。 这里，应理解，可以所述预定角度范围的端点为起点来以第二增量步长为间隔选取所述多 个理论入射角，也可以所述预定角度范围内的任一角度值为起点来以第二增量步长为间隔 选取所述多个理论入射角。
[0072] 应理解，选取的理论入射角的数量与选取的实际入射角的数量可相同也可不同。 优选地，第一增量步长的数值大于第二增量步长的数值，也就是说，优选地，选取理论入射 角的精度可高于选取实际入射角的精度，这样有助于找到与实际入射角更为贴近的理论入 射角。
[0073] 下面参照图3来详细描述根据提取的纵波速度、横波速度和密度，来计算所述多 个理论入射角中的每个理论入射角在每个采样点处的反射系数的步骤。
[0074] 图3示出根据本发明示例性实施例的计算每个理论入射角在每个采样点处的反 射系数的步骤的流程图。
[0075] 参照图3,在步骤S301中，根据提取的纵波速度、横波速度和密度，计算所述多个 理论入射角中的第j个理论入射角 '在第k个采样点处的扩展弹性阻抗EEIk(x ,)。这 里，j和k的初始值均为1，然而，本发明不限于此，j的初始值还可为M、k的初始值还可为 N0
[0076] 可选地，可利用下面的公式的来计算第j个理论入射角X j在第k个采样点处的 扩展弹性阻抗EEIk(x ,)，
[0078] 其中，
[0079] Pj= cos X j+sin X j
[0080] qj= _8Ksin x j
[0081] rj= cos x j-4Ksin x s
[0082] 公式（3)中，EEIk ( x J为所述多个理论入射角中的第j个理论入射角x j在第k 个采样点处的扩展弹性阻抗，I < j < M，M为选取的理论入射角的总个数，I < k < N，N为 选取的采样点的总个数，<^为所述目的层段中与第k个采样点对应的纵波速度，β k为所 述目的层段中与第k个采样点对应的横波速度，P ,为所述目的层段中与第k个采样点对应 的密度，α。为所述目的层段中的纵波速度的初始值，β。为所述目的层段中的横波速度的 初始值，Pc为所述目的层段中的密度的初始值，K为纵横波速度比的平均值，K= [(β k+1/ ak+1)2+ak/ak)2]/2, ak+1为所述目的层段中与第k+1个采样点对应的纵波速度，i3k+1为 所述目的层段中与第k+Ι个采样点对应的横波速度。
[0083] 在步骤S302中，判断k是否等于N，这里，1彡k彡N，N为选取的采样点的总个数， N为大于零的自然数。
[0084] 如果k不等于N，则执行步骤S303 :使得k = k+Ι，并返回执行步骤S301。
[0085] 如果k等于N，则执行步骤S304 :得到第j个理论入射角X j在每个采样点处的扩 展弹性阻抗。
[0086] 这里，应该理解，如果k的初始值为N，则可在步骤S302中判断k是否等于1，如果 k不等于1，则在步骤S303中可使得k = k-Ι，然后再返回执行步骤S301。如果k等于1，则 执行步骤S304 :得到第j个理论入射角X ,在每个采样点处的扩展弹性阻抗。
[0087] 在步骤S305中，根据第j个理论入射角X ,在每个采样点处的扩展弹性阻抗，来 计算第j个理论入射角 '在第k个采样点处的反射系数。
[0088] 可选地，可利用下面的公式的来计算第j个理论入射角X j在第k个采样点处的 反射系数RkU l
[0090] 公式（4)中，Rk ( X J为所述多个理论入射角中的第j个理论入射角X ;在第k个 采样点处的反射系数，I < j < M，M为选取的理论入射角的总个数，I < k < N，N为选取的 采样点的总个数，EEIk+1 ( X j为所述多个理论入射角中的第j个理论入射角X j在第k+Ι个 采样点处的扩展弹性阻抗，EEIk ( X ,)为所述多个理论入射角中的第j个理论入射角X ,在 第k个采样点处的扩展弹性阻抗。
[0091] 在步骤S306中，判断k是否等于N，这里，1彡k彡N，N为选取的采样点的总个数， N为大于零的自然数。
[0092] 如果k不等于N，则执行步骤S307 :使得k = k+Ι，并返回执行步骤S305。
