一种多路电阻测试仪电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及多路电阻测试仪，具体涉及一种多路电阻测试仪电路。
【背景技术】
[0002]目前现有的多路电阻测试仪技术主要采用带指针表头的低电阻表进行测量，由于操作过程存在仪器和人为误差，且必须要有专业人员对不同组合的测量端进行手动切换测量，导致测试环节繁琐，工作效率极低，对于大批量的电连接器生产检测极为困难。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种可测试680路电阻或两路测量端任意组合的680路电阻测试仪器、测试时间短，操作简单，测量精度高，可靠性好，能够提高生产效率的测试多路电阻测试仪表，以解决现有技术水平导致的工作效率低的状况。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种多路电阻测试仪电路，包括:时钟电路、AD信号采样处理电路、IXD显示驱动电路、功能按钮电路、通信接口电路、恒流源电路、继电器电路及CPU ;所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、LCD显示驱动电路、键盘接口电路、通信接口电路、恒流源电路及继电器电路。
[0005]进一步地，所述时钟电路包括晶振Y1、电容C29及电容C30 ;所述晶振Yl分别连接电容C29和电容C30 ;所述电容C29和电容C30分别连接地。
[0006]更进一步地，所述AD信号采样处理电路包括A/D转换芯片U32、电容C23、电容C37、电容C38、电容C39、电容C40、电容C24、电容C42、电压源芯片U33、电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93、电阻R88、电阻R89、稳压管D44及稳压管D45 ;所述A/D转换芯片U32的第十二脚、第十四脚、第十五脚及第十六脚分别连接所述CPU ;所述电容C37、电容C38、电容C39、电容C40 —端分别连接A/D转换芯片U32的第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，这四个电容的另一端分别连接地MGND ;所述电容C23 —端连接电源VCC，另一端连接A/D转换芯片U32第^^一脚；所述电容C24、电容C42、电压源芯片U33及电阻R88 —端分别连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端分别连接地MGND ;所述电压源芯片U33连接电阻R88 ;所述电阻R89 —端连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端连接+6V电源；所述稳压管D44和稳压管D45 —端分别连接A/D转换芯片U32的第三管脚和第二管脚，另一端分别连接地MGND ;所述电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93 —端分别连接A/D转换芯片U32第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，另一端分别连接通道0、通道1、通道2及通道3。
[0007]更进一步地，所述IXD显示驱动电路包括IXD接口 J4、电位器W5、缓冲器U6及与门U3B ;所述IXD接口 J4的第五脚至第十二脚分别连接缓冲器U6的第十二脚至第十九脚，作为数据端口 DATAO至DATA7 ;所述IXD接口 J4的第一脚和第三脚分别连接地；所述IXD接口 J4的第二脚和第四脚分别连接电源VCC ;LCD接口 J4的第十三脚和第十四脚分别连接CPU ;所述LCD接口 J4的第十七脚和第十八脚分别连接电位器W5 ;所述电位器W5的另一端连接地；所述与门U3B的第四脚和第五脚分别连接CPU，第六脚连接缓冲器U6的第十一脚；所述缓冲器U6的第二脚至第九脚分别连接CPU ;所述缓冲器U6的第一脚连接地。
[0008]更进一步地，所述键盘接口电路包括二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39及键盘接口 J5 ;所述二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39正极分别连接CPU，负极分别连接键盘接口 J5。
[0009]更进一步地，所述通信接口电路包括232芯片U22、485芯片U31、通信接口 J11、电容C45、电容C46、电容C47、电容C48、电容C49、电阻R70、电阻R71及电阻R86 ;所述232芯片U22第^^一脚分别连接CPU和485芯片U31第四脚；所述232芯片U22第十二脚分别连接CPU和485芯片U31第一脚；所述电容C45跨接在232芯片第一脚和第三脚之间；所述电容C46跨接在232芯片第四脚和第五脚之间；所述232芯片U22第十三脚和十四脚分别连接通信接口 Jll ;所述232芯片U22第十六脚分别连接电源VCC和电容C49 ;所述电容C47一端连接电源VCC，另一端连接232芯片U22第二脚；所述电容C47 —端连接电源地，另一端连接232芯片U22第六脚；所述232芯片U22第十五脚连接地；所述485芯片U31第二脚和第三脚分别连接CPU ;所述485芯片U31第五脚分别连接地和电阻R71 ;所述485芯片U31第六脚分别连接电阻R86和通信接口 Jll ;所述电阻R70分别连接电源VCC、485芯片U31第七脚及电阻R86。
[0010]更进一步地，所述恒流源电路包括四路恒流源和恒流源接口 JlO ;所述恒流源接口 J1通过四路恒流源连接CPU。
[0011]本实用新型跟现有技术相比较具有如下优点:1.结构设计合理，2.操作简单。3测试速度快。4测试路数多。
[0012]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。
【附图说明】
[0013]构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。
[0014]图1是本实用新型实施例的一种多路电阻测试仪电路原理图；
[0015]图2是本实用新型实施例的IXD接口和数据总线的连接原理图。
【具体实施方式】
[0016]为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
[0017]参考图1和图2，如图1和图2所示的一种多路电阻测试仪电路，包括:时钟电路、AD信号采样处理电路、IXD显示驱动电路、功能按钮电路、通信接口电路、恒流源电路、继电器电路及CPU ;所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、IXD显示驱动电路、键盘接口电路、通信接口电路、恒流源电路及继电器电路。
[0018]所述时钟电路包括晶振Y1、电容C29及电容C30 ;所述晶振Yl分别连接电容C29和电容C30 ;所述电容C29和电容C30分别连接地。
[0019]所述AD信号采样处理电路包括A/D转换芯片U32、电容C23、电容C37、电容C38、电容C39、电容C40、电容C24、电容C42、电压源芯片U33、电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93、电阻R88、电阻R89、稳压管D44及稳压管D45 ;所述A/D转换芯片U32的第十二脚、第十四脚、第十五脚及第十六脚分别连接所述CPU ;所述电容C37、电容C38、电容C39、电容C40 一端分别连接A/D转换芯片U32的第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，这四个电容的另一端分别连接地MGND ;所述电容C23 —端连接电源VCC，另一端连接A/D转换芯片U32第^^一脚；所述电容C24、电容C42、电压源芯片U33及电阻R88 —端分别连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端分别连接地MGND ;所述电压源芯片U33连接电阻R88 ;所述电阻R89 一端连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端连接+6V电源；所述稳压管D44和稳压管D45 一端分别连接A/D转换芯片U32的第三管脚和第二管脚，另一端分别连接地MGND ;所述电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93 —端分别连接A/D转换芯片U32第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，另一端分别连接通道0、通道1、通道2及通道3。
[0020]所述IXD显示驱动电路包括IXD接口 J4、电位器W5、缓冲器U6及与门U3B ;所述IXD接口 J4的第五脚至第十二脚分别连接缓冲器U6的第十二脚至第十九脚，作为数据端口DATAO至DATA7 ;所述IXD接口 J4的第一脚和第三脚分别连接地；所述IXD接口 J4的第二脚和第四脚分别连接电源VCC ；LCD接口 J4的第十三脚和第十四脚分别连接CPU ;所述LCD接口 J4的第十七脚和第十八脚分别连接电位器W5 ;所述电位器W5的另一端连接地；所述与门U3B的第四脚和第五脚分别连接CPU，第六脚连接缓冲器U6的第十一脚；所述缓冲器U6的第二脚至第九脚分别连接CP