两斜孔的进、出口位置而实施检测；盖板4通过固定螺钉5配合连接 在安装被测工件6的台阶孔的端面上，当压紧螺钉2顶着被测工件6上移时由盖板4实现 限位；被测工件6固定之前，校准板3配合连接在盖板4的前端定位基准面上，用于校准被 测工件6的斜孔方向。
[0035] 本发明的检测装置的具体结构如下：
[0036] 长方体1的外形是25X22X15(以下简称长、宽、高、单位全为_)，长X高的两端 面中心设计有两相通的型腔。一侧端面中心设计有台阶孔，上部的大孔尺寸Φ4?:αι、其深 度2. 6,下部的小孔尺寸Φ3. 3、其深度4.6。另一侧端面中心是Μ6的螺纹孔，深度> 15.5; 长方体1的一部分需要切除，切除部分类似不对称梯形状（详见附图5,6)，具体部位是与 高度方向平行、从长X高端面台阶孔中心线往下0.2的平行处切入8,然后转换成5Γ切 出；切除不对称梯形状后留有近半个台阶孔的端面上，需要加工两个螺孔，螺孔的中心连线 与切口平行；
[0037] 压紧螺钉2是一端设计有十字槽的螺钉，固定工件在检具内的状态；
[0038] 盖板4是被测工件装入检具后的基准及限位，与长方体1配合，盖板4配合面的尺 寸与长方体1的配合面一致。配合面横向设计两通孔，其通孔的中心坐标位置同长方体1 上的两螺孔一致，用两固定螺钉5永久固定。固定后与长方体1切除面相同方向的平面，必 须确保齐平，盖板4的此平面为校准板3的定位基准。
[0039] 校准板3也为长方体，长方体的横向中部加工一斜槽，斜槽两侧平面的平面度 永0. 002,斜槽底面与两侧平面的倾斜度永0. 002。确保校准板3的平面度和倾斜度要求，方 能够实施工件的斜孔中心连线的调整，符合检具的检测要求，被测工件固定后校准板3撤 去。
[0040] 一种两相交小孔共面度检测方法，包括以下步骤：
[0041] 1)被测工件的安装
[0042] 将盖板4安装至长方体1的上端面用固定螺钉5永久固定，将压紧螺钉2旋入长 方体1的螺纹孔内；将被测工件6的上端面朝向盖板4装入检具，使用校准板3定位被测工 件6的位置方向，然后调整压紧螺钉2顶住被测工件6,然后启动和调整光学显微镜；
[0043] 2)被测工件的检测
[0044] 步骤1 :光学显微镜的检测平台上设置X方向限位；
[0045] 步骤2 :盖板4朝上，使长方体1的长度方向完整面靠上限位，调整目镜和焦距；
[0046] 步骤3、检测一个进口椭圆中心的X、Y方向坐标位置为基准，检测另一个进口椭圆 中心与基准的Υ方向偏移量，检测两椭圆相切处的X方向上的距离< 0. 01 ;
[0047] 步骤4 :向右翻转90°，使长方体1的长度方向完整面靠上限位，调整焦距和水平 方向移动检具，检测一个出口椭圆中心与基准的Υ方向偏移量；
[0048] 步骤5 :翻转180°，使长方体1的长度方向完整面靠上限位，调整焦距检测另一个 出口椭圆中心与基准的Υ方向偏移量；
[0049] 步骤6 :收集检测的四次数据，评判被测工件6的质量符合度。
【主权项】
1. 一种两相交小孔共面度检测装置，包括检具、光学显微镜，其特征在于：所述检具由 长方体（1)、压紧螺钉似、校正板（3)、盖板（4)、固定螺钉（5)组成，长方体（1)的上端面 中屯、设有安装被测工件化）的台阶孔，长方体（1)下端面上设有与安装被测工件化）的孔 相通的螺纹孔，螺纹孔内旋有压紧螺钉（2)，长方体（1)前端面呈不对称梯形状，用于实现 对被测工件（6)两对斜孔的方向校准，W显露工件两斜孔的进、出口位置而实施检测；盖板 (4)通过固定螺钉（5)配合连接在安装被测工件（6)的台阶孔的端面上，当压紧螺钉似顶 着被测工件（6)上移时由盖板（4)实现限位；被测工件（6)固定之前，校准板（3)配合连接 在盖板（4)的前端定位基准面上，用于校准被测工件化）的斜孔方向。