一种测量物体间偏差的方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种测量物体间偏差的方法，特别涉及利用光束与等面积线原理测量 物体间偏差的方法。
【背景技术】
[0002] W往，在很多的情况下，物体与物体之间的偏差是很难精确测量的。因此，存在人 为测量难度大、实时性差并且精度低的问题。因此，当前急需一种根据探测物体(例如，物体 A)的强度分布来计算物体A强度的中也与探测器参考点(例如，物体B，并且探测器固定在 物体B上）的偏离距离的方法。
【发明内容】
[0003] 本发明是为了解决上述课题而提出的，其目的在于提供一种利用光束与等面积线 原理测量物体间偏差的方法。
[0004] 为了达到上述目的，本发明提供一种测量物体间偏差的方法，其特征在于，具有如 下步骤： (a) 利用在X轴上排列多个单位探测器而成的探测器阵列测量来自光源的光束的光强 分布曲线； (b) 根据在步骤（a)中得到的光强分布曲线，得到所述光强分布曲线与X轴所包围的封 闭曲线在所选取的参考点即X轴0点的两侧的光通量之差，由此，确定光束中也与所述探测 器阵列的所述参考点之间的偏差。
[0005] 此外，在本发明的测量物体间偏差的方法中， 在所述步骤（b)中，在所述探测器阵列的单位探测器数量为M并且选择第N号单位探 测器与第化1号单位探测器的沿X轴方向上的连线的中也线与X轴的交点作为所述参考点 的情况下， 所述参考点的一侧的光通量为
【主权项】
1. 一种测量物体间偏差的方法，其特征在于，具有如下步骤： (a) 利用在X轴上排列多个单位探测器而成的探测器阵列测量来自光源的光束的光强 分布曲线； (b) 根据在步骤（a)中得到的光强分布曲线，得到所述光强分布曲线与X轴所包围的封 闭曲线在所选取的参考点即X轴〇点的两侧的光通量之差，由此，确定光束中心与所述探测 器阵列的所述参考点之间的偏差。
2. 如权利要求1所述的测量物体间偏差的方法，其特征在于， 在所述步骤（b)中，在所述探测器阵列的单位探测器数量为M并且选择第N号单位探 测器与第N+1号单位探测器的沿X轴方向上的连线的中心线与X轴的交点作为所述参考点 的情况下， Σ]\? ，所述参考点的另一侦彳的光 A·=丄 通量为
其中，X为单位探测器沿X轴方向的厚度；H为单位探测器的宽度；Yk为第k号单位探 测器在X*H面积内探测到的光的强度， 在设h为第N+1号单位探测器探测到的光强并且d为光束中心与所述探测器阵列的所 述参考点之间的偏差时，d由如下公式得到，
【专利摘要】本发明涉及一种测量物体间偏差的方法，其特征在于，具有如下步骤：（a）利用在X轴上排列多个单位探测器而成的探测器阵列测量来自光源的光束的光强分布曲线；（b）根据在步骤（a）中得到的光强分布曲线，得到所述光强分布曲线与X轴所包围的封闭曲线在所选取的参考点即X轴0点的两侧的光通量之差，由此，确定光束中心与所述探测器阵列的所述参考点之间的偏差。
【IPC分类】G01B11-00, G01B11-02
【公开号】CN104880148
【申请号】CN201410070827
【发明人】李宁, 张新华, 于华林, 刘思源
【申请人】同方威视技术股份有限公司
【公开日】2015年9月2日
【申请日】2014年2月28日