一种检验SF₆密度控制器温度补偿准确性的方法

专利名称：一种检验SF₆密度控制器温度补偿准确性的方法
技术领域：
本发明涉及压力式S:F6密度控制器应用技术领域，尤其涉及一种检验S:F6密度控 制器温度补偿准确性的方法。
背景技术：
六氟化硫密度控制器(以下简称S:F6密度控制器)是用于监测和控制S:F6高压断 路器(又称s:F6高压开关)中S:F6气体密度的重要仪表，S:F6密度控制器对保证S:F6高压 断路器以至整个变电站、电网的正常安全运行，起着至关重要的作用。
在容器中S:F6气体密度不改变的情况下，容器内的S:F6气体产生的压力随着温度 的升高而增大、随着温度的降低而减小。若是用常规的压力表进行监测，其压力表指针 会随着环境温度变化而变动，而s:F6密度控制器一个重要特性，就是具有温度补偿作用。
3&密度控制器的工作原理在其内部安装温度补偿装置，利用温度补偿装置来 补偿因温度变化导致的s:F6密度控制器指针变动。在器内S:F6气体密度不变的前提下， 不管工作环境温度如何变化并带来器内压力的变化，s:F6密度控制器的指针总是指在其额 定压力位置，只有在因设备发生漏气造成器内S:F6气体密度下降的情况下，3^密度控制 器的指针才会变动，从而达到监测和控制s:F6高压断路器中S:F6气体密度的作用。
由此可以看出，温度补偿装置在整个S:F6密度控制器中的重要作用。要保证温 度补偿装置的正常准确工作，就要确保其温度补偿这一重要技术指标的准确性。
目前，检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的过程可以参见图1 :将被检S:F6密 度控制器1安装在检验容器2上，开启与检验容器2连接的球阀3，向检验容器2中充入 S:F6气体，将检验容器2的压力调整至S:F6密度控制器的额定压力，关闭球阀3，之后将 SF6密度控制器1和检验容器2放入恒温箱4中，将恒温箱4的温度调节至标准规定的试 验温度，在标准规定的试验时间后，读取s:F6密度控制器1指针的指标值，判断S:F6密度 控制器1的温度补偿是否准确。
由于在检测过程中，必须将被检S:F6密度控制器1和检验容器2同时放入恒温箱 4中，S:F6密度控制器1和检验容器2占用的空间较大，使用目前的恒温箱，每次只能对3 个3&密度控制器进行检测，而每次检测会占用8个小时，检测效率低下，由于S:F6密度 控制器在出厂前必须进行温度补偿量的检验，所以现有的检验方法无法满足生产需求。 另外，标准规定的检验温度为_40°C 70°C，如果充入检测容器2中的是纯S:F6气体，那 么在-40°C的检验温度下S:F6气体会发生液化，此时S:F6密度控制器无法检验检测容器2 的压力，为了解决S:F6气体液化的问题，在检测容器2中冲入S^* N2的混合气体，但 是现在关于混合气体中S:F6和N2的比例没有统一规定，这导致检验结果失去准确性。发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方 法，可以提高检验效率、满足生产需求，并且可以在-40°C的检验温度下准确检验3&密度控制器的温度补偿准确性。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案
一种检验s:F6密度控制器温度补偿准确性的方法，包括
放置所述s:F6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；
连接所述S:F6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；
调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力；
确定所述S:F6密度控制器的显示压力；
判断所述S:F6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述S:F6 密度控制器的温度补偿准确，否则所述s:F6密度控制器的温度补偿不准确。
优选的，在上述方法中，进一步包括确定与所述预设检验温度对应的器内压力 的步骤，具体的，依据以下公式确定与所述预设检验温度对应的器内压力
P器=P额+KX At
其中，P器为充有SF6气体的容器的器内压力，P额为S:F6密度控制器的额定压 力，K为与Pi5对应的温度补偿系数，At为预设检验温度与20°C之间的差值。
优选的，在上述方法中，所述K的取值为
P额为 0.3MPa 时，所述 K 为 0.0015MPa/°C ；
P额为 0.4MPa 时，所述 K 为 0.002MPa/°C ；
P额为 0.5MPa 时，所述 K 为 0.0025MPa/°C ；
P额为 0.6MPa 时，所述 K 为 0.003MPa/°C。
优选的，在上述方法中，进一步包括记录所述S:F6密度控制器的显示压力的步马聚ο
优选的，在上述方法中，所述预设检验温度为-40°C 70°C中的任一数值。
优选的，在上述方法中，所述标准压力检测装置为标准压力表。
优选的，在上述方法中，所述标准压力检测装置为储气瓶。
由此可见，在本发明公开的检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法中，只将 SF6密度控制器放入恒温箱中进行升温或者降温，与现有方法中同时将检验容器放入恒温 箱相比，在恒温箱空间不变的情况下可以放入更多数量的s:F6密度控制器，提高了检测效 率，可以更好的满足生产需求；而且在本发明中根据与预设检验温度对应的器内压力来 调节标准压力检测装置的压力，由标准压力检测装置来模拟充有s:F6气体的容器在不同温 度下的压力变化，不存在S:F6气体液化的问题，所以在检测温度为-40°C时也可以对SF6 密度控制器的温度补偿准确性进行检测。


