容的本领域技术人员来说，这种开发工作仅仅是例行的任务。
[0034]在此，还需要说明的一点是，为了避免因不必要的细节而模糊了本发明，在附图中仅仅示出了与根据本发明的方案密切相关的装置结构和/或处理步骤，而省略了与本发明关系不大的其他细节。
[0035]如图1至图5所示，本发明的实施例提供了一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法为:
[0036]用切割器剪裁出三片长宽厚分别为1cmX1cmX0.002mm的正方形片状聚酯薄膜，并编号为I，2，3，如附图1所示。用酒精擦拭片状聚酯薄膜表面消除表面空间电荷的影响，并放入恒温干燥箱中进行干燥处理24小时，之后在其中一片正方形片状聚酯薄膜的中间挖去边长为8cm的正方形，在正方形试样的一边a'的中间位置开一个边长为Icm的流出口，如附图1所示。接着把编号为I的正方形片状聚酯薄膜放于平板硫化机的工作台7上，再把编号为2的正方形片状聚酯薄膜放于其上，使正方形片状聚酯薄膜各边相应对齐并紧密贴合(a'与a对齐，I/与b对齐，与c对齐，cT与d对齐)，排出气泡，形成一个长宽厚分别为8cmXScmX0.002mm的正方形开口。计算正方形开口的体积可以得到要配置环氧树脂胶的剂量，为了保证环氧树脂能尽量填满正方形开口，取用量为lmL。然后在正方形开口中距离C7边2cm的位置处，η为加入环氧树脂的位置，如图1所示，用注射器均匀注入环氧树脂，注入时要注意不能产生气泡。最后把剩下的编号为3的正方形片状聚酯薄膜盖在正方形开口上，让编号为3的正方形片状聚酯薄的c〃边与编号为2的正方形片状聚酯薄的V边重合，其他各边也相应对齐(b'与b〃对齐，与d〃，a'与a〃 )，即，从c〃侧向a〃侧慢慢移动并挤压聚酯薄膜使其与环氧树脂紧密结合，从流出口 6挤出剩余的环氧树脂，挤压力的方向为F，如图2所示。接下来用平板硫化机对试样进行加压、加热处理，如图3所示，压力值为15MPa，并调节加热温度为80°C，处理4个小时。使试样处于15MPa的压力下，可以使环氧树脂与聚酯薄膜紧密结合不残留气泡;80°C的温度加热4个小时，可以使环氧树脂固化。为了便于各种老化试验和空间电荷、红外光谱的测试以及减小边缘效应造成的误差，将经过平板硫化机处理后的正方形试样裁剪成直径为6cm的圆形，如图4所示。至此用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样制作完毕，制作流程如图5所示。制作完成后就可以进行热老化、电老化、受潮、机械振动等各种老化试验及对其进行空间电荷、红外光谱的测量。
[0037]如图1和图3所示，一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，具体结构为:它包括第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2、第三正方形片状聚酯薄膜3和环氧树脂填充结构体4;所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3由上至下依次紧密贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜2的中心位置开有正方形开口 5，且第二正方形片状聚酯薄膜2的一侧边的中心位置开有流出口 6，流出口 6与正方形开口 5连通，正方形开口 5内设有环氧树脂填充结构体4，所述流出口 6的宽度为lcm。所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3的边长均为10cm。所述第一正方形片状聚酯薄膜1、第二正方形片状聚酯薄膜2和第三正方形片状聚酯薄膜3的厚度均为0.002mm。所述正方形开口 5的边长为8cm。所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样是采用上述的方法制得的。
[0038]虽然本发明所揭示的实施方式如上，但其内容只是为了便于理解本发明的技术方案而采用的实施方式，并非用于限定本发明。任何本发明所属技术领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭示的核心技术方案的前提下，可以在实施的形式和细节上做任何修改与变化，但本发明所限定的保护范围，仍须以所附的权利要求书限定的范围为准。
【主权项】
