专利名称：按键功能测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种按键测试系统及方法，尤其涉及一种按键功能测试系统及方法。
背景技术：
手机在出厂前为确保其质量必须对其各个部件性能进行严格的测试，测试项目包括按键功能测试、温度测试、硬度测试、信号接收器测试等。以前的按键功能测试系统一般都采用人工测试，但是手机功能众多，并且回归测试工作量大，如果测试工程师仅靠手动按键来执行所有测试，不仅测试速度慢，效率低，还有可能造成测试的遗漏，并且因人工按键力度不均，易造成对按键的破损。
发明内容鉴于以上内容，有必要提供一种按键功能测试系统，其利用单片机架构实现按键功能的自动测试，且测试速度快，效率高。
鉴于以上内容，还有必要提供一种按键功能测试方法，其利用单片机架构实现按键功能的自动测试，且测试速度快，效率高。
一种按键功能测试系统，用于各种按键盘上的按键功能测试，该系统包括一电源模块、一单片机控制模块及一发光模块。所述的单片机控制模块包括一参数设定子模块，用于设定按键不良时的重复按键次数，及按键不良时是否继续进行测试的参数，并将该参数以数字信号的形式输出；一单片机，与上述参数设定子模块相连，用于接收并保存参数设定子模块输出的数字信号，该单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行所述应用程序，以向至少一电磁阀发送控制指令，使电磁阀控制相应的直动气缸上下运动，从而控制按键盘上的按键上下运动完成功能测试。
所述的单片机控制模块还包括一显示子模块，与上述单片机相连，其由多个发光二极管组成，每一个发光二极管对应一个按键，当被测按键功能正常时，对应的发光二极管发光；一蜂鸣器，与上述单片机相连，用于在测试结束时发出按键功能正常提示音或报警信号；一气压调节器，用于通过上述电磁阀给上述直动气缸供应所需气压。
所述的应用程序包括一测试模块，用于使单片机向电磁阀发送控制指令以控制电磁阀的开通与关断，由电磁阀控制直动气缸上下运动以带动按键盘上的按键按照设定的测试顺序及单片机所接收的设定参数上下运动；一判断模块，用于判断按键是否到达设定的按键不良时的重复按键次数，及判断按键不良时是否继续进行测试。
一种按键功能测试方法，用于各种按键盘上的按键功能测试，该方法包括如下步骤(a)打开电源；(b)提供一单片机接收设定的参数；(c)该单片机根据设定的参数发送控制指令至一电磁阀，由电磁阀控制一直动气缸上下运动以按下按键；(d)读取第一键值；(e)判断第一键值是否正确；(f)若键值正确，则松开按键，读取第二键值；(g)判断第二键值是否正确；(h)若正确，再判断所有按键是否都已测试一遍，若是则结束测试；(i)若不是，则返回步骤(c)。
所述的单片机接收的设定参数包括按键不良时的重复按键次数及按键不良时是否继续进行测试。
在步骤(e)中，若判断第一键值不正确，则进行如下步骤(e1)判断按键次数是否到达设定的按键不良时的重复按键次数；(e2)若不是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；(e3)若是，则根据设定参数判断按键不良时是否继续测试，并执行如下步骤之一若是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若不是，则结束测试。
在步骤(g)中，若判断第二键值不正确，则进行如下步骤(g1)判断按键次数是否到达设定的按键不良时的重复按键次数；(g2)若不是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；(g3)若是，则根据设定参数判断按键不良时是否继续进行测试，并执行如下步骤之一若是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若不是，则结束测试。
所述的第一键值及第二键值为读取的电压值，每一个被测按键均为两电路的导通键，且其中一条电路连于高电平，当被测按键按下时，将上述两电路导通，读取的另一条电路的不与所述被测按键相连的一端的电压值即为第一键值，当按键松开后再读取该端的电压值即为第二键值。
