一种光信号接收器的制造方法
【专利说明】一种光信号接收器 【技术领域】
[0001] 本实用新型涉及光学辐射测量技术领域，具体是指一种光信号接收器。 【【背景技术】】
[0002] 传统的光信号接收器一般仅能实现一种测量功能，在需要多种测量功能的应用场 合，一般采用多个接收器进行组合测量。现有的组合包括设置多个接收器，各个接收器之间 的位置不严格要求，仅可接收到待测光信号即可，如公布号为CN101290246A的专利；或者 对各个接收器之间的位置有要求，如公布号为CN202676283U的专利中，光谱仪的受光口与 光度探头并列设置，一次采样即可完成空间光强分布和颜色分布的同时测量；或者将各个 接收器设置同一取样装置中，如公布号为CN103344329A的专利中将光谱测量模块和光度 测量模块设置在同一取样装置中。
[0003] 然而，上述现有技术中各个接收器无论设置方式如何，不同接收器均是独立的部 件，对于高精度测量场合，各个不同接收器需要保持相同的测试条件，这对仪器的机械要求 较高，较难保证不同接收器的采样面甚至光敏面保持一致，更难以实现不同接收器所测到 的是同一性质的光，从而造成测量误差；此外，对于光色分布变化剧烈的光源或者光色分布 不均匀的小尺寸光源，如LED灯珠，在人眼可辨别的小角度下即可具有较大光色分布差别， 相互独立的不同接收器存在较大的几何尺寸差异，不同接收器采集的光信号本身就具有较 大差异，包括光谱组成误差，从而给测量结果带来较大误差，影响测量精度。 【【实用新型内容】】
[0004] 为了克服现有技术中存在的缺陷，本实用新型旨在提供一种多种探测功能一体化 设置的新型光信号接收器，多种光电探测器的受光口设置在同一光学接收面，保证了采样 信号的一致性，从而大大提高测量精度，适用于各种高精度测量场合需求；一体化设计、结 构紧凑，是各种小型及微型测试系统的理想探测方案。
[0005] 本实用新型所述的一种光信号接收器，其特征在于，包括光电接收部件，在所述的 光电接收部件上设置一个或者以上通光处，所述的光电接收部件和通光处接收待测光信 号。
[0006] 本实用新型在光电接收部件上设置若干通光处，在光电接收部件接收光信号的同 时，若干通光处后面设置对应的光学测量装置，实现对于待测光信号的多种光学性能的测 量，这样，多个光学测量装置在同一光学接收面上实现了对于待测光信号的测量，保证了被 采样的待测光信号的高度一致大幅减小空间光色分布不均匀带来的测量误差，从而使得该 一体化设计的光信号接收器可更准确测量待测光信号的光色参数。
[0007] 光电接收部件可以是一个光电接收元件，也可以是由多个光电接收元件组成；通 光处可以是一处通光，也可以是多处通光，通光处可以是通光圆孔，通光处也可以是通光的 狭缝。与现有技术相比，本实用新型结构紧凑、测量准确度高、测试功能强大，可广泛应用于 各种高精度测量场合，特别是各种高精度小型/微型探测测试场合中。
[0008] 本实用新型可以通过以下技术措施进一步加以限定和完善：
[0009] 作为一种技术方案，所述的通光处设置在光电接收部件的中心，可减少两个采样 装置位置的差异对测量结果的影响。
[0010] 作为一种技术方案，至少包括一个测量装置，所述的通光处直接为对应的测量装 置的入光口，测量装置直接接收来自通光处的光信号，光信号通过通光处直接进入测量装 置，若测量装置为光谱测量装置，通光处直接为光谱测量装置的入光口，即入射狭缝。或者 所述的通光处后设置导光装置，将待测光信号导入到对应的测量装置中的入光口处，光线 再经入光口进入到测量装置中进行测量。
[0011] 需要说明的是，本实用新型中可包括多个测量装置，例如包括用于测量通过通光 处的光信号的光谱功率分布的光谱测量装置、用于测量光源亮度的亮度测量装置等，在光 电接收部件上开设对应的通光处，通光处将待测光信号分别导入到不同的测量装置中测 量，则可实现同一信号、不同光色性能的同时测量，测量速度快、准确度高。
[0012] 作为优选，所述的光谱测量装置包括分光装置和阵列探测器，来自入光口的待测 光信号经分光装置分光后，被阵列探测器接收。
[0013] 作为优选，在所述的光电接收部件上直接镀膜，光电接收部件或者在光电接收部 件前设置滤光片，以改变光电接收部件的光电输出对于入射光的光谱响应灵敏度曲线。较 为典型的一个应用实例是，光电接收部件和滤光片组成光度探头。
