一种多路电阻测试仪电路的制作方法_2

文档序号:8847107阅读:来源:国知局
U ;所述缓冲器U6的第一脚连接地。
[0021]所述键盘接口电路包括二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39及键盘接口 J5 ;所述二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39正极分别连接CPU,负极分别连接键盘接口 J5。
[0022]所述通信接口电路包括232芯片U22、485芯片U31、通信接口 J11、电容C45、电容C46、电容C47、电容C48、电容C49、电阻R70、电阻R71及电阻R86 ;所述232芯片U22第^^一脚分别连接CPU和485芯片U31第四脚;所述232芯片U22第十二脚分别连接CPU和485芯片U31第一脚;所述电容C45跨接在232芯片第一脚和第三脚之间;所述电容C46跨接在232芯片第四脚和第五脚之间;所述232芯片U22第十三脚和十四脚分别连接通信接口Jll ;所述232芯片U22第十六脚分别连接电源VCC和电容C49 ;所述电容C47 —端连接电源VCC,另一端连接232芯片U22第二脚;所述电容C47 —端连接电源地,另一端连接232芯片U22第六脚;所述232芯片U22第十五脚连接地;所述485芯片U31第二脚和第三脚分别连接CPU ;所述485芯片U31第五脚分别连接地和电阻R71 ;所述485芯片U31第六脚分别连接电阻R86和通信接口 Jll ;所述电阻R70分别连接电源VCC、485芯片U31第七脚及电阻 R86。
[0023]所述恒流源电路包括四路恒流源和恒流源接口 JlO ;所述恒流源接口 JlO通过四路恒流源连接CPU。
[0024]该仪器采用四端法电阻测量,测量范围0-100M、精度0.2%,避免了测量环节中因非专业性设计所带来的测量误差,提高了整个系统的可靠性和稳定性。
[0025]本实用新型时钟模块用于对CPU提供工作频率。
[0026]测试接口用于连接被测电连接器的引脚。
[0027]测试接口用于输入被测电连接器上的电压信号。
[0028]本实用新型只需操作人员将被测电连接器与测试接口连接好,通过按键控制测试启动,本实用新型根据事先设定的测量程序对被测电连接器进行测量,操作人员无需具备专业知识,并且检测速度快,检测效率高,精度高,除对单个电连接器进行测量外,本实用新型还适用于各种黑盒子内部接线电阻的测量,从而在保证质量的同时提高工作效率。本实用新型还可连接计算机,进行远程控制测量,并将测试结果打印成报表。
[0029]本实用新型跟现有技术相比较具有如下优点:1.结构设计合理,2.操作简单。3测试速度快。4测试路数多。
[0030]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种多路电阻测试仪电路,其特征在于,包括:时钟电路、AD信号采样处理电路、LCD显示驱动电路、功能按钮电路、通信接口电路、恒流源电路、继电器电路及CPU ;所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、IXD显示驱动电路、键盘接口电路、通信接口电路、恒流源电路及继电器电路。
2.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述时钟电路包括晶振Y1、电容C29及电容C30 ;所述晶振Yl分别连接电容C29和电容C30 ;所述电容C29和电容C30分别连接地。
3.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述AD信号采样处理电路包括A/D转换芯片U32、电容C23、电容C37、电容C38、电容C39、电容C40、电容C24、电容C42、电压源芯片U33、电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93、电阻R88、电阻R89、稳压管D44及稳压管D45 ;所述A/D转换芯片U32的第十二脚、第十四脚、第十五脚及第十六脚分别连接所述CPU ;所述电容C37、电容C38、电容C39、电容C40 —端分别连接A/D转换芯片U32的第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚,这四个电容的另一端分别连接地MGND ;所述电容C23 —端连接电源VCC,另一端连接A/D转换芯片U32第^^一脚;所述电容C24、电容C42、电压源芯片U33及电阻R88 —端分别连接A/D转换芯片U32的第八脚,另一端分别连接地MGND ;所述电压源芯片U33连接电阻R88 ;所述电阻R89 —端连接A/D转换芯片U32的第八脚,另一端连接+6V电源;所述稳压管D44和稳压管D45 —端分别连接A/D转换芯片U32的第三管脚和第二管脚,另一端分别连接地MGND ;所述电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93一端分别连接A/D转换芯片U32第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚,另一端分别连接通道O、通道1、通道2及通道3。