相较现有技术，所述的按键功能测试系统及方法采用单片机架构实现按键功能的自动测试，且测试速度快，效率高，安全可靠。
图1是本发明按键功能测试系统较佳实施例的硬件架构图。
图2是图1所示电源模块的内部架构图。
图3是图1所示单片机的内部架构图。
图4是本发明按键功能测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施方式参阅图1所示，是本发明按键功能测试系统较佳实施例的硬件架构图。该较佳实施例以手机为例进行说明。该系统包括一电源模块1、一单片机控制模块2及一发光模块3。电源模块1用于给单片机控制模块2及发光模块3供应所需电源电压。
其中电源模块1的内部架构图如图2所示，该电源模块1包括一开关电源111及多个电源转换电路112、113、114。开关电源111用于将一特定的交流电压a转换成两路直流电压b1、b2，其中b1再经电源转换电路112转换成某两路特定电压c1、c2，c1用以给发光模块3中的一冷光板32供应所需电源电压，c2用以给发光模块3中的一光传感器33及一磁传感器36供应所需电源电压。b2可直接给单片机控制模块2中的单片机21供应所需电源电压，且b2经电源转换电路113转换后还可给发光模块3中的模拟放大电路34、37供应所需电源电压d1；b2还可经电源转换电路114转换后为发光模块3中的电流表31供应所需电源电压d2。在本较佳实施例中a为220v交流电，b1为12v电压，b2为5v电压，c1为3v电压，c2为2.5v电压，d1为-5v电压，d2为一独立的5v电压，该5v电压不与其他电压共用一参考电压。
单片机控制模块2包括上述单片机21、一参数设定子模块22、一显示子模块23、一蜂鸣器24、至少一电磁阀25、一气压调节器26、至少一直动气缸27及一按键盘28。
参数设定子模块22用于设定当按键不良时重复测试按键的次数及按键不良时是否继续进行测试等参数。该参数设定子模块22应用的是三位拨码盘设定，前两位代表按键不良时的重复按键次数，最后一位代表按键不良时是否继续进行测试，1代表“是”，0代表“否”，例如010，前两位01表示当被测按键测试一次不良时，则需再按下一次进行测试，最后一位0表示当有按键不良且重复次数已到时不继续进行按键盘28上其它按键的测试，即测试停止。该参数设定子模块22还可将所接收的设定参数以数字信号的形式传送给与其相连的单片机21。
单片机21可接收并保存参数设定子模块22传送出的设定参数。该单片机21的内部架构如图3所示，该单片机21包括一应用程序201及一微处理器211。应用程序201包括一测试模块202及一判断模块203。其中测试模块202用于使单片机21向电磁阀25发送控制指令以控制电磁阀25的开通与关断，由电磁阀25控制直动气缸27上下运动以带动按键盘28上的按键按照设定的测试顺序及单片机21所接收的设定参数上下运动，以进行按键功能的测试；该测试模块202还设定在对按键盘28上的按键按照设定的顺序完成测试后，若所有按键功能正常，则使蜂鸣器24发出一种正常提示音，若有按键功能不良，则使蜂鸣器24发出报警信号；微处理器211可调用并执行测试模块202以向电磁阀25下达控制指令；判断模块203用于判断单片机21读取的键值是否正确，按键是否到达设定的按键不良时的重复按键次数、及判断当按键出现不良时是否继续进行测试等。
与单片机21相连的显示子模块23包括多个发光二极管(LED)，每一个LED对应按键盘28上的一个按键，当测试过程中单片机21所读取的键值正确时，被测按键对应的LED就会发光。
气压调节器26用于根据测试需要来调节气压大小以通过电磁阀25供应给直动气缸27所需气压。电磁阀25根据微处理器211所下达的控制指令来控制通入直动气缸27中的气体的进入与关断，从而控制直动气缸27的上下运动。直动气缸27通过其上下运动可按照测试模块202中所设定的测试顺序按下按键盘28中相应的按键，以进行按键功能的测试。