电源同时对熔断器进行测试又可以模拟三相短路的情况。
[0031 ] 实施例三
[0032]图4为本实用新型提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置再一个实施例的结构示意图，其可视为图2的具体实现方式。
[0033]如图4所示，在图2的基础上，该测试装置还包括串联单元，串联单元包括依次串联连接的电感L、电阻R和第一开关装置Kl;第一连接支路及第二连接支路上设置有串联单元，各串联单元中的第一开关装置Kl的一端与三相交流电源导通或断开连接。
[0034]在本实施例中，第一开关装置Kl优选为安装在距离交流电源较近的位置，以便于快速切换交流电源的供电和断电，防止电感L和电阻R中的电流发生震荡，损坏电路中的元件。进一步地，本实施例对电感L和电阻R在电路的位置不严格要求。
[0035]优选地，每一串联单元还可以包括依次串联连接的第二开关装置K2、电感L、电阻R及第一开关装置K1，当熔断器接入端口 2位于相应连接支路的IGBT半桥臂模块I的桥臂中点或下桥臂与第二开关装置K2之间时，各连接支路分别通过第二开关装置K2与IGBT半桥臂模块I导通或断开连接。
[0036]在本实施例中，第二开关装置K2优选为安装在靠近熔断器接入端口2的一侧，以便于快速开启或关闭对熔电器的测试试验，避免电流过大对熔断器或IGBT半桥臂模块I造成损坏。
[0037]图5为本实用新型提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置又一个实施例的结构示意图，其可视为图3的具体实现方式，如图5所示，在图3的基础上，第一连接支路S1、第二连接支路S2及第三连接支路S3上设置有串联单元，每一串联单元包括依次串联连接的第二开关装置K2、电感L、电阻R及第一开关装置Kl。
[0038]优选地，上述第一开关装置Kl和第二开关装置K2为触点开关或单刀开关，使用触点开关可实现快速的切换测试试验的启动和停止，使用单刀开关可使线路接触良好，避免出现虚连的情况。
[0039]进一步地，上述应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置中还包括三相交流电源，三相交流电源中的A相、B相和C相的相电压端分别与第一连接支路S1、第二连接支路S2和第三连接支路S3连接，以为测试装置提供交流供电环境。
[0040]本实用新型实施例提供的应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，通过采用一个IGBT半桥臂模块完成测试单相短路的搭建，既减小了器件体积，便于携带，又节省了成本；同时在三相交流电源对IGBT半桥臂模块的激励下，该装置还能够测试三相短路的情况，更加完备的测试了熔断器的保护性能，比现有的单相交流电源的检测功能更丰富、测试效果更可靠。
[0041]需要指出，根据实施的需要，可将本申请中描述的各个步骤/部件拆分为更多步骤/部件，也可将两个或多个步骤/部件或者步骤/部件的部分操作组合成新的步骤/部件，以实现本实用新型的目的。
[0042]上述根据本实用新型的方法可在硬件、固件中实现，或者被实现为可存储在记录介质(诸如CD R0M、RAM、软盘、硬盘或磁光盘)中的软件或计算机代码，或者被实现通过网络下载的原始存储在远程记录介质或非暂时机器可读介质中并将被存储在本地记录介质中的计算机代码，从而在此描述的方法可被存储在使用通用计算机、专用处理器或者可编程或专用硬件(诸如ASIC或FPGA)的记录介质上的这样的软件处理。可以理解，计算机、处理器、微处理器控制器或可编程硬件包括可存储或接收软件或计算机代码的存储组件(例如，RAM、R0M、闪存等)，当所述软件或计算机代码被计算机、处理器或硬件访问且执行时，实现在此描述的处理方法。此外，当通用计算机访问用于实现在此示出的处理的代码时，代码的执行将通用计算机转换为用于执行在此示出的处理的专用计算机。
[0043]以上所述，仅为本实用新型的【具体实施方式】，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
【主权项】
1.一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，其特征在于，包括:一个IGBT半桥臂模块(I)、第一连接支路(SI)和第二连接支路(S2);以及在所述第一连接支路(SI)或所述第二连接支路(S2)上设置的熔断器接入端口(2);所述IGBT半桥臂模块(I)的上、下桥臂连接;所述第一连接支路(SI)—端与所述IGBT半桥臂模块(I)的桥臂中点连接、另一端与三相交流电源的A相连接;所述第二连接支路(S2)—端与所述IGBT半桥臂模块(I)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的B相连接。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括:第三连接支路(S3)，所述第三连接支路(S3)—端与所述IGBT半桥臂模块(I)的下桥臂连接、另一端与所述三相交流电源的C相连接；当所述第二连接支路(S2)上设置有所述熔断器接入端口(2)时，所述第三连接支路(S3)一端通过所述熔断器接入端口(2)与所述IGBT半桥臂模块(I)的下桥臂连接。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括串联单元，所述串联单元包括依次串联连接的电感(L)、电阻(R)和第一开关装置(Kl);所述第一连接支路(SI)及所述第二连接支路(S2)上设置有所述串联单元，或者，所述第一连接支路(SI)、所述第二连接支路(S2)及所述第三连接支路(S3)上设置有所述串联单元，各所述串联单元中的所述第一开关装置(Kl)的一端与所述三相交流电源连接。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，每一所述串联单元包括依次串联连接的第二开关装置(K2)、所述电感(L)、所述电阻(R)及所述第一开关装置(Kl)。5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置中还包括所述三相交流电源。6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述第一开关装置(Kl)和所述第二开关装置(K2)为触点开关或单刀开关。
【专利摘要】本实用新型实施例提供了一种应用于IGBT模块中的熔断器的测试装置，其包括：一个IGBT半桥臂模块、第一连接支路和第二连接支路；以及在第一连接支路或第二连接支路上设置的熔断器接入端口；IGBT半桥臂模块的上、下桥臂连接；第一连接支路一端与IGBT半桥臂模块的桥臂中点连接、另一端与外接的三相交流电源的A相连接；第二连接支路一端与IGBT半桥臂模块的下桥臂连接、另一端与三相交流电源的B相连接。本实施例通过采用一个IGBT半桥臂模块便可完成测试单相短路的搭建，以检测熔断器对续流二极管的保护能力，既减小了器件体积，便于携带，又节省了成本。
【IPC分类】G01R31/07
【公开号】CN205317884
【申请号】CN201521127606
【发明人】黄晓波, 张国驹, 刘炳
【申请人】北京天诚同创电气有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2015年12月29日