一种荧光检测仪器的校准方法
【专利摘要】本发明公开了一种荧光检测仪器的校准方法,用于荧光检测仪器出厂前的校准，将荧光检测仪器的光源强度检测和信号检测模块参数校准分两步独立进行，光源强度检测适用光强测量仪测量光强度，信号检测模块参数校准使用标准光源作为检测光源；本发明采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标，具有标准可追溯性和确定性，能适合大批量和精确测量；同时本发明方法还可用来做仪器的质控，检测光源是否会运行时间长衰减，如果光源衰减可以更换光源，本发明提高了量产中荧光检测仪器的一致性。
【专利说明】
一种荧光检测仪器的校准方法
技术领域
[0001]本发明涉及生物医疗领域的荧光检测仪器，尤其涉及一种荧光检测仪器的校准方法。
【背景技术】
[0002]荧光物质特性是:当荧光物质经某种波长的入射光照射，吸收光能后进入激发态，并且立即退激发并发出不同于入射光的的波长的出射光；而且一旦停止入射光，发光现象也随之立即消失。具有这种性质的出射光就被称之为荧光。
[0003]如图1所示，荧光检测仪器(荧光仪)包括有光源1、滤光片3、信号检测模块4及镜组，其工作原理是通过用第一种波长的光线(称为激发光)照射在荧光物质上，荧光物质发射出第二种波长的光(称为发射光)，通过检测第二种波长的光强，间接得到荧光物质标记的物质的含量。
[0004]目前，荧光仪的定标是用固定含量荧光物质做为默认标准，放到荧光仪器上测量。如果有多台仪器要定标就用这一个固定荧光含量物质做为标准进行定标。这样做的问题是固定含量荧光物质的荧光强度是不能固定的。因为荧光特性是照射之后或长时间放置后荧光物质会衰变，发射出去的光就会减弱，如果用来校准多台仪器就会出问题，因为标准物质荧光强度已经变化了。或者今天校准的仪器，明天再用同样的荧光物校准，值都会变化了。
[0005]这个方案在大量仪器生产时就不能保证机器的一致性，只能保证一个大概。
【发明内容】
[0006]本发明要解决的主要技术问题是，提供一种荧光检测仪器的校准方法，其可提高量产中荧光检测仪器的一致性。
[0007]为解决上述技术问题，本发明提供一种荧光检测仪器的校准方法，其步骤为:
一种荧光检测仪器的校准方法，将荧光检测仪器的光源强度检测，和信号检测模块参数校准分两步独立进行，光源强度检测使用光强测量仪测量光强度，信号检测模块参数校准使用标准光源作为检测光源。
[0008]所述光源强度检测步骤为:将光强测量仪放在检测位置来检定光源的发光强度；通过调整光源供电电路参数，把光源发光强度调整到预设值，这样所有荧光检测仪器的光源就可以校准到同一标准。
[0009]所述信号检测模块参数校准步骤为:用能发出波长为12的光的标准光源放在检测位置，关掉荧光检测仪器的光源，调整信号检测模块的参数，把信号检测模块测量到的值调整到预设值。
[0010]所述光强测量仪包括有基板，在基板上设置有感光器件、光强指示电路和电源，三者电路联接;感光器件接收光源照射，并将光信号转换为电信号，输入光强指示电路，当光信号强度达到预设值时光强指示电路进行提示;电源为光强指示电路供电。
[0011]所述标准光源包括有基板，在基板上设置有发光器件、驱动电路和电源，三者电路联接，电源为驱动电路供电，驱动电路驱动发光器件发光。
[0012]本发明的有益效果是:一种荧光检测仪器的校准方法，将荧光检测仪器的光源强度检测和信号检测模块参数校准分两步独立进行，光源强度检测使用光强测量仪测量光强度，信号检测模块参数校准使用标准光源作为检测光源;本发明采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标，具有标准可追溯性和确定性，能适合大批量和精确测量;同时本发明方法还可用来做仪器的质控，检测光源是否会运行时间长衰减，如果光源衰减可以更换光源，本发明提高了量产中荧光检测仪器的一致性。
【附图说明】
[0013]图1为现有的荧光检测仪器的校准(测试)原理图；
图2为本发明一种实施例的步骤一的示意图；
图3为本发明一种实施例的步骤二的示意图；
图4为本发明标准光源电路结构示意图；
图5为本发明光强测量仪电路结构示意图。
【具体实施方式】
[0014]如图1所示，是荧光检测仪器仪5的一种校准原理(光路)图。实际测试中试纸条2上有荧光物质，用11的光源I照射到试纸条2上，激发试纸条2上的荧光，通过滤光片3的过滤，只能让12的荧光进入到信号检测模块4。现有技术是用是用固定含量荧光物质做为默认标准(定标)，放到荧光仪器5上测量。荧光物质发出的荧光会衰减(荧光物质会随着时间的变化或光照的变化而变化)，用荧光物质做为标准物具有不确定性，定标出来的机器性能上会后差别。当然，现有技术中还有其它种类的荧光仪光路，但实质都是用11(波长I)的光源激发，检测12(波长2)的光强，本文不再例举。
