一种基于辐射源方式的绝缘材料的测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种绝缘材料的测试领域，尤其涉及一种基于辐射源方式的绝缘材料对电接触性能影响的测试装置。
【背景技术】
[0002]电力行业快速发展，给其他行业带来了众多便利，但是电气火灾事故的频发，也给企业生产、居民生活带来了很大损失和不便。电气线路和用电设备，在经过长时间的过负荷运行或者存在不良的电气连接等情况，导致绝缘层出现老化、破损和接触不良等问题，就可能引发电气事故。绝缘材料的可靠性是电气设备安全稳定运行的重要基础，因此，进行绝缘材料对电接触性能影响的测试评估是有重要意义的。
[0003]绝缘材料在高热环境下会部分挥发，沉积在电接触设备表面，给电路造成负担，对电接触表面接触电阻产生影响。目前，对绝缘材料的检测主要关注的是绝缘材料本身的机械损耗、老化等问题(中国专利申请号:201210510916.2)，并没有一种标准的方式来检测绝缘材料在电接触装置中对电接触性能造成的影响。因此提出一种标准化的方式来检测绝缘材料对电接触性能的影响。
【实用新型内容】
[0004]为解决现有绝缘材料对电接触性能影响检测的不足，本实用新型的目的在于提供一种绝缘材料对电接触性能影响的可标准化的测试装置，利用标准辐射源来模拟真实环境中电火花，并通过四端子法测量不同绝缘材料下的电接触表面接触电阻值，分析绝缘材料对电接触性能影响，以实现对绝缘材料的选择。
[0005]为实现上述目的，本实用新型将采用如下技术方案:
[0006]本实用新型提供一种基于辐射源方式的绝缘材料的测试装置，包括:
[0007]用于模拟真实环境中的电火花的辐射源；
[0008]用于电触头接触或分离的伺服电机；
[0009]用于伺服电机的控制部件；
[0010]用于测量接触电阻的接触电阻测量电路；
[0011]用于整个装置的MCU控制器；其中:
[0012]MCU控制器发出信号给用于伺服电机的控制部件，控制所述伺服电机的运动时间、速度和方向，MCU控制器按照设定的对接触电阻进行检测的频率，发送信号至接触电阻检测电路，开启接触电阻检测，并将检测信号返回至MCU控制器保存。
[0013]优选地，所述装置进一步包括密闭测试箱，所述的辐射源、被测量的绝缘材料、电触头材料以及电触头的支架均位于密闭测试箱中，密闭测试箱保证了绝缘材料的测试环境是恒温的。
[0014]优选地，所述的密闭测试箱内放置有温度控制器，以保证绝缘材料检测是在恒温下进行的电气性能检测。
[0015]优选地，所述用于伺服电机的控制部件可以采用伺服电机驱动器。
[0016]优选地，所述的MCU控制器，在间隔N次电接触材料接触后测试一次接触电阻。MCU控制器产生一路控制信号给伺服电机驱动器，用于控制伺服电机运动时间、速度和方向，同时对电触头接触次数计数，当到达N次时，发送信号至接触电阻检测电路，开启接触电阻检测。
[0017]优选地，所述的接触电阻检测电路的输出信号连接放大滤波电路信号输入端，放大滤波电路的输出端连接于MCU控制器。
[0018]优选地，所述的MCU控制器中设有拨码开关，当更换绝缘材料时，改变拨码开关值，一种绝缘材料对应一个拨码开关值。
[0019]优选地，所述的MCU控制器内存储下每次测量的接触电阻，可得到同一种绝缘材料在不同温度下，接触电阻随时间的变化，也可得到不同绝缘材料在相同温度下，接触电阻随时间的变化。
[0020]由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是:
[0021]本实用新型填补了原有技术在这方面的不足，在相同辐射强度下，对每种绝缘材料下的触头材料的接触电阻的检测，通过对接触电阻随时间的变化特征，判断该绝缘材料是否适合在中低压电器开关中使用。
【附图说明】
[0022]图1为本实用新型【具体实施方式】的装备简图。
[0023]图中，I是绝缘材料，2是辐射源，3是动触头，4是静触头，5是固定支架，6是弹簧杆，7是凸轮传动装置，8是伺服电机，9是接触电阻测量电路，10是MCU控制器，11是测试箱，12是装备箱。
【具体实施方式】
[0024]以下对本实用新型的技术方案作进一步的说明，以下的说明仅为理解本实用新型技术方案之用，不用于限定本实用新型的范围，本实用新型的保护范围以权利要求书为准。
[0025]实施例1
[0026]如图1所示，本实施例提供一种基于辐射源方式的绝缘材料的测试装置，图中:作为被测试对象的绝缘材料1、动触头3和静触头4，以及用于固定动、静触头的固定支架5，所述装置包括:
[0027]用于模拟真实环境中产生电火花的辐射源2 ;
[0028]用于控制动触头运动的伺服电机系统，包括伺服电机8、凸轮7、弹簧杆6 ;
[0029]用于伺服电机的控制部件，如伺服电机控制器；
[0030]用于测量接触电阻的接触电阻测量电路9 ;
[0031]用于整个装置的MCU控制器10 ;其中:
[0032]所述MCU控制器10连接所述用于伺服电机的控制部件，所述用于伺服电机的控制部件连接所述用于电触头接触或分离的伺服电机8 ;所述MCU控制器10连接所述用于测量接触电阻的接触电阻测量电路9 ;所述MCU控制器10发出信号给所述用于伺服电机的控制部件，控制所述伺服电机8的运动时间、速度和方向，MCU控制器10按照设定的对接触电阻进行检测的频率，发送信号至所述接触电阻检测电路9，开启接触电阻检测，并将检测信号返回至所述MCU控制器10保存。
[0033]本实施例中，所述的接触电阻测量电路9用于接触电阻测量，从动、静触头3、4分别引出一根导线接入接触电阻测量电路输入端中，对测量出的信号做处理后接到MCU控制器10的输入端。
[0034]本实施例中，MCU控制器10发送信号至伺服电机驱动器，控制伺服电机工作，凸轮传动装置7在伺服电机的带动下