r>[0048] 综上，本发明实施例的棱台参数测量方法，获取待测的棱台的实测参数之后，将该 参数带入标准棱台的横切面参数满足的数学模型中，通过最小二乘法确定符合该待测的棱 台的横切面参数满足的数学模型，在极限状态下求得该待测的棱台的体积和高度；用待测 的棱台的实测参数确定该数学模型，并在极限状态下得到该棱台的参数，提高了棱台参数 测量的准确度。
[0049] 实施例二
[0050] 参照图2,图2是本发明棱台参数测量方法的第二个实施例的方法流程图。
[0051] 在实施例一的基础上，在步骤S105之后，还包括：
[0052] S106,将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比较，将比较结果作为 测量的精确度。
[0053] 将计算得到的结果与CTQ给出的标准参数做比较，将比较结果作为测量的精确 度，将测量得到的棱台参数与标准参数做减法得到的差值作为测量误差，或者将该差值除 以标准参数得到误差百分比。
[0054] 该棱台参数测量方法也可以用在其他应用领域进行参数的测量或控制。
[0055] 综上，本发明实施例的棱台参数测量方法，用待测的棱台的实测参数确定标准棱 台满足的数学模型并在极限状态下得到该棱台的参数，从而得到该棱台测量的精确度，提 高了棱台参数测量准确度，并且可以更好地反映仪器的测量精度。
[0056] 实施例三
[0057] 参照图3,图3是本发明棱台参数测量系统的第一个实施例的系统结构图，本发明 的方法实施例和系统实施例属于同一构思，在系统实施例中未详尽描述的细节内容，可以 参考上述方法实施例。
[0058] 直角坐标系建立单元01，用于建立平面直角坐标系；
[0059] 建立平面直角坐标系，确定横切面中心点的坐标，但建系方法不唯一。
[0060] 切割单元02,用于对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的η 个横切面，所述η个横切面为1，2，一，i，···，!!个横切面，Ki Sn;
[0061] 参数获取单元03,用于获取所述η个横切面的参数，包括横切面的高度Ill，中心点 坐标（X1^1)和面积S1，所述横切面的高度匕为所述横切面与所述下表面的距离；
[0062] 通过相关仪器获取待测的棱台的η个横切面以及横切面的参数，包括横切面的高 度Iii，中心点坐标（Xi, y;)，面积Sic3
[0063] 数学模型确定单元04,用于将所述棱台的η个横切面的参数带入预知的数学模 型，得到4*η组方程，用最小二乘法确定所述数学模型；
[0064] 该数学模型为标准棱台的横切面参数满足的数学模型，用最小二乘法求得数学模 型中的待定系数，确定该待测的棱台的横切面的中心点坐标（Xi, Yi)，面积Si和横切面以上 棱台的体积V1满足的数学模型。
[0065] 棱台参数获取单元05,用于根据所述确定的数学模型，令V1=O,得到所述棱台的 高度；令Iii= 0,求得所述待测棱台的体积。
[0066] 综上，该棱台参数测量系统，将检测获取的棱台的横切面参数，带入标准棱台的横 切面参数满足的数学模型，通过最小二乘法确定该数学模型中的待定系数，得到符合该棱 台的横切面参数满足的数学模型，在极限状态下求得该棱台的参数，提高了棱台参数测量 的准确度。
[0067] 实施例四
[0068] 参照图4,图4是本发明棱台参数测量系统的第二个实施例的系统结构图。
[0069] 在实施例三的基础上，该系统还包括：
[0070] 精确度获取单元06,用于将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比 较，将比较结果作为测量的精确度；
[0071] 将测量得到的棱台参数与标准参数做减法得到的差值作为测量误差，或者将该差 值除以标准参数得到误差百分比。
[0072] 横切面个数设置单元07,用于设置横切面的个数η，η为100, 200,或300。
[0073] 棱台的横切面的个数越多，根据该横切面的参数确定的数学模型越接近棱台的实 际特性，求得的参数更接近于该棱台的实际参数。
[0074] 综上，该棱台参数测量系统，用待测的棱台的实测参数确定标准棱台满足的数学 模型并在极限状态下得到该棱台的参数，从而得到该棱台测量的精确度，提高了棱台参数 测量准确度，并且可以更好地反映仪器的测量精度。
【主权项】
1. 一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法，其特征在于，包括： 放置待测的棱台； 建立平面直角坐标系； 对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，所述n个横切 面为1，2,…，i，…，n个横切面，<n，获取所述n个横切面的参数，包括横切面的高 度Ii1，中心点坐标（Xl，yi)和面积S1，所述横切面的高度Ill为所述横切面与所述下表面的距 离； 将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，得到4*n组方程，用最小二乘法 确定所述数学模型，所述数学模型为：其中，Vi为所述棱台的横切面以上棱台的体积，apId1,a2,b2,a3,b3,c3,a4,b4,c4, (14为 待定系数； 根据所述确定的数学模型，令Vi= 0,得到所述棱台的高度；令1^= 0,求得所述棱台的 体积。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述求得所述棱台的体积之后，还包括： 将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比较，将比较结果作为测量的精确度。3. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述n为100, 200或300。4. 一种锡膏检测精度检验的棱台参数测量系统，其特征在于，包括： 直角坐标系建立单元，用于建立平面直角坐标系； 切割单元，用于对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切 面，所述n个横切面为1，2，…，i，…，n个横切面，l<iSn; 参数获取单元，用于获取所述n个横切面的参数，包括横切面的高度Ill，中心点坐标 (Xl，yi)和面积S1，所述横切面的高度匕为所述横切面与所述下表面的距离； 数学模型确定单元，用于将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，得到 4*n组方程，用最小二乘法确定所述数学模型； 棱台参数获取单元，用于根据所述确定的数学模型，令V1= 0,得到所述棱台的高度； 令Iii = 0，求得所述待测棱台的体积。5. 根据权利要求4所述的系统，其特征在于，还包括： 精确度获取单元，用于将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比较，将比 较结果作为测量的精确度。6. 根据权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括： 横切面个数设置单元，用于设置横切面的个数n，n为100, 200或300。
【专利摘要】本发明公开了一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统。该方法包括：放置待测的棱台；对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，获取所述n个横切面的参数；建立平面直角坐标系；将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，用最小二乘法确定所述数学模型，并根据所述确定的数学模型得到所述棱台的参数。本发明用待测的棱台的实测参数确定预知的数学模型，并在极限状态下得到该棱台的参数，提高了棱台参数测量的准确度。
【IPC分类】G01B21/08, G06F19/00, G01B21/00
【公开号】CN105043314
【申请号】CN201510217305
【发明人】王锦峰, 寇冠中
【申请人】东莞市神州视觉科技有限公司
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年4月30日