[0014] 作为一种技术方案，包括微处理器，所述的微处理器与光电接收部件和测量装置 电连接或者无线连接，所述的微处理器对接收到的来自测量装置与光电接收部件的测量信 号进行校正处理，最终得到测量结果的精确值。具体地，如光电接收部件为光度探头的光敏 面，测量装置为光谱测量装置，光电接收部件测得的光度测量值和光谱测量装置的光谱测 量值可相互校正，提高测量准确度。例如可利用测得的光谱测量值获得光谱解析校正系数， 校正光度探头的光谱失匹配误差，得到高准确度的光度量值，具体的校正步骤如下：
[0015] a.微处理器得到光电接收部件测量的待测光信号的光度量；
[0016] b.微处理器得到光谱测量装置测量的待测光信号的相对光谱功率分布；
[0017] c.计算光谱解析校正系数Kl，按照以下公式计算：
【主权项】
1. 一种光信号接收器，其特征在于，包括光电接收部件（1)，在所述的光电接收部件 (1) 上设置通光处（2)，所述的光电接收部件（1)和通光处（2)接收待测光信号。
2. 如权利要求1所述的光信号接收器，其特征在于，所述的通光处（2)设置在光电接收 部件（1)的中屯、。
3. 如权利要求1所述的光信号接收器，其特征在于，包括测量装置（3)，所述的通光处 (2) 直接为对应的测量装置（3)的入光口（4)，测量装置（3)直接接收来自通光处（2)的光 信号；或者所述的通光处（2)设导光装置，导光装置将待测光信号导入到对应的测量装置 做中的入光口（4)处。
4. 如权利要求3所述的光信号接收器，其特征在于，所述的测量装置（3)为光谱测量装 置。
5. 如权利要求4所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光谱测量装置测得待测光 信号的相对光谱功率分布，根据所测得的相对光谱功率分布对光电接收部件（1)的测量值 进行校正，得到精确的测量结果。
6. 如权利要求4所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光电接收部件（1)的测量 值对光谱测量装置测得的相对光谱功率分布进行校正，得到待测光信号的绝对光谱功率分 布。
7. 如权利要求1或5或6所述的光信号接收器，其特征在于，包括微处理器巧），所述 的微处理器（5)对接收到的来自测量装置（3)与光电接收部件（1)的测量信号进行校正处 理。
8. 如权利要求5或6所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光谱测量装置的测量波 段与光电接收部件（1)的探测波段相对应。
9. 如权利要求8所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光谱测量装置的测量波段 覆盖光电接收部件（1)的探测波段。
10. 如权利要求4所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光谱测量装置包括入光口 (4)，分光装置（6)和阵列探测器（7)，来自入光口（4)的待测光信号经分光装置（6)分光 后，被阵列探测器（7)接收。
11. 如权利要求10所述的光信号接收器，其特征在于，所述的通光处（2)直接为光谱测 量装置的入光口（4)，且入光口（4)为光谱测量装置的入射狭缝。
12. 如权利要求1或5或6所述的光信号接收器，其特征在于，所述的光电接收部件（1) 为娃光电池。
13. 如权利要求1所述的光信号接收器，其特征在于，在所述的光电接收部件（1)上直 接锻膜，或者在所述的光电接收部件（1)的前方设置滤光片。
【专利摘要】本实用新型公开了一种光信号接收器，在光电接收部件上设置若干通光处，光电接收部件和通光处接收待测光信号，在同一光学接收面上实现多种光色性能的探测；通光处以及光电接收部件的紧凑设计，可有效减小空间光色分布不均匀带来的测量误差；此外，光电接收部件和测量装置之间可相互校正，进一步提高测量准确度。该光信号接收器具有结构紧凑、测量准确度高、测试功能强大等特点，可广泛应用于各种高精度测量场合，特别是各种高精度小型/微型光学探测测试场合。
【IPC分类】G01J1-42, G01J3-28, G01J3-46
【公开号】CN204373778
【申请号】CN201520011136
【发明人】潘建根
【申请人】杭州远方光电信息股份有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2015年1月8日