一种多芯片系统的相位测量方法及装置的制造方法
【专利摘要】本发明提供的一种多芯片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：以广播模式发起相位测量命令；读取每个计量芯片对应的计时值，计时值为计量芯片由接收到相位测量命令至计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段；确定任两个计量芯片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这两个计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取每个计量芯片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段(即计时值)，进而利用不同计量芯片对应的计时值计算得到不同计量芯片对应的交流信号之间的相位差，无需设置中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。
【专利说明】
-种多巧片系统的相位测量方法及装置
技术领域
[0001] 本发明设及电参量测量技术领域，更具体地说，设及一种多忍片系统的相位测量 方法及装置。
【背景技术】
[0002] 在电参量测量应用中（例如智能插座、智能家电、智能电表等），常常会采用计量模 块与主控微控制器(MCU)模块分离的实现方案，尤其在=相计量系统设计中，由=颗计量忍 片和一颗MCU组成的S相电能计量系统是主流应用解决方案之一，由于该系统电流传感器 都采用儘铜传感器，因此，运种系统也被业内叫为=相=儘铜电能计量系统。
[0003] 在=相=儘铜电能计量系统中，由于每一相的电流和电压都有单独的供电、传感 和计量忍片，不同相电流或电压之间的相位测量需要通过间接的方式获得。W不同相电压 之间的相位测量为例，通常在任一相输出的电压信号过零时，由对应计量忍片利用其中断 管脚通过隔离电路向主控MCU的中断响应管脚输出中断，进而，通过不同计量忍片输出中断 的时间的不同，计算不同计量忍片对应的电压之间的相位差。但是运种实现方式中每个计 量忍片与主控MCU之间都需要通过计量忍片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔 离电路实现，无论是隔离电路成本还是计量忍片和主控MCU的管脚开销都很大，因此，会造 成实现成本较高。
[0004] 综上所述，现有技术用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测 量的技术方案存在成本较高的问题。
【发明内容】
[0005] 本发明的目的是提供一种多忍片系统的相位测量方法及装置，W解决现有技术中 用于实现电能计量系统中不同相的电压或电流之间的相位测量的技术方案存在的成本较 高的问题。
[0006] 为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
[0007] -种多忍片系统的相位测量方法，包括：
[000引 W广播模式发起相位测量命令；
[0009] 读取每个计量忍片对应的计时值，所述计时值为所述计量忍片由接收到所述相位 测量命令至所述计量忍片对应的交流信号发生过零之间的时间段；
[0010] 确定任两个所述计量忍片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积 为运两个所述计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[00川优选的，还包括：
[0012] 读取每个所述计量忍片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值 及所述第二采样值分别为所述计量忍片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信 号采样值和之后第一个交流信号采样值；
[0013] 利用每个所述计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量忍片对应的计 时值进行插值计算，得到每个所述计量忍片对应的修正计时值；
[0014] 所述确定任两个所述计量忍片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的 乘积为运两个所述计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差，包括：
[0015] 确定任两个所述计量忍片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的 乘积为运两个所述计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0016] 优选的，利用每个所述计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量忍片对 应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量忍片对应的修正计时值，包括：
[0017] 如果所述计量忍片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计 时值进行插值计算：
[001 引
[0019] 如果所述计量忍片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计 时值进行插值计算：
[0020]
[0021] 其中，Tl'表示任一所述计量巧片对应的修正计时值，Tl表示该计量忍片对应的计 时值，Rii表示该计量忍片对应的第一采样值，Ru表示该计量忍片对应的第二采样值，T表示 该计量忍片对应的交流信号的周期，N表示该计量忍片对应的每个周期的交流信号的采样 点数。
[0022] 优选的，读取每个计量忍片对应的计时值，包括：
[0023] 查询每个所述计量忍片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断 的中断标记信息，则读取该计量忍片对应的计时值;其中，当所述计量忍片对应的交流信号 发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。
[0024] 优选的，所述计量忍片包括对应于同一供电装置的两个计量忍片，其中，读取到的 一个计量忍片的计时值为该计量忍片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的 电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量忍片的计时值为该计量忍片由接收 到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段;所述电压信 号和所述电流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。