为了更清楚地说明本发明实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单 的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通 技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为采用现有方法检验S:F6密度控制器温度补偿准确性过程中S:F6密度控制器 在恒温箱中放置位置示意图2为本发明公开的一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流程图3为采用图2所示方法检验S:F6密度控制器温度补偿准确性过程中S:F6密度控 制器在恒温箱中放置位置示意图4为本发明公开的另一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流程 图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、 完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部实施例。 基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下，所获得的 所有其他实施例，都属于本发明保护范围。
本发明公开了一种检验3^密度控制器温度补偿准确性的方法，可以提高检验效 率、满足生产需求，并且可以在_40°C的检验温度下准确检验3^密度控制器的温度补偿 准确性。
参见图2，图2为本发明公开的检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法的流 程图。包括
步骤Sl 放置S:F6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间。
将S:F6密度控制器放置于恒温箱中，控制恒温箱的温度处于预设检验温度，该预 设检验温度可以是标准规定中的-40°C 70°C中的任一值，将S:F6密度控制器在恒温箱中 放置预设检验时间，该预设检验时间可以保证s:F6密度控制器的温度与预设检验温度一 致。
步骤S2 连接S:F6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路。
当S:F6密度控制器在处于预设检验温度的恒温箱中放置预设检验时间后，将S:F6 密度控制器从恒温箱中取出，并将s:F6密度控制器的气路与标准压力检测装置的气路连 接。
步骤S3 调节标准压力检测装置的压力至与预设检验温度对应的器内压力。
与预设检验温度对应的器内压力是指充有S:F6气体的容器在保证气体密度不 变的情况下，处于预设检验温度下产生的压力。该充有S:F6气体的容器在20°C时产生的 压力与3^密度控制器的额定压力一致，在容器中的S:F6气体密度不变的情况下，容器所 处的温度会导致容器中s:F6气体压力的变化，容器所处的温度不同会产生不同的器内压 力。通过对标准压力检测装置进行增压或者减压，使标准压力检测装置的实际压力达到 与预设检验温度对应的器内压力。实施中，在标准压力检测装置中充入的可以是空气或 者氮气。
步骤S4 确定S:F6密度控制器的显示压力。
SF6密度控制器的显示压力是指S:F6密度控制器的指针的指标值。该显示压力 不是标准压力检测装置的实际压力值，而是经过3&密度控制器进行温度补偿之后的压力值。
步骤S5:判断S:F6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则转 向步骤S61，否则，转向步骤S62。
步骤S61 确定S:F6密度控制器的温度补偿准确。
步骤S62 确定S:F6密度控制器的温度补偿不准确。
标准压力检测装置的压力与对应于预设检验温度的器内压力一致，也就是与充 有s:F6气体的容器在预设检验温度下产生的压力一致。通过调节标准压力检测装置的压 力模拟了充有s:F6气体的容器随温度不同产生的压力变化。S:F6密度控制器进行温度补偿 的目的就是消除温度因素造成的充有s:F6气体容器的压力变化，保证S:F6密度控制器的显 示压力与充有S:F6气体容器在20°C时的压力一致，也就是保证S:F6密度控制器的显示压力 与额定压力一致。因此通过比较s:F6密度控制器的显示压力与额定压力即可判断S:F6密 度控制器的温度补偿是否准确。
在容器中S:F6气体密度保持不变的情况下，如果S:F6密度控制器可以进行准确的 温度补偿，那么S:F6密度控制器的显示压力与3^密度控制器的额定压力一致，如果S:F6 密度控制器不能进行准确的温度补偿，那么s:F6密度控制器的显示压力与S:F6密度控制器 的额定压力会出现差值，通过比较s:F6密度控制器的显示压力和额定压力即可判断该S:F6 密度控制器的温度补偿是否准确。
需要说明的是，步骤S3的位置不限于图2所示，同样可以设置于步骤Sl和/或 步骤S2之前。
在本发明公开的检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方法中，只将S:F6密度控 制器1放入恒温箱4中进行升温或者降温6 密度控制器在恒温箱中的放置位置如图3 所示)，与现有方法中同时将检验容器放入恒温箱相比，在恒温箱4空间不变的情况下可 以放入更多数量的s:F6密度控制器1，提高了检测效率，可以更好的满足生产需求；而且 在本发明中根据与预设检验温度对应的器内压力来调节标准压力检测装置的压力，由标 准压力检测装置来模拟充有s:F6气体的容器在不同温度下的压力变化，不存在S:F6气体液 化的问题，所以在检测温度为-40°C时也可以对S:F6密度控制器的温度补偿准确性进行检 测。