本实施例中的按键盘28包括24个按键，所述的按键测试顺序是根据测试模块202中设定的对24个按键分组进行测试，所述24个键共分为五组，分组如下“KEY_9”、“NAV_DOWN”、“NAV_RIGHT”、“NAV_LEFT”、“NAV_UP”；“MENU”、“KEY_*”、“KEY_5”、“KEY_3”、“KEY_1”；“SEL_RIGHT”、“SEL_LEFT”、“NAV_CENTER”、“KEY_#”、“KEY_0”；“KEY_7”、“KEY_8”、“KEY_6”、“KEY_4”、“KEY_2”；“CARRIER”、“MAIL”、“SEND”、“PWR_SW”。每次测试会有一组按键全被按下，然后读取所有被按下的按键的键值。按键盘28上的每一个按键均处于两条电路的交汇处，按键一旦按下，就会接通上述两条电路，所述两条电路中有一条电路的一端连于上述按键附近，还有一端连接于高电平，另一条电路的一端连于所述按键附近，另一端为待读电压值端，该端的电压值即被定义为被测按键的键值。当按键按下后，由于上述两条电路导通，所以待读电压值端相当于直接与高电平相连而呈现高电平。若读取该键值确实呈高电平，仅说明按键能够按下但还不能说明被测按键功能良好，只有当松开被测按键后，再一次读键值为低电平时，才说明被测按键功能良好。因为有可能该按键本身就将上述两条电路短路连接，而不是因被测按键功能良好而将电路接通。且当测试完成时，若所有按键功能良好，则蜂鸣器24发出正常提示音，若有按键功能不良，则在测试结束时，蜂鸣器24会发出报警信号。
发光模块3包括三个发光元件，即冷光板32、LED35、LED38。所述冷光板32通过一电流表31与电源模块1相连。该电流表31用于测试冷光板32的功耗，若功耗太大，说明按键盘28本身为不良。冷光板32能够感知到自然光而发光，以模拟按键盘28所在手机已打开并处于按键功能测试状态。LED35是由光传感器33将感知到的光信号传给一模拟放大电路34，由该模拟放大电路34将该光信号放大后来驱动使其发光的。LED38是由磁传感器36将感知到的磁信号传给一模拟放大电路37，由该模拟放大电路37将该磁信号放大后来驱动使其发光的。该光传感器33与磁传感器36均位于按键盘28上。
参阅图4所示，是本发明按键功能测试方法较佳实施例的流程图。该较佳实施例以手机为例进行说明。首先，打开电源以开启测试系统(步骤S100)；单片机21接收参数设定子模块22传送过来的设定参数，包括按键不良时的重复按键次数及按键不良时是否继续进行测试等参数(步骤S102)；单片机21中的判断模块203判断是否按下开启/关闭按钮(步骤S104)；若是，单片机21中的微处理器211调用并执行测试模块202，以向电磁阀25下达控制指令以控制电磁阀25的开通与关断，通过电磁阀25的开通与关断来控制直动气缸27的上下运动，直动气缸27通过上下运动按照测试模块202中设定的测试顺序按下相应的按键(步骤S106)；单片机21读取键值，该键值为被测按键按下时所接通两条电路的其中一端的电压值，另一端连于一高电平(步骤S108)；单片机21中的判断模块203判断该键值是否正确，在本实施例中，键值为高电平5v为正确(步骤S110)；若正确，则将按键松开，再读取键值(步骤S112)；单片机21中的判断模块203再判断该键值是否正确，在本实施例中本次键值为0v是正确(步骤S114)；若是，判断模块203判断所有按键是否都已测试一遍(步骤S116)；若是，结束测试，蜂鸣器24发出正常提示音，若不是，则返回步骤S106。
在步骤S104中，若没有按下开启/关闭按钮，则等待后返回步骤S104(步骤S105)。
在步骤S110中，若判断键值不正确，则再判断按键次数是否到达设定的按键不良时的重复按键次数(步骤S118)；若是，则再判断单片机21所接收的设定参数中按键不良时是否继续进行测试的位为1还是为0(步骤S120)；若为1，表示要继续测试，则返回步骤S106，否则结束测试，同时蜂鸣器24发出报警信号。
在步骤S118中，若判断按键没有到达设定的按键不良时的重复按键次数，则返回步骤S106。
在步骤S114中，若判断所读取的键值不正确，则转至步骤S118。
权利要求
1.一种按键功能测试系统，用于各种按键盘上的按键功能测试，该系统包括一电源模块、一单片机控制模块及一发光模块，其特征在于，所述的单片机控制模块包括一参数设定子模块，用于设定按键不良时的重复按键次数，及按键不良时是否继续进行测试的参数，并将该参数以数字信号的形式输出；一单片机，与上述参数设定子模块相连，用于接收并保存参数设定子模块输出的数字信号，该单片机包括一微处理器及一应用程序，该微处理器可调用并执行所述应用程序，以向至少一电磁阀发送控制指令，使电磁阀控制相应的直动气缸上下运动，从而控制按键盘上的按键上下运动完成功能测试。
