一种测试工装的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测试工具，尤其涉及一种测试工装。
【背景技术】
[0002]随着生产劳动成本的增加，生产机械化进程的加快，在基板调试过程中，能够避免测试过程中繁琐的工序、简化测试过程、提高测试效率的测试工装显得尤为重要。
[0003]—般情况下，在电子电路板的基板调试过程中，也会使用一些简单的测试工装，比如说万用表，测试项目较单一，不能综合对电路板进行全面地测试。特别是在测试过程中，有些测试点需要导通才能进行的情况下，通常是先用飞线将两个测试点通过焊接电连接，再进行测试，完成测试后，再将飞线焊离电子电路板。因此，工序仍然较复杂，测试效率低，劳动成本高。到目前为止，申请人没有发现有人在简化测试过程、提高测试效率方面做出显著的改进。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型要解决的技术问题是提供了一种测试工装，该测试工装能够批量快速测试，自动化程度高，测量效率高，可实现全自动、快速测量。
[0005]为了解决上述技术问题，本实用新型提供的测试工装，包括用于显示测试结果并发送测试命令和波形数据的上位计算机、与上位机连接的测试控制单片机、与单片机连接的多路测试电路和与多路测试电路连接的测试针床;所述多路测试电路有一个使能导通电路，所述使能导通电路包括两个高速模拟开关，所述两个高速模拟开关有多路开关输出、一路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输入与多路开关输出之一导通的导通选择端，所述两个高速模拟开关的多路开关输出分别连接测试针床的不同测试点，所述两个高速模拟开关的开关输入相互连接，所述两个高速模拟开关的导通选择端连接单片机的控制输出端。
[0006]所述多路测试电路还包括短路测试电路和电压测试电路；
[0007]所述短路测试电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和高速模拟开关，所述高速模拟开关有一路开关输出、多路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输出与多路开关输入之一导通的导通选择端，所述第一电阻、第二电阻、第三电阻依次串接，所述第一电阻和所述第二电阻的连接一端与所述测试控制单片机的模数转换输入端连接，所述第二电阻和所述第三电阻的连接一端与所述高速模拟开关的开关输出端连接，所述高速模拟开关的多路开关输入端连接所述测试针床，所述高速模拟开关的导通选择端与所述测试控制单片机的控制输出端连接，所述第三电阻的另一端连接一个电源，所述第一电阻的另一端接地；
[0008]所述电压测试电路包括第一电阻、第二电阻和高速模拟开关，所述高速模拟开关有一路开关输出、多路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输出与多路开关输入之一导通的导通选择端，所述第一电阻和所述第二电阻相串接，所述第一电阻和所述第二电阻的连接一端与所述测试控制单片机的模数转换输入端连接，所述第二电阻的另一端与所述高速模拟开关的开关输出连接，所述高速模拟开关的多路开关输入连接所述测试针床，所述高速模拟开关的导通选择端与所述测试控制单片机的控制输出端连接。
[0009]所述多路测试电路还包括电流测试电路，所述电流测试电路包括电流测量芯片，所述电流测量芯片的电流输入端连接一个电源，所述电流测量芯片的电流输出端与所述测试针床连接，电流测量芯片的控制测量端连接所述测试控制单片机。
[0010]所述多路测试电路还包括波形输出测试连接电路和波形采集接测试通电路，所述波形输出测试连接电路包括高速模拟矩阵开关，所述高速模拟矩阵开关有多路开关输出、一路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输入与多路开关输出之一导通的导通选择端，所述高速模拟矩阵开关的开关输入与所述测试控制单片机的数模转换输出端连接，所述高速模拟矩阵开关的开关输出与所述测试针床连接;所述波形采集接测试通电路包括高速模拟开关，所述高速模拟开关有多路开关输出、一路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输入与多路开关输出之一导通的导通选择端，高速模拟开关的输出连接所述测试控制单片机的模数转换输入端，高速模拟开关的输入连接所述测试针床。
[0011]本实用新型的测试工装与现有技术相比具有以下有益效果。
[0012]1、本技术方案由于采用了所述多路测试电路有一个使能导通电路，所述使能导通电路包括两个高速模拟开关，所述两个高速模拟开关有多路开关输出、一路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输入与多路开关输出之一导通的导通选择端，所述两个高速模拟开关的多路开关输出分别连接测试针床的不同测试点，所述两个高速模拟开关的开关输入相互连接，所述两个高速模拟开关的导通选择端连接单片机的控制输出端的技术手段，可在上位计算机的设置下通过使能导通电路使两个测试点导通，不必焊接飞线，能够真正提高测试效率、节约劳动成本。
[0013]2、本技术方案由于采用了所述多路测试电路还包括短路测试电路和电压测试电路;所述短路测试电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和高速模拟开关，所述高速模拟开关有一路开关输出、多路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输出与多路开关输入之一导通的导通选择端，所述第一电阻、第二电阻、第三电阻依次串接，所述第一电阻和所述第二电阻的连接一端与所述测试控制单片机的模数转换输入端连接，所述第二电阻和所述第三电阻的连接一端与所述高速模拟开关的开关输出端连接，所述高速模拟开关的多路开关输入端连接所述测试针床，所述高速模拟开关的导通选择端与所述测试控制单片机的控制输出端连接，所述第三电阻的另一端连接一个电源，所述第一电阻的另一端接地;所述电压测试电路包括第一电阻、第二电阻和高速模拟开关，所述高速模拟开关有一路开关输出、多路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输出与多路开关输入之一导通的导通选择端，所述第一电阻和所述第二电阻相串接，所述第一电阻和所述第二电阻的连接一端与所述测试控制单片机的模数转换输入端连接，所述第二电阻的另一端与所述高速模拟开关的开关输出连接，所述高速模拟开关的多路开关输入连接所述测试针床，所述高速模拟开关的导通选择端与所述测试控制单片机的控制输出端连接的技术手段，所以，可用于测试基板电地是否短路以及基板各测试点电压，电压测试电路的元器件少，连接结构简单，降低生产成本。
[0014]3、本技术方案由于采用了所述多路测试电路还包括电流测试电路，所述电流测试电路包括电流测量芯片，所述电流测量芯片的电流输入端连接一个电源，所述电流测量芯片的电流输出端与所述测试针床连接，电流测量芯片的控制测量端连接所述测试控制单片机的技术手段，所以，可用于测试基板的输入电流，电流测试电路的元器件少，连接结构简单，降低生产成本。
[0015]4、本技术方案由于采用了所述多路测试电路还包括波形输出测试连接电路和波形采集接测试通电路，所述波形输出测试连接电路包括高速模拟矩阵开关，所述高速模拟矩阵开关有多路开关输出、一路开关输入、导通选择端，所述导通选择端是选择一路开关输入与多路开关输出之一导通的导通选择端，所述高速模拟矩阵开关的开关输入与所述测试控制单片机的数模转换输出端连接，所述高速模拟矩阵