微电脑冷镦机成型检测控制器的制造方法

文档序号:9106014阅读:480来源:国知局
微电脑冷镦机成型检测控制器的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于控制器技术领域,特别涉及一种微电脑冷镦机成型检测控制器。
【背景技术】
[0002]目前市场上的微电脑冷镦机成型检测控制器的构建主要分为三大部分:传感器、控制器、应用软件。微电脑冷镦机成型检测控制器主要实现的功能是:通过应用软件操作向控制器发送命令,当控制器接收到命令之后进行操作设定处理再发送到各组件实现对冷镦机的成型控制;将传感器获得的数据传输给控制器,控制器再将数据进行处理发送到应用软件判别产品好坏,实现控制器、传感器的实时监控。微电脑冷镦机成型检测控制器的应用:智能学习产品成型参数,实时监控产品质量。比如人员调机完成后产品品质确认无误,控制器会进入学习分析,当产品品质出现问题时,控制器立即将冷镦机停止运行,必免不良品和废料的产出;替代人员巡检时发生产品质良问题后立即处理,实现人工和材料成本的控制。
[0003]微电脑冷镦机成型检测控制器的缺点是:传统控制器在感测器技术和控制器应用软件上无法达到人性化处理,导致控制器时常因为感测器不良或接收讯号与实际产品不符合而让冷镦机停机。比如产品出现一次进料不完全,控制器就判断为产品异常,控制冷镦机停机报警,但人员检查时又没有问题,使人员不能接受控制器的产品检测能力。感测器以成型距离做为判别依据,在细微变化时无法判别产品质量。
【实用新型内容】
[0004]本实用新型的目的在于克服上述现有技术中存在的缺点与不足,提供一种微电脑冷镦机成型检测控制器。本实用新型通过量值设定单元更好的改进控制器时常因为感测器不良或接收讯号与实际产品不符合而让冷镦机停机的缺陷。
[0005]本实用新型的目的通过下述技术方案实现:一种微电脑冷镦机成型检测控制器,包括位移传感器,传感信号接收单元,控制器单元,量值设定单元,马达控制单元,断料控制单元和报警显示单元;所述的传感信号接收单元与位移传感器连接,接收位移传感器的信号;
[0006]所述的传感信号接收单元与控制器单元连接,传送位移传感器发送来的传感信号;
[0007]所述的量值设定单元与控制器单元连接,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制;
[0008]所述的控制器单元与马达控制单元连接,实现对冷镦机马达的控制;
[0009]所述的控制器单元与断料控制单元连接,所述的控制单元通过对断料控制单元的控制,实现断料控制;
[0010]所述的控制器单元与报警显示单元连接,通过报警显示单元发出警报提示。
[0011]所述的位移传感器为纳米级位移传感器;所述微电脑冷镦机成型检测控制器使用纳米级位移传感器以后,冷镦机成型所产生的力量数据来分析产品的质量,精确度高于直接感测距离之感测器,也增加了控制器的检测能力。
[0012]本实用新型克服目前微电脑冷镦机成型检测控制器的不足,使用现有纳米级位移传感器埋入冷镦机固定模座上方,利用冷镦机在产品成型时所产生的位移能量做为感测器讯号,通过本实用新型的传感信号接收单元接收传感信号。同时微电脑冷镦机成型检测控制器的量值设定单元可以设定连续N(1?99)个后停机的参数和产品良品学习分析数量设定功能及应用。改造以后微电脑冷镦机成型检测控制器在产品成型时如发现不良时可依照参数设定的连续N个不良后,通过马达控制单元实现及时停机,通过断料控制单元实现断料供应,避免里原料的浪费,同时通过报警显示单元给出报警提醒;学习数量设定可以增加产品的质量分析准确性。弥补了现有微电脑冷镦机成型检测控制器的不足。
[0013]微电脑冷镦机成型检测控制器技术增加不良产品数量设定以后,当控制器检测到产品不良时,会先查询量值设定单元的不良数设定,如果不良数设定为〃3"时表示要连续检测到3笔不良数据时控制器系统才使冷镦机停机报警,必免时常停机的问题。
[0014]所述的量值设定单元还有增加了学习数量设定后,可以依照冷镦机的稳定性(新机、旧机)设定学习数量,来达成冷镦成型产品的精确分析使产品可以有更好的实用性。
[0015]本实用新型相对于现有技术具有如下的优点及效果:
[0016]1.本实用新型将纳米级位移传感器应用到微电脑冷镦机成型检测控制器以后,纳米级位移传感器通过冷镦机成型所产生的力量数据来分析产品的质量,精确度高于直接感测距离之感测器,也增加了控制器的检测能力,并且不易损坏。
[0017]2.本实用新型微电脑冷镦机成型检测控制器设置有所述的量值设定单元,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制,改善了控制器的精确度和稳定性。
【附图说明】
[0018]图1为本实用新型微电脑冷镦机成型检测控制器的结构示意图。
【具体实施方式】
[0019]下面结合实施例及附图对本实用新型作进一步详细的描述,但本实用新型的实施方式不限于此。
[0020]实施例1
