专利名称：一种电波表编程及测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电波表生产领域，特别是涉及一种电波表编程及测试装置。
背景技术：
一般来说，石英钟表所用控制IC时由生产商出厂设定以后，直接应用于钟表类产品的生产。对于功能相对较为复杂的电波表来说，其处理器内部应用程序一般通过开发机来写入，而在电波表生产过程中，为保证产品的性能指标符合要求，需要多个测试工序。每个测试工序一般都由工装夹具来进行测试，有时需要被测产品用相应的测试程序来配合。如果针对相应的测试程序而多次使用开发机来写入，将会大大降低生产效率。针对目前指针数字式电波表的生产状况，必须对生产过程作出改进，以提高生产效率。
实用新型内容为解决上述问题，本实用新型提供了一种电波表编程及测试装置，这种电波表编程及测试装置，操作方便，节省工序，可提高了电波表的生产效率，并可随时对产品程序进行更新。本实用新型所采取的技术方案是一种电波表编程及测试装置，包括主控制电路、A指示灯、B指示灯、编程控制按键、显示屏和测试针，主控制电路采用可编程的MCU单片机并且设有程序更新接口，A指示灯、B指示灯和显示屏分别与主控制电路连接组成信息反馈系统，编程控制按键和测试针分别与主控制电路连接组成编程测试控制系统。在上述技术方案中，所述主控制电路的MCU单片机通过串口连接被测电波表的控制电路。在上述技术方案中，所述主控制电路的MCU单片机内置测试代码写入程序。本实用新型的有益效果是上述构造的电波表编程及测试装置，通过主控制电路的MCU单片机自动控制，无需电脑连接开发编程，即可完成对被测电波表的控制电路的程序写入，又可根据写入被测电波表的控制电路的测试程序完成相应的测试；在生产上无需操作工人进行复杂地测试流程操作，并能准确测试出产品是否符合生产要求，提高了生产效率同时又保证了产品的质量。
图I是本实用新型的结构方框图；图2是本实用新型的简化模型图。图中，I、王控制电路；2、A指TjV灯；3、B指TjV灯；4、编程控制按键；5、显不屏；6、测试针；7、MCU单片机；8、程序更新接口 ；9、信息反馈系统；10、编程测试控制系统；11、被测电波表的控制电路。
具体实施方式
[0011]
以下结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。图I和图2示意性地显示了根据本实用新型的一种实施方式的电波表编程及测试
>J-U ρ α装直。本实用新型所采取的技术方案是一种电波表编程及测试装置，包括主控制电路
I、A指示灯2、B指示灯3、编程控制按键4、显示屏5和测试针6，主控制电路I采用可编程的MCU单片机7并且设有程序更新接口 8，主控制电路I的MCU单片机7内置测试代码写入程序，主控制电路I的MCU单片机7通过串口连接被测电波表的控制电路11，A指示灯2、B指示灯3和显示屏5分别与主控制电路I连接组成信息反馈系统9，编程控制按键4和测试针6分别与主控制电路I连接组成编程测试控制系统11。在使用本实用新型时，将被测电波表的控制电路11通过测试针6与本实用新型电气连接，本实用新型会通过主控制电路I自动检测被测电波表的控制电路11是否连接良好。当未装入被测电波表的控制电路11或被测电波表的控制电路11与测试针6接触不好时，A指示灯2闪烁，直到被测电波表的控制电路11与测试针6接触良好时，A指示灯2不亮。若被测电波表的控制电路11内无程序或测试程序不对应，B指示灯3不亮，显示屏5上无显示内容。按下编程控制按键4后，B指示灯3闪烁，本实用新型上的MCU单片机7与被测电波表的控制电路11连接通讯，并通过串口连接写入测试程序。待写入完毕后对被测电波表的控制电路11复位，重新与本实用新型上的MCU单片机7建立通讯连接，此时B指示灯3常亮，显示屏5显示正在测试的内容；若被测电波表的控制电路11已有该测试程序，则B指示灯3常亮，显示屏5显示正在测试的内容。接下来按照写入被测电波表的控制电路11的测试程序设定好的内容，将对被测电波表的控制电路11的各个电气连接点进行测试，检查被测电波表的控制电路11在电子元器件贴装时是否有虚焊、连锡的情况，各个状态参数的指示都通过本实用新型上的A指示灯2、B指示灯3和显示屏5反馈信息，直到整个测试程序运行结束，都由本实用新型主控制电路11的MCU单片机7与被测电波表的控制电路11的程序通讯自动控制。以上的实施例只是在于说明而不是限制本实用新型，故凡依本实用新型专利申请范围所述的方法所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
权利要求1.一种电波表编程及测试装置，其特征在于包括主控制电路(I)、A指示灯(2)、B指示灯(3)、编程控制按键(4)、显示屏(5)和测试针(6)，主控制电路(I)采用可编程的MCU单片机(7 )并且设有程序更新接口( 8 )，A指示灯(2 )、B指示灯(3 )和显示屏(5 )分别与主控制电路(I)连接组成信息反馈系统(9 )，编程控制按键(4 )和测试针(6 )分别与主控制电路(I)连接组成编程测试控制系统(10)。
2.根据权利要求I所述的一种电波表编程及测试装置，其特征在于所述主控制电路(I)的MCU单片机(7 )通过串口连接被测电波表的控制电路(11)。
专利摘要本实用新型涉及电波表生产领域，特别是涉及一种电波表编程及测试装置。一种电波表编程及测试装置，包括主控制电路、A指示灯、B指示灯、编程控制按键、显示屏和测试针，主控制电路采用可编程的MCU单片机并且设有程序更新接口，A指示灯、B指示灯和显示屏分别与主控制电路连接组成信息反馈系统，编程控制按键和测试针分别与主控制电路连接组成编程测试控制系统。本实用新型作为电波表编程及测试装置，操作方便，节省工序，可提高了电波表的生产效率，并可随时对产品程序进行更新。
文档编号G05B23/02GK202533799SQ201220080558
公开日2012年11月14日 申请日期2012年3月6日 优先权日2012年3月6日
发明者黄向峰 申请人:东莞丝丽雅电子科技有限公司