[0025] 优选的，所述计量忍片包括一一对应于不同供电装置的多个计量忍片，其中，读取 到的每个计量忍片的计时值均为所述计量忍片由接收到所述相位测量命令至所述供电装 置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者均为所述计量忍片由接收到所述相位测量 命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段;每个所述计量忍片对应的交 流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。
[00%] -种多忍片系统的相位测量装置，包括：
[0027] 广播模块，用于W广播模式发起相位测量命令；
[0028] 第一读取模块，用于读取每个计量忍片对应的计时值，所述计时值为所述计量忍 片由接收到所述相位测量命令至所述计量忍片对应的交流信号发生过零之间的时间段；
[0029] 计算模块，用于确定任两个所述计量忍片分别对应的所述计时值的绝对差值与预 设系数的乘积为运两个所述计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0030] 优选的，还包括：
[0031 ]第二读取模块，用于读取每个所述计量忍片对应的第一采样值及第二采样值，其 中，所述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量忍片对应的交流信号发生过零时之 前最后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值；
[0032] 插值模块，用于利用每个所述计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量 忍片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量忍片对应的修正计时值；
[0033] 所述计算模块，包括：
[0034] 计算单元，用于确定任两个所述计量忍片分别对应的所述修正计时值的绝对差值 与预设系数的乘积为运两个所述计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0035] 优选的，插值模块包括：
[0036] 第一插值单元，用于如果所述计量忍片对应的交流信号发生的过零为正向过零， 则按照下^5^对所沐i+时值讲斤插值i+當：
[0037]
[0038] 第二插值单元，用于如果所述计量忍片对应的交流信号发生的过零为负向过零， 则按照下式对所述计时值进行插值计算：
[0039]
[0040] 其中，T1'表示任一所述计量忍片对应的修正计时值，Tl表示该计量忍片对应的计 时值，Rii表示该计量忍片对应的第一采样值，Ru表示该计量忍片对应的第二采样值，T表示 该计量忍片对应的交流信号的周期，N表示该计量忍片对应的每个周期的交流信号的采样 点数。
[0041] 优选的，第一读取模块包括：
[0042] 读取单元，用于查询每个所述计量忍片中的中断标记信息，如果所述中断标记信 息为已产生中断的中断标记信息，则读取该计量忍片对应的计时值;其中，当所述计量忍片 对应的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。
[0043] 本发明提供的一种多忍片系统的相位测量方法及装置，其中，该方法包括：W广播 模式发起相位测量命令;读取每个计量忍片对应的计时值，所述计时值为所述计量忍片由 接收到所述相位测量命令至所述计量忍片对应的交流信号发生过零之间的时间段;确定任 两个所述计量忍片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为运两个所述计 量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。由此，通过广播模式发起相位测量命令，并读取 每个计量忍片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段，即计时值， 进而利用不同计量忍片对应的计时值计算得到不同计量忍片对应的交流信号之间的相位 差，无需通过计量忍片的中断管脚、主控MCU的中断响应管脚及对应隔离电路实现中断，因 此，无需设置上述中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电路，大大降低了硬件成本。
【附图说明】
[0044] 为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可W根据 提供的附图获得其他的附图。
[0045] 图1为本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法的流程图；
[0046] 图2为本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0047] 下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完 整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于 本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他 实施例，都属于本发明保护的范围。
[0048] 请参阅图1，其示出了本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法，可W 包括W下步骤：
[0049] Sll: W广播模式发起相位测量命令。
[0050] 需要说明的是，本发明实施例中的一种多忍片系统可W是包括有多个计量忍片的 电能计量系统，其主控MCU的数量可W为一个，具体来说，本发明实施例提供的一种多忍片 系统的相位测量方法的执行主体可W为主控MCU。且，计量忍片与主控MCU之间的通信协议 支持广播模式通信，由此，主控MCU可W通过与计量忍片间的物理通信接口（比如SPI (Serial 化ri地eral Inte;rface，串行外设接口）通信或UART(Universal Asynchronous ReceiverAransmitter，通用异步收发传输器)通信），采用广播模式发起相位测量命令；由 此，不同的计量忍片几乎可W在同一时刻接收到相位测量命令，进而响应该命令实现对应 的操作。