1.一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:具体步骤: 步骤一:采用三片长宽厚分别为1cm X 1cm X 0.002mm的正方形片状聚酯薄膜； 步骤二:用酒精擦拭正方形片状聚酯薄膜表面，将正方形片状聚酯薄膜放入恒温干燥箱中进行干燥处理； 步骤三:将其中一片正方形片状聚酯薄膜放在平板硫化机工作台上待处理； 步骤四:将其中另一片正方形片状聚酯薄膜的中间挖去一个正方形，形成正方形开口，并在该正方形片状聚酯薄膜的一侧中间位置开一个流出口，再将其放于平板硫化机工作台上的正方形片状聚酯薄膜的上面，使两片正方形片状聚酯薄膜紧密贴合不留有气泡； 步骤五:计算正方形开口的体积得到所需环氧树脂的剂量，用注射器向正方形开口内距离开口外边缘2cm的位置均匀滴加环氧树脂； 步骤六:将最后一片正方形片状聚酯薄膜贴在正方形开口上面，赶出气泡，使正方形片状聚酯薄膜与环氧树脂紧密接触，让剩余的环氧树脂从流出口流出，形成带有分界面的复合绝缘材料试样； 步骤七:采用平板硫化机对复合绝缘材料试样进行加压、加热处理； 步骤八:将处理后的复合绝缘材料试样，以其中心为圆心裁剪成直径为6cm的圆形试样。2.根据权利要求1所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:所述步骤二中干燥处理的时长为24小时。3.根据权利要求2所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:所述步骤四中正方形开口的边长为8cm。4.根据权利要求3所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:所述步骤五中环氧树脂的用量为ImL。5.根据权利要求4所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:所述步骤六中将正方形片状聚酯薄膜贴在正方形开口上面的具体操作为:将正方形片状聚酯薄膜的一条边线与开口内距离注入位置近一侧的外边缘重合，其他各边再相应对齐，从距离滴加位置近的一侧开始向另一侧移动并挤压正方形片状聚酯薄膜。6.根据权利要求5所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法，其特征在于:所述步骤七中对试样进行加压、加热处理，在压力为15Mpa，温度为80°C条件下处理4个小时。7.—种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于:它包括第一正方形片状聚酯薄膜(1)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)、第三正方形片状聚酯薄膜(3)和环氧树脂填充结构体(4);所述第一正方形片状聚酯薄膜(I)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)由上至下依次紧密贴合，所述第二正方形片状聚酯薄膜(2)的中心位置开有正方形开口(5)，且第二正方形片状聚酯薄膜(2)的一侧边的中心位置开有流出口(6)，流出口(6)与正方形开口(5)连通，正方形开口(5)内设有环氧树脂填充结构体(4)，所述流出口(6)的宽度为Icm08.根据权利要求7所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于:所述第一正方形片状聚酯薄膜(I)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)的边长均为1cm09.根据权利要求8所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于:所述第一正方形片状聚酯薄膜(I)、第二正方形片状聚酯薄膜(2)和第三正方形片状聚酯薄膜(3)的厚度均为0.002_。10.根据权利要求9所述的一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的片状试样，其特征在于:所述正方形开口( 5)的边长为8cm。
【专利摘要】一种用于研究干式空心电抗器匝间绝缘老化过程的试样的制作方法及片状试样，涉及一种片状材料试样及制作方法。方法：制作片状聚酯薄膜；用酒精擦拭聚酯薄膜表面，进行干燥处理；制作正方形开口和流出口，再将两片聚酯薄膜紧密贴合不留有气泡；向正方形开口内滴加环氧树脂；将聚酯薄膜贴在正方形开口上面；对复合绝缘材料试样进行加压、加热处理；制作圆形试样。试样：三个正方形片状聚酯薄膜紧密贴合，第二正方形片状聚酯薄膜的中心位置开有正方形开口，且在侧边上开流出口，正方形开口内设有环氧树脂填充结构体。本发明适用于进行热老化、电老化、受潮、机械振动各种老化试验，并可以对其进行空间电荷测试和红外光谱测量。
【IPC分类】G01N1/28
【公开号】CN105510101
【申请号】CN201610060277
【发明人】聂洪岩, 姚远航, 顾哲屹
【申请人】哈尔滨理工大学
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2016年1月28日