[0015]本发明，一种荧光检测仪器的校准方法，将荧光检测仪器的光源I强度检测，和信号检测模块4参数校准分两步独立进行，光源I强度检测使用光强测量仪6测量光强度，信号检测模块4参数校准使用标准光源7作为检测光源。
[0016]参照图2-5所示，本发明荧光检测仪器的校准方法，通过用光强测量仪6测量光源I，和用标准光源7标定信号检测模块4的方式，实现校准。
[0017]下面通过【具体实施方式】结合附图对本发明作进一步详细说明。
[0018]请参考图1、2、3所示，本发明采用两种设备来定标荧光仪检测仪器5。
[0019](I)用微型的光强测量仪6放在试纸条2(如图1所示)位置即监测位置来检定光源I发光强度。通过调整光源I供电电路参数，把光源I发光强度调整到预设值。这样所有荧光仪检测仪器5的光源I就可以校准到同一标准。
[0020](2)用能发出波长12的光线的标准光源7放在试纸条2(如图1所示)位置，关掉荧光检测仪器5的光源I。调整信号检测模块4的参数，把信号检测模块4测量到的值调整到预设值。
[0021 ]通过这两步测量调整，就能把所有荧光检测仪器性能参数调整一致。
[0022]调整到预设值这个预设值参照现有荧光仪检测仪器出厂时的预设参数。
[0023]如图4所示，标准光源7包括有基板，在基板上设置有发光器件9、驱动电路10和电源8，三者电路联接，电源8为驱动电路10供电，驱动电路10驱动发光器件9发光。
[0024]实施时，发光器件9可以是LED光源。
[0025]实施时，标准光源7外部套设一壳体，对应发光器件9位置设置开窗，使得发光器件9露出，形成测试卡样式。
[0026]如图5所示，光强测量仪6包括有基板，在基板上设置有感光器件12、光强指示电路13和电源11，三者电路联接，感光器件12接收光源I照射，并将光信号转换为电信号，输入光强指示电路13，当光信号强度达到预设值时光强指示电路13进行提示。电源11为光强指示电路13供电。
[0027]本发明的关键点是能够用现有的方法对荧光仪准确定标。把传统一步测量进行定标的不能准确定标过程改为两步测量的准确定标过程。首先用光强测量仪定标光源，然后用标准光源定标信号检测模块。用现有的标准准确标定荧光仪。
[0028]本发明就是采用不会随时间和光照变化的方法和材料，实现荧光分析仪的定标。
[0029]本发明采用现有的经过计量确定的标准设备进行定标，具有标准可追溯性和确定性，能适合大批量和精确测量；同时本发明方法还可用来做仪器的质控，检测光源是否会运行时间长衰减，如果光源衰减可以更换光源。
[0030]以上内容是结合具体的实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种荧光检测仪器的校准方法，其特征在于:将荧光检测仪器的光源(I)强度检测，和信号检测模块(4)参数校准分两步独立进行，光源(I)强度检测使用光强测量仪(6)测量光强度，信号检测模块(4)参数校准使用标准光源(7)作为检测光源。2.如权利要求1所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于，所述光源(I)强度检测步骤为:将光强测量仪放在检测位置来检定光源(I)的发光强度;通过调整光源(I)供电电路参数，把光源(I)发光强度调整到预设值，这样所有荧光检测仪器的光源(I)就可以校准到同一标准。3.如权利要求1所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于，所述信号检测模块(4)参数校准步骤为:用能发出波长为12的光的标准光源(7)放在检测位置，关掉荧光检测仪器(5)的光源(1)，调整信号检测模块(4)的参数，把信号检测模块(4)测量到的值调整到预设值。4.如权利要求1或2所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于，所述光强测量仪(6)包括有基板，在基板上设置有感光器件(12)、光强指示电路(13)和电源(11)，三者电路联接;感光器件(12)接收光源(I)照射，并将光信号转换为电信号，输入光强指示电路(13)，当光信号强度达到预设值时光强指示电路(13)进行提示；电源(11)为光强指示电路(13)供电。5.如权利要求1或3所述的荧光检测仪器的校准方法，其特征在于，所述标准光源(7)包括有基板，在基板上设置有发光器件(9)、驱动电路(10)和电源(8)，三者电路联接，电源(8)为驱动电路(10)供电，驱动电路(10)驱动发光器件(9)发光。
【文档编号】G01N21/64GK105928911SQ201610220080
【公开日】2016年9月7日
【申请日】2016年4月11日
【发明人】丁卫东
【申请人】深圳市华科瑞科技有限公司