[0051] S12:读取每个计量忍片对应的计时值，计时值为计量忍片由接收到相位测量命令 至计量忍片对应的交流信号发生过零之间的时间段。
[0052] 每个计量忍片由接收到相位测量命令之后开始计时，并观测其对应的交流信号是 否发生过零，如果是，则停止计时，此时，计时过程中对应的时间段即为该计量忍片的计时 值，计量忍片可W将计时值进行记录存储，W供获取。其中，对于交流信号的观测，通常是通 过对交流信号进行采样实现的，即对交流信号进行采样，得到多个采样值，进而根据采样值 的变化确定其对应的交流信号是否发生过零;具体来说，过零包括正向过零和负向过零，正 向过零即为交流信号的采样值由负数变为正数，负向过零即为交流信号的采样值由正数变 为负数。需要说明的是，通常情况下，步骤S12中设及的过零可W为一种形式的过零，即全部 交流信号均为正向过零或者均为负向过零，由此，能够W最简单的方式由不同计量忍片对 应的计时值计算得到相位差；当然，也可W不为一种形式的过零，但是，需要预先获知每个 计量忍片为哪种形式的过零，且计算较复杂。
[0053] 另外，可W在经过一个交流信号的周期后，开始读取每个计量忍片对应的计时值。
[0054] S13:确定任两个计量忍片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为运 两个计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0055] 需要说明的是，计时值的绝对差值即为计时值的差值的绝对值，其中，绝对差值与 相位差的关系可W表不为：A t = ( A A/360) X T。其中，A t表不绝对差值，A A表不相位差，T 表示交流信号的周期。对应的，预设系数可W为:360/T。
[0056] 本申请公开的一种多忍片系统的相位测量方法中，通过广播模式发起相位测量命 令，并读取每个计量忍片在接收到相位测量命令至对应交流信号发生过零之间的时间段， 即计时值，进而利用不同计量忍片对应的计时值计算得到不同计量忍片对应的交流信号之 间的相位差，由此，仅需利用计量忍片与主控MCU之间已经存在的物理通信接口实现相位测 量命令的发起及计时值的读取即可，无需通过计量忍片的中断管脚、主控MCU的中断响应管 脚及对应隔离电路实现中断，因此，无需设置上述中断管脚、中断响应管脚及对应隔离电 路，大大降低了硬件成本。
[0057] 另外，采用【背景技术】中的方案实现对于不同相交流信号的相位测量还存在过零中 断频繁的缺点（W50化交流信号为例，每个忍片每20毫秒就会中断一次），因此，需要主控 MCU具有很强的处理能力;且，受限于主控MCU对于中断的响应速度，会造成测量准确度较低 的问题。通过本申请公开的上述技术方案，无需主控MCU响应中断，因此，大大降低了对于主 控MCU的能力要求，进一步降低了成本；同时，无需受限于主控MCU对于中断的响应速度，大 大提高了测量准确度。
[0058] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法中，还可W包括：
[0059] 读取每个计量忍片对应的第一采样值及第二采样值，其中，第一采样值及第二采 样值分别为计量忍片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采样值和之后第 一个交流信号采样值；
[0060] 利用每个计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量忍片对应的计时值 进行插值计算，得到每个计量忍片对应的修正计时值。
[0061] 在交流信号发生过零时，对应的计量忍片记录存储交流信号发生过零时之前最后 一个交流信号采样值（即第一采样值)和交流信号发生过零时之后第一个交流信号采样值 (即第二采样值）。具体来说，可W将上述第一采样值和第二采样值存储至不同的寄存器中， W方便读取。
[0062] 需要说明的是，读取第一采样值和第二采样值的步骤可W与读取计时值的步骤同 时进行，可W在读取计时值的步骤之前，也可W在读取计时值的步骤之后，具体可W根据实 际需要进行确定，均在本发明的保护范围之内。
[0063] 对应的，确定任两个计量忍片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数的乘积为 运两个计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差，可W包括：
[0064] 确定任两个计量忍片分别对应的修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积为运 两个计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0065] 考虑到相位测量中测量准确度很大程度上取决于计量忍片对于每个周期的交流 信号（简称周波）的采样点数，理论上，每个周波的采样点数越多，对应的测量准确度越高， 但是计量忍片的成本也越高。因此，本申请中，对于每个周波的采样点数确定的忍片，可W 根据每个忍片记录的第一采样值和第二采样值对计时值进行插值计算，进而利用差值计算 后的计时值进行相位差的计算，由此，能够大大提升测量准确度。
[0066] 具体来说，利用每个计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量忍片对应 的计时值进行插值计算，得到每个计量忍片对应的修正计时值，可W包括：
[0067]如果计量忍片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对计时值进行 插值计算：
[006引
[0069] 如果计量忍片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对计时值进行 插值计算：
[0070]
[0071 ] 具甲，Ti '巧不仕一订重也/T对应的修正计时值，Tl表示该计量忍片对应的计时 值，Rii表示该计量忍片对应的第一采样值，Ru表示该计量忍片对应的第二采样值，T表示该 计量忍片对应的交流信号的周期，N表示该计量忍片对应的每个周期的交流信号的采样点 数。
[0072] 其中，T/N即为测量分辨率，通过对计时值进行上述差值计算，能够使得计时值更 接近于真正的计时值，进而能够大大提升相位测量的测量准确度。其中，真正的计时值即为 开始计时至交流信号发生过零时刻点间的时间段，而本申请中其他计时值中交流信号发生 过零是根据采样点的正负确定的，因此，需要通过上述步骤提高计时值的准确性。
[0073] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法中，读取每个计量忍片对应 的计时值，可W包括：
