CCD探测器。
[0034]前述中，多维调整系统5为电控多维精密调整系统，多维调整系统5与显微成像系统4连接，主要用于自动控制显微成像系统4上下、前后、左右移动精密微调，以精确扫描不同视场的焦面位置。多维调整系统5上有多维位移台，可保证探测系统与被测试样品间能够延X、Y、Z三个方向自由相对运动。此结构可承载最大负载重量为15kg，上下高程为± 25mm，前后及左右行程分别为± 25mm，分辨率为0.2 μ m，精度为Ιμπι。
[0035]前述中，控制系统及终端6可实现被测星敏感器像面位置的精确扫描。控制系统及终端6安装在多维调整系统5旁。控制系统及终端6中安装并连接数据采集与处理系统，通过工控机控制显微探测系统进行图像采集，并对采集的图像进行处理，生成测试报告。另夕卜，工控机完成对高精度二维转台的控制，并配合电控多维精密调整系统自动扫焦，完成焦距、畸变、弥散斑等自动化测试。另外，工控机中的图像处理软件可用于星敏感器CCD探测器所采集的图像处理。
[0036]前述中，如附图4所示，数控精密转台7为超高精度静压数控垂直轴一维转台，可实现绕光轴任意旋向角的任意水平视场的模拟测试，可实现星敏感器光轴相对于平行光管I光轴精确控制，另外与安装待测产品的电控旋转台一起能真实地模拟各离轴角的精确姿态。数控精密转台7转台负载能力不小于50kg，测角精度要求较高，均方根测角精度须优于0.3"，角速度为 ±0.01° /s-5° /s，转动范围满足 ±180° X±180°。
[0037]本实用新型实施例中，技术要求包括，平行光管I光管口径D = Φ300πιπι;光管焦距f彡2000mm;光谱范围:0.2μπι?1.4 μm ;出口光束平行度彡10";中心设计波长
0.55 μ m ;系统波像差优于(1/20) λ (λ = 0.6328 μ m，RMS值)；配合光源积分球可进行星等模拟，星等(视星等)模拟彡7等星(7、6、5、4、3、2、1、0等星8档)；星等模拟精度±0.3等星。宽光谱光功率计光谱范围0.2 μ m?1.4 μ m ;分辨率I μ W ;动态范围彡40dB ;响应度彡100 μ S。高精度照度计光谱范围0.2 μπι?1.4 μπι;测量分辨率优于10_41χ ;动态范围彡60dB ;测量不确定度优于20Z0o反射镜光谱范围0.38 μπι?0.8 μπι;反射率彡96% ;通光口径多Φ300πιπι。工装能够满足星敏感器各指标测试时的稳定装夹。环境指标要求，整套系统设备对工作环境中的电源、温度、洁净度、湿度等的要求，不得高于以下标准:光学暗室:工作波段内，平均消光率96% ;工作电压220V±10%，50Hz±20% ;储存洁净度要求:10万级；储存温度:-20?+60°C;工作温度:+15°C?+25°C;相对湿度要求:30%?70%;设备在光学精密检测、装调车间的环境条件下均能可靠工作。光源积分球2光谱范围0.2 μπι?
