电磁铁(19)，所述环形电磁铁(19)与定位环(14)之间异极相对，所述检测板(5)上设置有用于为环形电磁铁(19)供电的电磁感应机构。4.根据权利要求3所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述电磁感应机构包括多组导电线圈(20)和蓄电池(21)，多组所述导电线圈(20)均匀嵌设于轨道槽(7)的侧壁内，并且所述导电线圈(20)的绕置方向沿轨道槽(7)的长度方向延伸，所述蓄电池(21)安装于检测板(5)的侧壁上，所述导电线圈(20)与蓄电池(21)耦合连接，所述蓄电池(21)与环形电磁铁(19)电性连接。5.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述丝杆(11)的上端贯穿侧板(9)并固定连接有手柄(22)。6.根据权利要求1所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述检测头(2)的底部设置有滑槽(23)，所述滑槽(23)内滑动配合有滑动杆(25)，所述滑槽(23)的内顶面安装有碰撞传感器(24)，所述滑动杆(25)的下端固定连接有测压头(26)。7.根据权利要求6所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：所述滑槽(23)两侧的侧壁上设置有凹槽，所述凹槽内设置有定位块(27)，所述滑动杆(25)的侧壁上设置有与定位块(27)匹配的定位槽(28)，所述定位块(27)的一端固定连接有连接杆(29)，所述连接杆(29)远离定位块(27)的一端延伸至检测头(2)外并固定连接有翼板(30)，所述翼板(30)远离连接杆(29)的一面为凸起的弧面，另一面为平面，所述翼板(30)通过第三弹簧(31)与检测头(2)的侧壁连接。8.根据权利要求7所述的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，其特征在于：
所述检测头(2)内开设有通孔，所述连接杆(29)滑动设置于通孔内。
技术总结
本发明公开了薄膜生产检测设备技术领域的一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备，包括底座和检测头，所述底座上固定连接有支撑柱，所述支撑柱上通过固定杆固定连接有检测板，所述检测板上设置有用于推动检测头的助推机构，所述检测板的正下方设置有检测台，所述检测台上设置有定位机构；所述助推机构包括设置于检测板中部的轨道槽，所述轨道槽内滑动配合有推块，所述轨道槽沿检测板的长度方向延伸。本发明通过设置助推机构，实现对检测头的推动和加速，避免震动影响检测结果，通过设置定位机构，将微纳米光学薄膜压紧定位，防止其在检测过程中偏移滑动，通过设置碰撞传感器，便于工作人员直观、快速且准确的得知冲击力度数据。数据。数据。
技术研发人员：王水华
受保护的技术使用者：王水华
技术研发日：2022.04.11
技术公布日：2022/8/8