2. 根据权利要求1所述的两相交小孔共面度检测装置，其特征在于：所述长方体（1) 前端面的不对称梯形状由一个距离台阶孔的中屯、面0. 2mm处、深度8mm的平行面和一个从 平行面下端至长方体前端面、并与台阶孔的中屯、面呈5Γ角的斜面构成。3. 根据权利要求1所述的两相交小孔共面度检测装置，其特征在于：所述长方体（1) 外形的长、宽、高为25mmX22mmX15mm;所述台阶孔上部的大孔尺寸为冰4+^tmm.、其深 度为2. 6mm，下部的小孔尺寸为Φ3. 3mm、其深度4. 6mm;所述螺纹孔为M6,深度> 15. 5mm。4. 根据权利要求1所述的两相交小孔共面度检测装置，其特征在于：所述压紧螺钉（2) 为十字槽的螺钉；所述盖板（4)与长方体（1)配合连接面上横向设有两个通孔，所述通孔的 中屯、坐标位置同长方体（1)上的两螺孔一致。5. 根据权利要求1所述的两相交小孔共面度检测装置，其特征在于：所述校准板（3) 为长方体，长方体的横向中部加工有一斜槽，斜槽两侧平面的平面度未0. 002,斜槽底面与 两侧平面的倾斜度未0. 002。6. -种应用权利要求1-5任一项所述的两相交小孔共面度检测装置的检测方法，其特 征在于，包括W下步骤： 1) 被测工件的安装 将盖板（4)安装至长方体（1)的上端面用固定螺钉（5)永久固定，将压紧螺钉（2)旋入 长方体（1)的螺纹孔内；将被测工件（6)的上端面朝向盖板（4)装入检具，使用校准板（3) 定位被测工件化）的位置方向，然后调整压紧螺钉（2)顶住被测工件化），然后启动和调整 光学显微镜； 2) 被测工件的检测 步骤1 :光学显微镜的检测平台上设置X方向限位； 步骤2 :盖板（4)朝上，使长方体（1)的长度方向完整面靠上限位，调整目镜和焦距； 步骤3、检测一个进口楠圆中屯、的Χ、Υ方向坐标位置为基准，检测另一个进口楠圆中屯、 与基准的Υ方向偏移量，检测两楠圆相切处的X方向上的距离《0. 01 ; 步骤4:向右翻转90°，使长方体（1)的长度方向完整面靠上限位，调整焦距和水平方 向移动检具，检测一个出口楠圆中屯、与基准的Υ方向偏移量； 步骤5 :翻转180°，使长方体（1)的长度方向完整面靠上限位，调整焦距检测另一个出 口楠圆中屯、与基准的Υ方向偏移量； 步骤6:收集检测的四次数据，评判被测工件化）的质量符合度。
【专利摘要】本发明涉及一种两相交小孔共面度检测装置及方法，该装置包括检具、光学显微镜，检具由长方体、压紧螺钉、校正板、盖板、固定螺钉组成，长方体的上端面中心设有安装被测工件的台阶孔，长方体下端面上设有与安装被测工件的孔相通的螺纹孔，螺纹孔内旋有压紧螺钉，长方体前端面呈不对称梯形状，用于实现对被测工件两对斜孔的方向校准，以显露工件两斜孔的进、出口位置而实施检测；盖板配合连接在安装台阶孔的端面上，当压紧螺钉顶着被测工件上移时由盖板实现限位；被测工件固定之前，校准板配合连接在盖板的前端定位基准面上。运用该检测方法和检具，借助于光学显微镜能够精确地检测、获取工件中两对斜孔的进、出口中心位移参数，有效而可靠。
【IPC分类】G01B21/00
【公开号】CN105241408
【申请号】CN201510796834
【发明人】缑楠楠, 王志骏, 胡欣翔, 李涛, 苏二锐
【申请人】上海衡拓液压控制技术有限公司
【公开日】2016年1月13日
【申请日】2015年11月18日