1.4 μπι;可保证被测器件接收面处的照度:基本档0.0Ollx?3001χ连续可调；面光源的孔径Φ60πιπι ;面光源的均匀性> 98%;配备4个溴钨灯(50W、35W、20W、10W);光源积分球2直径Φ500πιπι，结构设计要求无漏光。数控精密转台7载重彡50Kg ;工件最大直径200mm ;承载空间可以安装最大直径500_工件，数控精密转台7工作台面位置精度:垂直轴0.3"(均方根值)，水平轴普通精度；转动范围:±180° X ± 180° ;速率精度控制:优于0.01° /S。
[0038]本实用新型实施例中，由于被测星敏感器物镜要求在全视场进行畸变、弥散斑等测试，为避免星敏感器视场较大，而显微成像系统4探测器尺寸不足，需在像面设计成一种线扫描机构来确保进行视场扫描时，被测星像横向位移能够完全测试到，从而确保实现用户需要的功能。
[0039]本实用新型实施例中，软件模块分为:工作焦距(EFL)测试模块、镜头畸变测试模块、光电探头畸变测试模块、透过率测试模块、散斑测试模块、后工作距(BFL)测试模块、杂散光保护角测试模块、平均消光效率测试模块、星等模拟输出模块。
[0040]本实用新型可以实现在同一台设备上进行:
[0041]a.可测镜头实际工作焦距；
[0042]b.可测镜头各个视场内的畸变；
[0043]c.可测镜头和CXD探测器组成光电探头的畸变；
[0044]d.可测镜头在中心波长内的透过率；
[0045]e.可对镜头于工作波段范围内的实际弥散斑大小测试；
[0046]f.可测光电探头的后工作距；
[0047]g.可测遮光罩的杂散光保护角；
[0048]h.可测相应保护角下的平均消光效率(消光系数)；
[0049]1.能兼顾保护测试人员、产品和设备的安全；
[0050]j.具备维护简单、管理容易、使用安全、可靠方便等特点。
[0051]本实用新型中，保证设备有智能化的性能，将电控多维精密调整系统、显微探测系统、超高精度高数控静压转台、图像采集部分，集成在一台工控机上来完成。工控机与其它系统控制单元安装在标准机柜中，最后可通过软件的集成化来完成该测试系统的所有功能性指标。
[0052]本实用新型不局限于上述的实施例，本领域技术人员做出非实质性的改变，均落入本实用新型的保护范围。
【主权项】
1.应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，包括平行光管(I)、光源积分球(2)、多维调整系统(5)、数控精密转台(7)、移动导轨⑶和手摇升降台(11);其特征在于，平行光管(I)旁安装光源积分球(2)，在平行光管(I)开口前方安装多维调整系统(5)，多维调整系统(5)上安装手摇升降台(11)，在手摇升降台(11)上安装数控精密转台(7)，在数控精密转台(7)上安装移动导轨(8)多维调整系统(5)固定在移动导轨(8)上。2.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，显微成像系统(4)安装在多维调整系统(5)上，多维调整系统(5)旁安装控制系统及终端(6)，控制系统及终端(6)分别与平行光管(I)、光源积分球(2)、显微成像系统(4)、多维调整系统(5)以及气浮转台(9)连接。3.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，多维调整系统(5)上安装显微成像系统(4)，显微成像系统(4)中包含探测器(10)。4.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，移动导轨(8)为具有滑动机构的板型承载装置，其端部连接电机驱动部件。5.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，平行光管(I)和显微成像系统(4)与待测产品(3)同轴安置，其中待测产品(3)位于平行光管(I)和显微成像系统(4)之间。6.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，平行光管⑴采用离轴抛物面反射结构，焦点位于侧面，开口直径为?300mm。7.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，光源积分球⑵内部采用溴钨灯作为光源，出口处的光辐射面均匀性达到98%，±30度内角均匀性为98%。8.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，显微成像系统(4)输出连接工控机视频采集口，其中，探测器(10)选用高精度宽谱段CCD，其分辨率为1024 X 1024，像元尺寸为12 μ m。9.如权利要求1所述的应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备，其特征在于，移动导轨(8)上的多维调整系统包含多个高精度电动位移台，其中显微成像系统(4)安装平台，最大负载重量为15kg，上下高程为±25mm，前后及左右行程分别为±25mm，分辨率为0.2 μπι，精度为I μπι。
【专利摘要】应用于卫星定位星敏感光学系统指标调整检测设备,平行光管(1)旁安装光源积分球(2)，在平行光管(1)开口前方安装多维调整系统(5)，多维调整系统(5)安装在移动导轨(8)上，手摇升降台(11)解决了光源积分球(2)和待测产品(3)与平行光管(1)相对高度配合问题。多维调整系统(5)上安装显微成像系统(4)，多维调整系统(5)旁安装控制系统及终端(6)，在同一设备上即可解决星敏感器性能指标的所有测试，又能确保测试精度，显著提高星敏感器光学系统的测试调整效率。能兼顾保护测试人员、产品和设备的安全，维护简单，管理容易，使用可靠方便。
【IPC分类】G01C25/00
【公开号】CN204788422
【申请号】CN201520476712
【发明人】李康, 刁海南, 段学庭
【申请人】上海一航凯迈光机电设备有限公司
【公开日】2015年11月18日
【申请日】2015年7月2日