[0021]如图1所示,本实用新型提供了一种微电脑冷镦机成型检测控制器,包括位移传感器,传感信号接收单元,控制器单元,量值设定单元,马达控制单元,断料控制单元和报警显示单元;所述的传感信号接收单元与位移传感器连接,接收位移传感器的信号;
[0022]所述的传感信号接收单元与控制器单元连接,传送位移传感器发送来的传感信号;
[0023]所述的量值设定单元与控制器单元连接,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制。
[0024]所述的控制器单元与马达控制单元连接,实现对冷镦机马达的控制;
[0025]所述的控制器单元与断料控制单元连接,所述的控制单元通过对断料控制单元的控制,实现断料控制。
[0026]所述的控制器单元与报警显示单元连接,通过报警显示单元发出警报提示。
[0027]所述的位移传感器为纳米级位移传感器;所述微电脑冷镦机成型检测控制器使用纳米级位移传感器以后,冷镦机成型所产生的力量数据来分析产品的质量,精确度高于直接感测距离之感测器,也增加了控制器的检测能力。
[0028]本实用新型克服目前微电脑冷镦机成型检测控制器的不足,使用现有纳米级位移传感器埋入冷镦机固定模座上方,利用冷镦机在产品成型时所产生的位移能量做为感测器讯号,通过本实用新型的传感信号接收单元接收传感信号。同时微电脑冷镦机成型检测控制器的量值设定单元可以设定连续N(1?99)个后停机的参数和产品良品学习分析数量设定功能及应用。改造以后微电脑冷镦机成型检测控制器在产品成型时如发现不良时可依照参数设定的连续N个不良后,通过马达控制单元实现及时停机,通过断料控制单元实现断料供应,避免里原料的浪费,同时通过报警显示单元给出报警提醒;学习数量设定可以增加产品的质量分析准确性。弥补了现有微电脑冷镦机成型检测控制器的不足。
[0029]微电脑冷镦机成型检测控制器技术增加不良产品数量设定以后,当控制器检测到产品不良时,会先查询量值设定单元的不良数设定,如果不良数设定为〃3"时表示要连续检测到3笔不良数据时控制器系统才使冷镦机停机报警,必免时常停机的问题。
[0030]所述的量值设定单元还有增加了学习数量设定后,可以依照冷镦机的稳定性(新机、旧机)设定学习数量,来达成冷镦成型产品的精确分析使产品可以有更好的实用性。
[0031]本实用新型将纳米级位移传感器应用到微电脑冷镦机成型检测控制器以后,纳米级位移传感器通过冷镦机成型所产生的力量数据来分析产品的质量,精确度高于直接感测距离之感测器,也增加了控制器的检测能力,并且不易损坏。
[0032]本实用新型微电脑冷镦机成型检测控制器设置有所述的量值设定单元,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制,改善了控制器的精确度和稳定性。
[0033]上述实施例为本实用新型较佳的实施方式,但本实用新型的实施方式并不受上述实施例的限制,其它的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在本实用新型的保护范围之内。
【主权项】
1.一种微电脑冷镦机成型检测控制器,其特征在于:包括位移传感器,传感信号接收单元,控制器单元,量值设定单元,马达控制单元,断料控制单元和报警显示单元; 所述的传感信号接收单元与位移传感器连接,接收位移传感器的信号; 所述的传感信号接收单元与控制器单元连接,传送位移传感器发送来的传感信号;所述的量值设定单元与控制器单元连接,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制; 所述的控制器单元与马达控制单元连接,实现对冷镦机马达的控制; 所述的控制器单元与断料控制单元连接,所述的控制单元通过对断料控制单元的控制,实现断料控制; 所述的控制器单元与报警显示单元连接,通过报警显示单元发出警报提示。2.根据权利要求1所述的微电脑冷镦机成型检测控制器,其特征在于:所述的位移传感器为纳米级位移传感器。
【专利摘要】本实用新型公开了一种微电脑冷镦机成型检测控制器,属于控制器技术领域。所述的微电脑冷镦机成型检测控制器包括位移传感器,传感信号接收单元,控制器单元,量值设定单元,马达控制单元,断料控制单元和报警显示单元;所述的量值设定单元与控制器单元连接,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制。本实用新型中纳米级位移传感器通过冷镦机成型所产生的力量数据来分析产品的质量,提高了精确度,不易损坏。所述的量值设定单元,用于接收输入的量值设置信息,实现了可以设定产品不良数和产品学习数量进行冷镦机检测控制,改善了控制器的精确度和稳定性。
【IPC分类】G05B19/402
【公开号】CN204759167
【申请号】CN201520255272
【发明人】冯贵存
【申请人】冯贵存
【公开日】2015年11月11日
【申请日】2015年4月24日
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