[0074] 查询每个计量忍片中的中断标记信息，如果中断标记信息为已产生中断的中断标 记信息，则读取该计量忍片对应的计时值;其中，当计量忍片对应的交流信号发生过零时中 断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。
[0075] 需要说明的是，当交流信号发生过零时，停止计时的同时可W产生中断，并在中断 寄存器中置中断标志位，即将对应的中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息，由 此，主控MCU可W先查询每个计量忍片的中断寄存器，并在中断寄存器中的中断标记信息为 已产生中断的中断标记信息时，读取对应的计时值。
[0076] 另外需要说明的是，通过本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法， 能够适用于多相系统（如背景系统中的S相S儘铜电能计量系统）中不同相电压之间的相 位差或者不同相电流之间的相位差，此时，计量忍片可W包括一一对应于不同供电装置的 多个计量忍片，其中，读取到的每个计量忍片的计时值可W均为计量忍片由接收到相位测 量命令至供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者可W均为计量忍片由接收 到相位测量命令至供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间段;每个计量忍片对应的 交流信号发生的过零可W均为正向过零或者均为负向过零。
[0077] 也能够适用于一个单相系统中同一相的电流和电压之间的相位差，此时，计量忍 片可W包括对应于同一供电装置的两个计量忍片，其中，读取到的一个计量忍片的计时值 可W为该计量忍片由接收到相位测量命令至供电装置输出的电压信号发生过零之间的时 间段，读取到的另一个计量忍片的计时值可W为该计量忍片由接收到相位测量命令至供电 装置输出的电流信号发生过零之间的时间段;电压信号和电流信号发生的过零可W均为正 向过零或者均为负向过零。
[0078] 当然，也可W根据实际需要进行其他应用，均在本发明的保护范围之内。
[0079] 本发明实施例还提供了一种多忍片系统的相位测量装置，如图2所示，可W包括：
[0080] 广播模块11，用于W广播模式发起相位测量命令；
[0081] 第一读取模块12,用于读取每个计量忍片对应的计时值，计时值为计量忍片由接 收到相位测量命令至计量忍片对应的交流信号发生过零之间的时间段；
[0082] 计算模块13,用于确定任两个计量忍片分别对应的计时值的绝对差值与预设系数 的乘积为运两个计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0083] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量装置，还可W包括：
[0084] 第二读取模块，用于读取每个计量忍片对应的第一采样值及第二采样值，其中，第 一采样值及第二采样值分别为计量忍片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信 号采样值和之后第一个交流信号采样值；
[0085] 插值模块，用于利用每个计量忍片对应的第一采样值及第二采样值对该计量忍片 对应的计时值进行插值计算，得到每个计量忍片对应的修正计时值；
[0086] 计算模块可W包括：
[0087] 计算单元，用于确定任两个计量忍片分别对应的修正计时值的绝对差值与预设系 数的乘积为运两个计量忍片分别对应的交流信号之间的相位差。
[0088] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量装置，插值模块可W包括：
[0089] 第一插值单元，用于如果计量忍片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按 照下式对计时估讲行插估计算：
[0090]
[0091] 第二插值单元，用于如果计量忍片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按 照下式对计时值进行插值计算：
[0092]
[0093] ，ii :^^小'庄一HW应的修正计时值，了1表不该计量忍片对应的计时 值，Rii表示该计量忍片对应的第一采样值，Ru表示该计量忍片对应的第二采样值，T表示该 计量忍片对应的交流信号的周期，N表示该计量忍片对应的每个周期的交流信号的采样点 数。
[0094] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量装置，第一读取模块可W包括： [00M]读取单元，用于查询每个计量忍片中的中断标记信息，如果中断标记信息为已产 生中断的中断标记信息，则读取该计量忍片对应的计时值;其中，当计量忍片对应的交流信 号发生过零时中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。
[0096] 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量装置中相关部分的说明请参见 本发明实施例提供的一种多忍片系统的相位测量方法中对应部分的详细说明，在此不再寶 述。
[0097] 对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对运 些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可 W在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限 制于本文所示的运些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的 范围。
【主权项】
