专利名称：新型低速大转矩测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于机械测量技术领域，更进一步属于新型低速大转矩测试仪。
目前工业中使用的转矩测试仪，大多采用电阻应变片采集转矩信号，再通过接触导电滑环(碳刷)或电感集流环输出，然后再输入一台专门仪器进行信号处理，成本很高，一台信号处理仪器往往占到整台转矩测试仪成本的60％－80％；此外，电阻应变片的贴片方位误差、应变片性能的离散性。弹性扭轴或弹性梁与被测轴的联接处因联轴器安装误差产生的横向干扰力及弯矩对扭矩信号的影响，信号输出过程中导电滑环(碳刷)接触电阻的不稳定变化以及环境温度的影响等等都将给测量信号带来误差，尤其在环境温度较高，噪音较大、环境灰尘较大(如锅炉炉排)、周围电磁场干扰较大的环境下进行大转矩测量，将产生较大误差，而且仪器安装调试复杂、碳刷易磨损、仪器使用寿命较短；还有一些光学式转矩测试仪，虽然可避免上述缺点，但因受人视觉范围的限制，无法测量低速转轴的转矩。
本实用新型的目的是克服上述缺点，省去集流环、电阻应变片以及其它容易造成信号传输误差和零件磨损的元件，也省去复杂而又昂贵的信号处理仪器和稳压电源，使测试仪器结构大大简化，抗干扰能力增强，测试精度提高，使用寿命增长。
本实用新型的主要技术方案如下
弹性扭轴位于本转矩测试仪的中心轴线位置，一短套筒套在弹性扭轴一端并与其固定联接，拨杆与短套筒固定联接，外壳一端与弹性扭轴另一端固定联接，外壳的另一端与一带有轴承的端盖固定联接，外壳相对套筒和拨杆可自由转动，在外壳上固定一个精密的位移测量表头，位移测量表头的顶杆触头与拨杆垂直。
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。
图1是本实用新型的结构示意图。
图2是图1的A向局部向视图。
图3是弹性扭轴传感器结构示意图。
如图1和图2所示，弹性扭轴传感器1的左端与套筒2之间通过圆锥销4联接，拨杆9与套筒2通过圆锥销6相联接，这样拨杆9可随弹性扭轴左端一起同步转动，弹性扭轴1的右端与壳体10通过圆锥销11相联接，壳体10与大端盖5之间通过螺钉12相联接，在大端盖5和套筒2之间装有轴承15，这样，可保证大端盖5、壳体10随弹性扭轴1的右端一起同步自由地相对于拨杆9、套筒2以及弹性扭轴1的左端转动；在大端盖5和轴承15的外面有一个小端盖14，通过螺钉13与大端盖5相联，在小端盖14和套筒2之间有密封圈3，防止灰尘进入仪器内部轴承内；扭矩显示表头17通过支架16固定在壳体10上，支架16固结在壳体10上，透明有机玻璃罩8通过螺钉7与壳体10相联接，罩在表头17及壳体10缺口外面，防止灰尘进入。
实施例一如图3所示，在弹性扭轴传感器两端直径突变处设计了一个特殊的内凹过渡圆角，使弹性扭轴传感器在保证其线性度和灵敏度的前提下，使用寿命得到提高。内凹过渡圆角由两部分组成，下部分为圆弧型廓线，上部分为直线型廓线。
实施例二在其它结构不变情况下，将拨杆9做成两头外伸的拨杆，在外壳10上180度方向安装两个扭矩显示表头。
本实用新型具有如下积极的技术效果它结构简单，安装调试方便，成本低，测试精度高，抗外部环境干扰能力强，尤其可在环境较差条件下正常工作，且使用寿命长。
权利要求1.新型低速大转矩测试仪，其特征在于弹性扭轴位于本转矩测试仪的中心轴线位置，一短套筒套在弹性扭轴一端并与其固定联接，拨杆与短套筒固定联接，外壳一端与弹性扭轴另一端固定联接，外壳的另一端与一带有轴承的端盖固定联接，外壳相对套筒和拨杆可自由转动，在外壳上固定一个精密的位移测量表头，位移测量表头的顶杆触头与拨杆垂直。
2.如权利要求1所述的新型低速大转矩测试仪，其特征在于弹性扭轴传感器两端直径突变处有一个特殊的内凹过渡圆角，该内凹过渡圆角由两部分组成，下部分为圆弧型廓线，上部分为直线型廓线。
3.如权利要求1所述的新型低速大转矩测试仪，其特征在于在外壳上端和下端有两个扭矩显示表头。
专利摘要本实用新型在机械测量技术领域公开了一种新型低速大转矩测试仪，它改变了传统测试仪的结构方式，采用短套筒与弹性扭轴传感器一端固定联接，拨杆与套筒固定联接，外壳一端与弹性扭轴固定联接，另一端与一带有轴承的端盖固定联接，外壳相对套筒和拨杆可自由转动，外壳上固定一精密的位移测量表头。本实用新型可广泛应用于低速运转的轴的转矩测量，测量范围可达30000N.m以上，具有结构简单，使用方便，测量精度高且寿命长的优点。
文档编号G01L3/04GK2196296SQ94210249
公开日1995年5月3日 申请日期1994年4月29日 优先权日1994年4月29日
发明者刘福林, 唐照民 申请人:西安交通大学