专利名称：可控硅直流调速系统故障诊断仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种可控硅故障诊断装置，特别是一种可控硅直流调速系统故障诊断仪。
目前普遍使用的可控硅直流调速系统，包括给定信号(输入部分)，速度(电压)调节器，电流调节器，移相触发和可控硅输出这几个部分。无论给定信号是数字化输入还是模拟量输入，产生可控硅触发信号之前，总少不了由反馈信号、速度调节器和电流调节器组成的速度环和电流环(也有单环系统)，而一旦出故障，最难检查的就是速度环和电流环部分，现在只能用三用表凭经验来判断，由于反馈信号和电流和速度调节器(PI)工作时相互影响，故障点很难判断，往往只能采取“替代法”逐个更换备件直至正常工作，因而需准备替代品，费用高，检测过程占用时间长，作业难度大。
本实用新型的目的在于提供一种能迅速判断出故障部位、耗时省、费用低的可控硅直流调速系统故障诊断仪。
实现本实用新型的目的的技术解决方案为一种自可控硅直流调速系统故障诊断仪，包括壳体、接口及检测电路，其特征在于检测电路由通用运算放大器F1、F2、F3和电阻W1、W2、W3、R1、R2、R3、电容C1、C2、C3组成，R1接在F1输入端，W1、C1跨接在F1输入、输出端之间，同时与Us接口并通过R2和F2输入端相连，W2、C2跨接在F2输入、输出端之间，同时与UL1接口连接，并通过R3和F3输入端相连，W3、C3跨接在F3输入与输出端之间，同时与UL2接口相连。
本实用新型与现有技术相比，其显著优点是可迅速及时判定被测物故障位置，不需替代品，测量结果直观明了，耗时省，测量费用低，仪器结构简单，体积小，例于携带，适于流动作业。
附图
是本实用新型的检测电路的一种电路结构示意图。
以下结合附图描述本实用新型的实施例。
结合附图，本实用新型的可控硅直流调速系统故障诊断仪由壳体、接口以及运算放大器F1、F2、F3和电阻W1、W2、W3，R1、R2、R3、R4、电容C1、C2、C3组成，壳体为长方形，面板上设有电压表V及电压输入、输出接口Ug、Us、UL1、UL2，电阻R1接在F1输入端，W1、C1跨接在F1输入、输出端之间，同时与Us接口连接并通过R2和F2输入端相连，W2、C2跨接在F2输入、输出端之间，同时与UL1接口连接并通过R3和F3输入端相连，W3、C3跨接在F3输入、输出端之间，同时与UL2接口相连并与电阻R4相连接，F1输入端Ug接给定输入电压，F1、F2、F3采用LM348(通用器运算放大器)，与上述电阻、电容构成一阶惯性环节，以模拟速度反馈和电流反馈信号，C1、C2、C3一般在0.01～0.33μ之间，R1～R4取10K，W1、W2、W3取15K。运算放大器输入端与公共端M之间还可连接双向二极管D。以诊断西门子V57系统不稳定故障为例，首先切断电源，然后，1、拆去V57系统A2板速度反馈信号17号端子，拔去电流反馈信号四根接线X1、X2、X3、X4；2、以给定信号为正极，将诊断仪F1输入端接口Ug接至A1板56号端子输出端US拖至A2板B3，F3输入端UL2接至A2板BC端，仪表V的一端UK接至A2板C，另一端M与V57系统M3连接；3、将W1、W3调至最大值，W2调至最小值(短接)；4、接通电源，先开点动，调正W1、W3，使仪表V指针摆动幅度达
左右，然后开运转最低速度，发现仪表V指针抖动厉害，说明故障在PI调节器部分；5、断开电源，将仪表V的UK端按至A2板BX端；6、重复第四条操作，发现仪表仍然抖动，说明故障在PI调节器；7、再次停电，重新将仪表V的UK接至A2板N4第6脚(或R137)，重复第四条过程，仪表V指针仍然抖动，说明故障在N4；8、后经仔细检查，发现以前的调节放大倍数更换过的电阻R25铆接部接触不良，换上同规格电阻后试验，仪表指针不再抖动，最后复原，故障排除。
权利要求1.一种可控硅直流调速系统故障诊断仪，由壳体、输入、输出接口及检测电路组成，其特征在于检测电路由通用运算放大器F1、F2、F3和电阻W1、W2、W3、R1、R2、R3、电容C1、C2、C3组成，R1接在F1输入端，W1、C1跨接在F1输入、输出端之间，同时与Us接口并通过R2和F2输入端相连，W2、C2跨接在F2输入、输出端之间，同时与UL1接口并通过R3和F3输入端相连，W3、C3跨接在F3输入端与输出端之间，同时与UL2接口相连。
2.根据权利要求1所述的可控硅直流调速系统故障诊断仪，其特征在于运算放大器输入端与公共端之间，连接有二级管D。
3.根据权利要求1或2所述的可控硅直流调速系统故障诊断仪，其特征在于在运算放大器F3输出端接有电阻R4。
专利摘要本实用新型公开了一种可控硅直流调速系统故障诊断仪。它由壳体、电压输出接口及检测电路组成,检测电路由通用运算放大器以及跨接于其输入端的输出端之间的电阻和电容构成,各运算放大器之间通过电阻连接。本实用新型结构简单,体积小,可实时迅速测量出被测物故障位置,测量费用低,不需备用件,广泛适用于各种可控硅调速系统的故障诊断。
文档编号G01R31/28GK2358459SQ9824298
公开日2000年1月12日 申请日期1998年12月23日 优先权日1998年12月23日
发明者陈武初 申请人:陈武初