2.如权利要求1所述的按键功能测试系统，其特征在于，所述的单片机控制模块还包括一显示子模块，与上述单片机相连，其由多个发光二极管组成，每一个发光二极管对应一个被测按键，当被测按键功能正常时，对应的发光二极管发光；一蜂鸣器，与上述单片机相连，用于在测试结束时发出按键功能正常提示音或报警信号；一气压调节器，用于通过上述电磁阀给上述直动气缸供应所需气压。
3.如权利要求1所述的按键功能测试系统，其特征在于，所述的应用程序包括一测试模块，用于使单片机向电磁阀发送控制指令以控制电磁阀的开通与关断，由电磁阀控制直动气缸上下运动以带动按键盘上的按键按照设定的测试顺序及单片机所接收的设定参数上下运动；一判断模块，用于判断按键是否到达设定的按键不良时的重复按键次数，及判断按键不良时是否继续进行测试。
4.一种按键功能测试方法，用于各种按键盘上的按键功能测试，其特征在于，该方法包括以下步骤打开电源；提供一单片机接收设定的参数；该单片机根据设定的参数发送控制指令至一电磁阀，由电磁阀控制一直动气缸上下运动以按下按键；读取第一键值；判断第一键值是否正确；若键值正确，则松开按键，读取第二键值；判断第二键值是否正确；若正确，再判断所有按键是否都已测试一遍，若是则结束测试；若不是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤。
5.如权利要求4所述的按键功能测试方法，其特征在于，所述的单片机接收的设定参数包括按键不良时的重复按键次数及按键不良时是否继续进行测试。
6.如权利要求5所述的按键功能测试方法，其特征在于，若步骤判断第一键值是否正确的步骤为否，则进行如下步骤判断按键次数是否到达设定的按键不良时的重复按键次数；若不是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若是，则根据设定参数判断按键不良时是否继续测试，并执行如下步骤之一若是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若不是，则结束测试。
7.如权利要求5所述的按键功能测试方法，其特征在于，若步骤判断第二键值是否正确的结果为否，则进行如下步骤判断按键次数是否到达设定的按键不良时的重复按键次数；若不是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若是，则根据设定参数判断按键不良时是否继续测试，并执行如下步骤之一若是，则返回单片机发送控制指令至电磁阀的步骤；若不是，则结束测试。
8.如权利要求4所述的按键功能测试方法，其特征在于，所述的第一键值及第二键值为读取的电压值，每一个被测按键均为两电路的导通键，且其中一条电路连于高电平，当被测按键按下时，将上述两电路导通，读取的另一条电路的不与所述被测按键相连的一端的电压值即为第一键值，当按键松开后再读取该端的电压值即为第二键值。
全文摘要
本发明提供一种按键功能测试系统，用于各种按键盘上的按键功能测试，该系统包括一电源模块、一单片机控制模块及一发光模块。所述的电源模块包括一开关电源及多个电源转换电路。所述的单片机控制模块包括一参数设定子模块、一单片机、一显示子模块、一蜂鸣器、至少一电磁阀及至少一直动气缸。所述的发光模块包括一冷光板及多个发光二极管。所述的单片机可向上述电磁阀发送控制指令，以控制相应的直动气缸上下运动。本发明还提供一种按键功能测试方法。本发明所提供的按键功能测试系统及方法，采用单片机架构实现按键功能的自动测试，且测试速度快，效率高，安全可靠。
文档编号G05B19/04GK1948985SQ200510100408
公开日2007年4月18日 申请日期2005年10月13日 优先权日2005年10月13日
发明者黄登聪, 兰军, 张生好, 余国俊 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司