参见图4，图4为本发明公开的另一种检验S:F6密度控制器温度补偿准确性的方 法的流程图。与图2所示流程相比，进一步增加了步骤S7。
步骤S7 确定与所述预设检验温度对应的器内压力。
与预设检验温度对应的器内压力可以通过多种手段确定。例如，将充有3^气 体的容器放置于不同的测试温度下，使用普通压力检测装置检测不同温度下容器的器内 压力，并记录试验结果，当需要确定与预设检验温度对应的器内压力时，通过在试验结 果中查找即可获得。
另外，本发明申请人经过研究发现，器内压力与预设检验温度之间存在对应关 系，依据以下公式可以确定与所述预设检验温度对应的器内压力
P器=P额+KX At
其中，P器为充有SF6气体的容器的器内压力，P额为P额为S:F6密度控制器的额 定压力，K为与Pi5对应的温度补偿系数，At为预设检验温度与20°C之间的差值。
另外，K的取值由P额的取值决定
P额为 0.3MPa 时，所述 K 为 0.0015MPa/°C ；
P额为 0.4MPa 时，所述 K 为 0.002MPa/°C ；
P额为 0.5MPa 时，所述 K 为 0.0025MPa/°C ；
P额为 0.6MPa 时，所述 K 为 0.003MPa/°C。
需要指出的是，步骤S7的位置不仅限于图4所示，只要保证步骤S7在步骤S3 之前执行即可。
优选的，进一步包括记录S:F6密度控制器的显示压力的步骤。根据记录的同一 批次的S:F6密度控制器的显示压力，可以确定该批次3^密度控制器的合格率，便于对生 产过程中存在的问题进行分析。
优选的，标准压力检测装置可以采用标准压力表或者储气瓶。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其 他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的 装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方 法部分说明即可。
权利要求
1.一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法，其特征在于，包括 放置所述SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间； 连接所述SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节所述标准压力检测装置的压力至与所述预设检验温度对应的器内压力； 确定所述SF6密度控制器的显示压力；判断所述SF6密度控制器的显示压力和额定压力是否一致，若一致，则所述SF6密度 控制器的温度补偿准确，否则所述SF6密度控制器的温度补偿不准确。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括确定与所述预设检验温度 对应的器内压力的步骤，具体的，依据以下公式确定与所述预设检验温度对应的器内压 力P器=P额+KX At其中，Pg为充有SF6气体的容器的器内压力，Pi5为SF6密度控制器的额定压力，K 为与Pi5对应的温度补偿系数，At为预设检验温度与20°C之间的差值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述K的取值为 P额为 0.3MPa 时，所述 K 为 0.0015MPa/°C ；P额为 0.4MPa 时，所述 K 为 0.002MPa/°C ； P额为 0.5MPa 时，所述 K 为 0.0025MPa/°C ； P额为 0.6MPa 时，所述 K 为 0.003MPa/°C。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，进一步包括记录所述SF6密度控制器的 显示压力的步骤。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设检验温度为_40°C 70°C中的任一数值。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准压力检测装置为标准压力表。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标准压力检测装置为储气瓶。
全文摘要
本发明公开了一种检验SF6密度控制器温度补偿准确性的方法，包括放置SF6密度控制器于处于预设检验温度的恒温箱中预设检验时间；连接SF6密度控制器的气路和标准压力检测装置的气路；调节标准压力检测装置的压力至与预设检验温度对应的器内压力；确定SF6密度控制器的显示压力；确定SF6密度控制器温度补偿准确性。在本发明公开的方法中，只将SF6密度控制器放入恒温箱中，在恒温箱空间不变的情况下可以放入更多SF6密度控制器，提高了检测效率；由标准压力检测装置来模拟充有SF6气体的容器在不同温度下的压力变化，不存在SF6气体液化的问题，在检测温度为-40℃时也可以对SF6密度控制器的温度补偿准确性进行检测。
文档编号G05B23/00GK102023631SQ20101059492
公开日2011年4月20日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年12月17日
发明者吕春兰, 甘大方, 郑召北 申请人:北京布莱迪仪器仪表有限公司