1. 一种多芯片系统的相位测量方法，其特征在于，包括： 以广播模式发起相位测量命令； 读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由接收到所述相位测量 命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段； 确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积为这 两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。2. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括： 读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所述第一采样值及所 述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最后一个交流信号采 样值和之后第一个交流信号采样值； 利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片对应的计时值 进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值； 所述确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系数的乘积 为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差，包括： 确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预设系数的乘积 为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。3. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用每个所述计量芯片对应的第一采样值 及第二采样值对该计量芯片对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修 正计时值，包括： 如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按照下式对所述计时值 进行插值计算：如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按照下式对所述计时值 进行插值计算：其中，T1 '表示任一所迎1丁垔心/1 xinwji丨多ιηττΗ、」且，1 i衣不该'计量芯片对应的计时 值，Rn表示该计量芯片对应的第一采样值，R12表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该 计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点 数。4. 根据权利要求2所述的方法，其特征在于，读取每个计量芯片对应的计时值，包括： 查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为已产生中断的中 断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值;其中，当所述计量芯片对应的交流信号发生 过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。5. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计量芯片包括对应于同一供电装置的 两个计量芯片，其中，读取到的一个计量芯片的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测 量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，读取到的另一个计量芯片 的计时值为该计量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生 过零之间的时间段;所述电压信号和所述电流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向 过零。6. 根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计量芯片包括一一对应于不同供电装 置的多个计量芯片，其中，读取到的每个计量芯片的计时值均为所述计量芯片由接收到所 述相位测量命令至所述供电装置输出的电压信号发生过零之间的时间段，或者均为所述计 量芯片由接收到所述相位测量命令至所述供电装置输出的电流信号发生过零之间的时间 段;每个所述计量芯片对应的交流信号发生的过零均为正向过零或者均为负向过零。7. -种多芯片系统的相位测量装置，其特征在于，包括： 广播模块，用于以广播模式发起相位测量命令； 第一读取模块，用于读取每个计量芯片对应的计时值，所述计时值为所述计量芯片由 接收到所述相位测量命令至所述计量芯片对应的交流信号发生过零之间的时间段； 计算模块，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述计时值的绝对差值与预设系 数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。8. 根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括： 第二读取模块，用于读取每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值，其中，所 述第一采样值及所述第二采样值分别为所述计量芯片对应的交流信号发生过零时之前最 后一个交流信号采样值和之后第一个交流信号采样值； 插值模块，用于利用每个所述计量芯片对应的第一采样值及第二采样值对该计量芯片 对应的计时值进行插值计算，得到每个所述计量芯片对应的修正计时值； 所述计算模块，包括： 计算单元，用于确定任两个所述计量芯片分别对应的所述修正计时值的绝对差值与预 设系数的乘积为这两个所述计量芯片分别对应的交流信号之间的相位差。9. 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，插值模块包括： 第一插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为正向过零，则按 照下式对所述计时值进行插值计算：第二插值单元，用于如果所述计量芯片对应的交流信号发生的过零为负向过零，则按 照下式对所述计时值进行插值计算：其中，ΤΓ表示任一所述计量芯片对应的修正计时值，T1表示该计量芯片对应的计时 值，Rn表示该计量芯片对应的第一采样值，R12表示该计量芯片对应的第二采样值，T表示该 计量芯片对应的交流信号的周期，N表示该计量芯片对应的每个周期的交流信号的采样点 数。10. 根据权利要求8所述的装置，其特征在于，第一读取模块包括： 读取单元，用于查询每个所述计量芯片中的中断标记信息，如果所述中断标记信息为 已产生中断的中断标记信息，则读取该计量芯片对应的计时值;其中，当所述计量芯片对应 的交流信号发生过零时所述中断标记信息设置为已产生中断的中断标记信息。
【文档编号】G01R25/00GK105954589SQ201610246985
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年4月19日
【发明人】门长有
【申请人】万高(杭州)科技有限公司