[0093] 如果k等于N，则执行步骤S308 :得到第j个理论入射角X ,在每个采样点处的反 射系数。此时，可根据得到的第j个理论入射角 '在每个采样点处的反射系数绘制出与 第j个理论入射角 '对应的反射系数曲线。
[0094] 这里，应该理解，如果k的初始值为N，则可在步骤S306中判断k是否等于1，如果 k不等于1，则在步骤S307中可使得k = k-Ι，然后再返回执行步骤S305。如果k等于1，则 执行步骤S308 :得到第j个理论入射角X ,在每个采样点处的反射系数。
[0095] 在步骤S309中，判断j是否等于M，这里，I < j < M，M为选取的理论入射角的总 个数，M为大于零的自然数。
[0096] 如果j不等于N，则执行步骤S310 :使得j = j+Ι，并返回执行步骤S301。
[0097] 如果j等于N，则执行步骤S311 :得到每个理论入射角在每个采样点处的反射系 数。此时，可绘制出与每个理论入射角分别对应的反射系数曲线。
[0098] 这里，应该理解，如果j的初始值为M，则可在步骤S309中判断j是否等于1，如果 j不等于1，则在步骤S310中可使得j = j-Ι，然后再返回执行步骤S301。如果j等于1，则 执行步骤S311 :得到每个理论入射角在每个采样点处的反射系数。
[0099] 返回图1，在步骤S40中，根据所述多个理论入射角的反射系数和所述多个实际入 射角的反射系数，分别确定与所述多个实际入射角中的每个实际入射角对应的等效理论入 射角。
[0100] 下面参照图4来详细描述确定与每个实际入射角对应的等效理论入射角的步骤。
[0101] 图4示出根据本发明示例性实施例的确定与每个实际入射角对应等效的理论入 射角的步骤的流程图。
[0102] 参照图4,在步骤S401中，计算第i个实际入射角的反射系数与第j个理论入射角 的反射系数的相关系数。这里，i和j的初始值为1，然而，本发明不限于此，i的初始值还 可为n，j的初始值还可为M。
[0103] 例如，可利用下面的公式的来计算第i个实际入射角Θ i的反射系数R( Θ J与第 j个理论入射角X j的反射系数R ( X j)的相关系数Corr [R ( Θ i)，R ( X )]，
[0105] 公式（5)中，为第i个实际入射角Q1的反射系数R(0 J与 所述多个理论入射角中的第j个理论入射角X 的反射系数R( X 的相关系数。
[0106] 在步骤S402中，判断j是否等于M，1彡j彡M，M为选取的理论入射角的总个数， M为大于零的自然数。
[0107] 如果j不等于M，则执行步骤S403 :使得j = j+Ι，并返回执行步骤S401。这里，如 果j的初始值为M，则在步骤S403中可使得j = j-Ι，然后再返回执行步骤S401。
[0108] 如果j等于M，则执行步骤S404 :得到第i个实际入射角的反射系数分别与每个理 论入射角的反射系数的相关系数。
[0109] 在步骤S405中，确定上述各相关系数中的最大值，并将所述相关系数中的最大值 所对应的理论入射角作为与第i个实际入射角对应的等效理论入射角。
[0110] 在步骤S406中，判断i是否等于η。这里，1彡i彡η，η为选取的实际入射角的总 个数，η为大于零的自然数。
[0111] 如果i不等于η，则执行步骤S407 :使得i = i+Ι，并返回执行步骤S401。这里，如 果i的初始值为n，则在步骤S407中可使得i = i-Ι，然后再返回执行步骤S401。
[0112] 如果i等于n，则执行步骤S408 :得到与每个实际入射角分别对应的等效理论入射 角。
[0113] 返回图1，在步骤S50中，利用基于所述等效理论入射角的扩展弹性阻抗来进行岩 性和流体检测，以识别地下地质储层的状态。这里，可利用上述的公式（3)来分别计算各等 效理论入射角的扩展弹性阻抗。
[0114] 图5示出根据本发明示例性实施例的弹性阻抗与扩展弹性阻抗分别随入射角变 化的关系图。
[0115] 如图5所示，横坐标为入射角的角度值，纵坐标为弹性阻抗值，曲