4.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述LCD显示驱动电路包括IXD接口 J4、电位器W5、缓冲器U6及与门U3B ;所述IXD接口 J4的第五脚至第十二脚分别连接缓冲器U6的第十二脚至第十九脚,作为数据端口 DATAO至DATA7 ;所述IXD接口 J4的第一脚和第三脚分别连接地;所述LCD接口 J4的第二脚和第四脚分别连接电源VCC ;LCD接口 J4的第十三脚和第十四脚分别连接CPU ;所述LCD接口 J4的第十七脚和第十八脚分别连接电位器W5 ;所述电位器W5的另一端连接地;所述与门U3B的第四脚和第五脚分别连接CPU,第六脚连接缓冲器U6的第^^一脚;所述缓冲器U6的第二脚至第九脚分别连接CPU ;所述缓冲器U6的第一脚连接地。
5.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述键盘接口电路包括二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39及键盘接口 J5 ;所述二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39正极分别连接CPU,负极分别连接键盘接口 J5。
6.根据权利要求1所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述通信接口电路包括232芯片U22、485芯片U31、通信接P J11、电容C45、电容C46、电容C47、电容C48、电容C49、电阻R70、电阻R71及电阻R86 ;所述232芯片U22第^^一脚分别连接CPU和485芯片U31第四脚;所述232芯片U22第十二脚分别连接CPU和485芯片U31第一脚;所述电容C45跨接在232芯片第一脚和第三脚之间;所述电容C46跨接在232芯片第四脚和第五脚之间;所述232芯片U22第十三脚和十四脚分别连接通信接口 Jll ;所述232芯片U22第十六脚分别连接电源VCC和电容C49 ;所述电容C47 —端连接电源VCC,另一端连接232芯片U22第二脚;所述电容C47 —端连接电源地,另一端连接232芯片U22第六脚;所述232芯片U22第十五脚连接地;所述485芯片U31第二脚和第三脚分别连接CPU ;所述485芯片U31第五脚分别连接地和电阻R71 ;所述485芯片U31第六脚分别连接电阻R86和通信接口 Jll ;所述电阻R70分别连接电源VCC、485芯片U31第七脚及电阻R86。
7.根据权利要求1-6任一所述的多路电阻测试仪电路,其特征在于,所述恒流源电路包括四路恒流源和恒流源接口 JlO ;所述恒流源接口 JlO通过四路恒流源连接CPU。
【专利摘要】本实用新型公开了一种多路电阻测试仪电路,包括:时钟电路、AD信号采样处理电路、LCD显示驱动电路、功能按钮电路、通信接口电路、恒流源电路、继电器电路及CPU;所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、LCD显示驱动电路、键盘接口电路、通信接口电路、恒流源电路及继电器电路。本实用新型只需操作人员将被测电磁铁与测试接口连接好,启动功能设置按钮模块中的快检或精检按钮,本实用新型根据事先设定的程序对被测电磁铁进行各种参数测试,操作人员无需具备专业知识,并且检测速度快,检测效率高,除对单个电磁铁进行测试外,本实用新型还适用于流水线的大批量生产,从而在保证质量的同时提高工作效率。
【IPC分类】H03K19-0175, G01R27-02, G09G3-36, G01R1-30
【公开号】CN204556729
【申请号】CN201420858043
【发明人】李军银, 魏伟, 张弘文
【申请人】西安宝力电子科技有限公司
【公开日】2015年8月12日
【申请日】2014年12月30日
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