激光二维样板测量仪校准方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种激光二维样板测量仪校准方法，属于一种仪器的校正方法。
【背景技术】
[0002]激光二维测量仪主要用于测量样板的各项几何尺寸，其是采用电子和光学元件对样板切割类零件如样板等进行图形采集和处理的系统，为了检查生产过程中零件质量，系统将采集和处理的数据与零件的原始CAD图形进行比较，数据采集以半自动的方式进行。操作者将零件放置在工作台上，然后启动检测并对结果进行评估。测量结果以图形和表格的方式显示出来，并且可以打印输出测量结果，而国家无此类型设备校准方法。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是提供一种激光二维样板测量仪校准方法，该方法填补了此项工作领域的空白，不但提高了工作能力，每年为公司节省了外送检定的费用，更为公司的生产进度做出计量保证。
[0004]为解决以上问题，本发明的具体技术方案如下:一种激光二维样板测量仪校准方法，包括以下步骤:
O设置量块夹具:在量块夹具上设置四条直线，利用水平翻转夹具满足量块在空间7个位置上的测量，其中包括为两条竖直线IV和竖直线V，一条水平线I，与水平线I成30度角的斜线I1、与水平线I成45度角的斜线III，与水平线I成150度角的斜线VI和与水平线I成135度角的斜线VE ;
2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块；
3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线1、斜线I1、斜线III和竖直线IV上，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿零件的下端向上端扫描，水平线I从一端扫描至另一端，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，通过软件计算量块尺寸测得值；
4)然后将量块夹具水平翻转，再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线V、斜线VI和斜线VII，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿零件的上端到下端扫描，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，通过软件计算量块尺寸测得值；
5)将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
[0005]当采用长度为100mm的量块进行测量时，该量块的长度达不到测量激光二维样板测量仪测量范围的66%，需将长度为100mm的量块正面粘贴A贴，反面粘贴B贴，且A贴与B贴之间应预留足够的距离；当扫描完成正面后，翻转量块，并放置在剩余的长度方向上，进行二次扫描，计算机通过对A贴和B贴的运算处理，得出最终的量块轮廓线，从而通过软件计算量块尺寸测得值；将量块的测得值与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
[0006]该激光二维样板测量仪校准方法采用上述步骤对测量仪进行校准，不仅检测方法快速准确，而且有效的节省了大量的人力物力，节省了开资。
[0007]对于测量长度过长的情况，可以采用量块设置AB贴进行叠加扫描的方法，不仅减少了量块数量的使用，而且提高了检测的精度。
【附图说明】
[0008]图1为量块夹具直线分布图。
[0009]图2为量块夹具直线空间位置图。
[0010]其中1-水平线1、2-斜线11、3-斜线111、4-竖直线1￥、5-竖直线￥、6-斜线/1、7-斜线VE。
【具体实施方式】
[0011]一种激光二维样板测量仪校准方法，包括以下步骤:
1)设置量块夹具，如图1所示:在量块夹具上设置四条直线，一条水平线I，与水平线I成30度角的斜线I1、与水平线I成45度角的斜线III，与水平线I成90度角的斜线IV ;
2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块；
3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线1、斜线I1、斜线III和竖直线IV上，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿量块的下端向上端扫描，水平线I从一端扫描至另一端，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，从而通过软件计算量块尺寸测得值。
[0012]4)然后将量块夹具水平翻转，夹具上直线位置变为一条水平线I，与水平线I成150度角的斜线VI，与水平线I成135度角的斜线VII，与水平线I成90度角的垂直V，再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线V、斜线VI和斜线VE位置，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿零件的量块的上端向下端扫描，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，从而通过软件计算量块尺寸测得值。
[0013]5)将得到的量块的测得值与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
[0014]当采用长度为1000_的量块进行测量时，该量块的长度达不到测量激光二维样板测量仪测量范围的66%，需将长度为100mm的量块正面粘贴A贴，反面粘贴B贴，且A贴与B贴之间应预留足够的距离；当扫描完成正面后，翻转量块，并放置在剩余的长度方向上，进行二次扫描，计算机通过对A贴和B贴的运算处理，得出最终的量块轮廓线，从而通过软件计算量块尺寸测得值，将量块的测得值与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
[0015]本申请在国家没有技术规范的情况下，参考三坐标测量机、数控机床检测等国家技术规范，选择一组4块递增尺寸3等标准量块，利用测量夹具水平翻转，在测量仪7个空间位置进行检测，并且由于量块最大长度达不到本仪器测量范围的66%，参考相关技术文件，需要对Im量块分段检测，本发明全面、科学的判定了各个空间位置的检测误差作为评价该设备的标准，并形成了企业校准方法，填补此项工作领域的空白，同时也提高了工作能力，每年为公司节约外送检定、修理等费用，更为公司的生产进度作出计量保证。
【主权项】
1.一种激光二维样板测量仪校准方法，其特征在于包括以下步骤: O设置量块夹具:在量块夹具上设置四条直线，利用水平翻转夹具满足量块在空间7个位置上的测量，其中包括为两条竖直线IV和竖直线V，一条水平线I，与水平线I成30度角的斜线I1、与水平线I成45度角的斜线III，与水平线I成150度角的斜线VI和与水平线I成135度角的斜线VE ; 2)选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块； 3)分别采用不同长度的量块依次放在水平线1、斜线I1、斜线III和竖直线IV上，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿零件的下端向上端扫描，水平线I从一端扫描至另一端，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，通过软件计算量块尺寸测得值； 4)然后将量块夹具水平翻转，再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线V、斜线VI和斜线VII，当尺寸不同的量块放置在每一条测量线位置时，激光二维样板测量仪开始沿零件的上端到下端扫描，并分别得出不同量块在不同位置的轮廓线，通过软件计算量块尺寸测得值； 5)将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
2.如权利要求1所述的激光二维样板测量仪校准方法，其特征在于:当采用长度为100mm的量块进行测量时，该量块的长度达不到测量激光二维样板测量仪测量范围的66%，需将长度为100mm的量块正面粘贴A贴，反面粘贴B贴，且A贴与B贴之间应预留足够的距离；当扫描完成正面后，翻转量块，并放置在剩余的长度方向上，进行二次扫描，计算机通过对A贴和B贴的运算处理，得出最终的量块轮廓线，从而通过软件计算量块尺寸测得值；将量块的测得值与实际量块的长度进行比对，误差为测得值与标量块实际长度的标准值之差，计算误差不大于激光二维样板测量仪最大允许误差，即可合格。
【专利摘要】本发明涉及一种激光二维样板测量仪校准方法，包括以下步骤：1）设置量块夹具；2）选择长度为40mm、500mm、800mm和1000mm的量块；3）分别采用不同长度的量块依次放在水平线Ⅰ、斜线Ⅱ、斜线Ⅲ和竖直线Ⅳ上进行扫描，通过软件计算量块尺寸测得值；4）然后将量块夹具水平翻转，再分别采用不同长度的量块依次放在竖直线Ⅴ、斜线Ⅵ和斜线Ⅶ，再次进行扫描，通过软件计算量块尺寸测得值；5）将得到的量块的轮廓线与实际量块的长度进行比对，评判测量仪是否合格。该方法填补了此项工作领域的空白，不但提高了工作能力，每年为公司节省了外送检定的费用，更为公司的生产进度做出计量保证。
【IPC分类】G01B11-00
【公开号】CN104748682
【申请号】CN201510138276
【发明人】刘洪霞, 李锋
【申请人】沈阳飞机工业（集团）有限公司
【公开日】2015年7月1日
【申请日】2015年5月8日