一种用于无过零检测ic的测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及开关电源检测领域，特别是涉及一种用于无过零检测IC的测试
目.0
【背景技术】
[0002]电源管理芯片在做成成品电源后，如果有焊接不良或者元器件故障，在通入220VAC后会炸机造成返修难度增加，PCB损坏，配电箱跳匝，更严重者操作员会被炸裂的元器件残片所损伤。因此在通电之前对电源管理芯片做一个简单的模拟测试，检查相关波形是否正常非常必要。
【实用新型内容】
[0003]本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种用于无过零检测IC的测试装置，通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减少半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。
[0004]本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测的半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。
[0005]所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。
[0006]所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。
[0007]所述的直流电源为输出电压能够根据具体需求而调整的直流电源。
[0008]所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。
[0009]本实用新型的有益效果是:本实用新型通过直流电源和示波器/万能表，简单有效地检测出待测试集成电路是否正常，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。
【附图说明】
[0010]图1为本实用新型的结构框图；
[0011]图2为本实用新型待测试集成电路的电路图。
【具体实施方式】
[0012]下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案，但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
[0013]如图1所示，一种用于无过零检测IC的测试装置，它包括直流电源、测试结果显示单元和待测试集成电路，所述待测试集成电路为无过零检测半成品电路，待测试集成电路上集成有能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的待测试芯片。
[0014]所述直流电源的电源输出端与待测试芯片的相关输入引脚连接，测试结果显示单元的输入端与待测试芯片的相关输出引脚连接。
[0015]所述的测试结果显示单元包括示波器和万用表中的一种或多种的组合。
[0016]所述的直流电源的输出电压能够根据具体需求而调整。
[0017]所述的待测试集成电路还包括一个或多个与待测试芯片的输入引脚和输出引脚相对应连接的外围电路，直流电源的电源输出端还与外围电路的电源输入端连接，测试结果显示单元的输入端与外围电路的输出端连接。
[0018]所述的待测试集成电路为能够直接通过直流电源给相关引脚提供所需直流电压的开关电源1C，一般为半成品集成电路板，可直接通过直流电源和示波器或万用表，检测待检测芯片的输出参考电压或脉宽调制信号是否正常。所述的待测试芯片为电源管理芯片，例如TI公司的UC3845，ST公司L6599以及ON公司的NCP1654等等。
[0019]在拿到一张加工好的电路板，通电之前需要检测加工是否良好，必须对该电路板的芯片功能进行检测。
[0020]本实用新型根据待测试集成电路的产品规格书，首先需要了解该待测试集成电路中，待测试芯片各个引脚的功能，初步判断区分其输入引脚和输出引脚，再通过直流电源给待测试集成电路的输入引脚输入其所需要的电压，再用示波器或者万用表检测该待测试集成电路的输出电压或频率是否正常。
[0021]本实用新型通过直流电源对待测试集成电路进行检测，能够有效的减小半成品电路板的强电损坏，从而减少元器件的损坏，并节省人力返修。提高了良品率和工作效率。
[0022]本实用新型还可以验证待测试集成电路的周边元器件的性能、焊接等特性是否良好。参照产品规格文档，给目标器件的对应引脚施加合理电压，观察输出点是否正常，如果有器件虚焊，或者损坏，那么输出针脚的输出信号产生的电压或频率的异常，就会在电压表或示波器上反应出来，从而可以检查出该半成品是否合格。
[0023]如图2所示，待测试集成电路中包括待测试芯片、整流器、启动电路、分压电路、开关电路、电流采样电路和振荡电路，还包括变压器、环路补偿电路等，其中，直流电源根据测试需要分别与启动电路、分压电路、保护电路、环路补偿电路、稳压电路、开关电路、电流采样电路和振荡电路连接。
[0024]待测试芯片为UC3845，芯片UC3845包括8个引脚，其中:
[0025]第I引脚:补偿输出端，该管脚为误差放大器输出，并可用于环路补偿；
[0026]第2引脚:电压反馈输入端，该管脚是误差放大器的反向输入端，通常通过一个电阻分压器(分压电路)连至开关电源(直流电源)输出；
[0027]第3引脚:采样电流输入端，一个正比于电感器电流的电压接至此输入，脉宽调制器使用此信息中止输出开关的导通；
[0028]第4引脚:频率控制输出端，通过将电阻R6连接至参考电压Vref以及电容C6连接至地，使振荡电路频率和最大输出占空比可调，工作频率达IMHz ；
[0029]第5引脚:接地端，该管脚是控制电路和电源的公共地；
[0030]第6引脚:开关控制输出端，该输出直接驱动功率MOSFET开关管Ql的栅极，高达IA峰值电流经此管脚拉和灌，输出开关频率为振荡器频率的一半；
[0031]第7引脚:电源输入端，该管脚是控制集成电路的正电源；
[0032]第8引脚:参考电压输出端，该管脚为参考电压Vref输出，它通过电阻R6向电容C6提供充电电流。
[0033]该待测试集成电路中，第3引脚、第7引脚为主要的输入引脚，第6引脚、第8引脚为主要的输出引脚。只需要通过直流电源给第7引脚提供一个稳定的13V工作电压，此时若该待测试集成电路正常，则其第8引脚输出为5V电平，通过振荡电路形成一个锯齿波，决定第6引脚的输出方波的频率，而调整第7引脚的电压则可以改变第6引脚输出方波的占空比，从而在示波器或电压表上查看到待测试集成电路的输出状况，与该芯片的产品规格书上的数据相对比，即可知道该待测试芯片是否正常。
[0034]如图2所示，变压器包括初级绕组NP、辅助绕组NC和输出绕组NS，辅助绕组NC与待测试集成电路的电压反馈输入端和待测试集成电路的VCC输入端通过整流电路连接，辅助绕组NC的同名端与地对接，辅助绕组NC与输出绕组NS同相位且成固定匝数比的关系，检测辅助绕组NC的电压即使检测输出电压，辅助绕组NC通过分压电路与待测试芯片的电压反馈输入端连接，输出绕组NS包括输出绕组N5和输出绕组NI2。
[0035]初级绕组NP的周边电路包括电阻Rl2、电容C9和二极管D4，并联的电阻R12和电容C9