一种功函数测量装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种功函数测量装置，特别适用于实验室或企业对微粉煤、半生矿物质以及摩擦材料的功函数测量。
【背景技术】
[0002]目前，测量功函数的方法有光电子发射法、热电子发射法、场致发射法、扫描隧道显微镜以及开尔文探针法等。前面的几种方法均有一定的局限性，光电子发射法、热电子发射法、场致发射法只适合固体样品的测量。扫描隧道显微镜法则要求样品表面必须带电，故只适用于导体的测量。综上所述对于粉体类大部分绝缘体，因其表面不能导电，故上述方法均不宜采用。
【发明内容】
[0003]针对上述方法的局限性，提供了一种方便、快捷测量粉体类物质表面功函数的装置。
[0004]为实现上述目的，本实用新型功函数测量装置包括屏蔽装置与测量装置。屏蔽装置主要是一个屏蔽罩以及上面两个金属端面，二者合在一起构成一个金属屏蔽空间，供测量装置进行功函数测定。测量装置部分主要是振动器、固定接触端以及盛放物料的托盘与支架。
[0005]—种功函数测量装置，其特征在于:内部测量装置主要包括振动器与物料托盘，振动器产生的规则振动使得固定接触端与物料间距往复改变产生电势;底部接线从物料托盘穿过物料台与外部电路连接。
[0006]根据上述的一种功函数测量装置，其特征在于:屏蔽外壳、上顶面以及下底面全部为金属材料。
[0007]有益效果:本实用新型中，振动器振动频率由信号源实时给定，对于不同样品参数所需的振动频率不同，可以实现方便的调节，让装置的测量用途有很大的提升。在测量过程中，信号源的实时调节可以在振动器上直接观察出来，便于调节出最佳效果;下端信号经外部电路可在示波器上实时显示记录，便于后期处理;测量装置结构简单，制作成本低，无需借助大型复杂仪器，可以有效降低功函数测量成本。
【附图说明】
[0008]图1:本实用新型测量装置屏蔽外壳正等轴测图
[0009]图2:本实用新型测量装置内部结构正等轴测图
[0010]图中:I一屏蔽外壳，2—接线出口，3—上顶面，4一振动器，5—连接轴，6—固定接触端，7—物料托盘，8—支架，9一下底面，1—物料台
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图对本实用新型作具体描述:
[0012]如图1所示，测量装置的金属屏蔽外壳，在其上有接线口2，全金属的材料，完全屏蔽外界信号的干扰；
[0013]如图2所示，内部的测量装置，上端与外界信号源连接，下端通过连接轴5与固定接触端6连接;所述固定接触端6与物料托盘7之间存在5-10mm间距，用于放置物料以及预留振动空间；物料托盘7置于物料台10上面，物料台10放置于下底面9上;物料托盘7内部有导线通过物料台10与锁相放大器连接。
[0014]工作过程:测量时，信号源导线与振动器4连接，物料托盘7添加好测量样品，内部导线与外部电路连接;检查连线，调整信号源振动频率，观察振动器4振动情况，目测固定接触端6与物料托盘7上的样品距离约为2-5mm;振动稳定后，将屏蔽外壳I完全罩在测量装置上，内部所有导线全部通过接线出口 2与外界连接。
【主权项】
1.一种功函数测量装置，其特征在于:内部测量装置主要包括振动器(4)与物料托盘(7)；底部接线从物料托盘(7 )穿过物料台(1 )与外部电路连接。2.根据权利要求1所述的一种功函数测量装置，其特征在于:屏蔽外壳(1)、上顶面(3)以及下底面(9)全部为金属材料。
【专利摘要】一种功函数测量装置，适用于企业或者实验室对微粉煤、伴生矿物质和摩擦材料的功函数进行测量研究。装置主要包括屏蔽罩、测量装置。测量装置放置于屏蔽罩里面，测量装置主要有振动器、连接轴、固定接触端、物料托盘以及物料支撑架组成。该装置振动器与振动信号源连接，产生给定频率振动；物料托盘与外部电路连接，进行接触电势差的测量，进而得出所测物质功函数。
【IPC分类】G01N27/22
【公开号】CN205210013
【申请号】CN201520816443
【发明人】朱劲松, 何鑫, 陈晓炜
【申请人】中国矿业大学
【公开日】2016年5月4日
【申请日】2015年10月22日