专利名称：一种分配物体的系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及把物体从多个位置分配到多个目的地的领域。更具体 说，本发明涉及一种分配物体并能选择优先目的地的分配系统。
技术背景自动光学检查(AOI)系统使用像处理和专用算法，检查PCB 或晶片表面，以便识别该表面上的缺陷。把有缺陷的表面被扫描的像， 传送到校验系统，在该系统中，操作员目视核对该像，以校验自动确 定的结果。某些AOI系统有它们自己的校验台，但为提高处理过程的效率， 被扫描的物体，例如PCB或晶片，用手拿到多个校验台之一。遗憾的 是，不是所有校验台都是可用的，而它们中的一些在校验以前的物体 时能够被占据。用手工搜索可用的校验台，效率是非常低的，并浪费 大量时间。因此，有一种能自动把被扫描的物体输送到可用的校验台的系 统，是有利的。 发明内容本发明就是一种把物体从自动光学检查(AOI)系统分配到多个 台之一的分配系统。按照本发明的教导，是提供一种把来自自动光学检查(AOI)系 统的物体进行分配的分配系统，该分配系统包括a) 输送装置，能把物体从AOI系统输送到多个台的每一个；和b) 控制器，该控制器可用于i) 从AOI系统接收物体；ii) 按顺序接收每一个台的可用性；iii) 控制输送装置，把物体从其位置输送到可用的台。按照一个优选实施例中的再一个特征，在提供的按照本发明的分 配系统中，该控制器还可用于接收关于物体的信息包，并把信息包连 同物体一起传送到可用的台。在另一个优选实施例中，提供的分配系统中，物体是被扫描的有可疑缺陷的物体，该缺陷被AOI系统识别，且其中的台是校验台。在另 一个优选实施例中，提供的分配系统中，输送装置是机械手， 该机械手能传送来自AOI系统的物体，并能按照控制器的命令，把物 体输送到台上。在另一个优选实施例中，提供的分配系统中，至少一个台是緩冲 台，在全部台都不可用的情况下，该输送装置把物体输送到该緩冲台 上，而在某个台变成可用时，把物体从緩冲台输送到该台上。在另一个优选实施例中，提供的分配系统中，至少一个台是卸载 台，在物体已经通过全部要求的操作的情况下，输送装置把物体输送 到该卸载台上。在另一个优选实施例中，提供的分配系统中，分配是由多个AOI 系统完成的。按照本发明的另一方面，是提供一种把来自至少一个自动光学检 查(AOI)系统的被扫描物体进行分配的分配系统，该物体有可疑的 缺陷，该分配系统包括a) 机械手，能把物体从AOI系统的每一个，输送到多个校验台的每一个；和b) 控制器，该控制器可用于i) 从AOI系统接收多个被扫描的物体；ii) 从AOI系统接收关于每一个被扫描物体的信息包；iii) 按顺序接收每一校验台的可用性；iv) 从每一个被扫描物体的位置传送物体，和把物体的每一个输 送到可用的校验台；v) 把每一个信息包传送到该有关物体要输送到的校验台；vi) 从每一个已校验物体的位置传送物体，并把每一个物体输送
到卸载台；且如有必要；还vii )把每一个原来的或已更新的信息包，传送到任一个其他系统， 该系统因另外的操作，需要该信息包。在又一个优选实施例中，该分配系统应能对物体加标记，使在整 个处理过程中能完全跟踪物体。按照本发明的又一方面，在提供的分配系统中，该分配系统连同 至少一个AOI系统和多个校验台、緩冲台、及卸载台一起，被集成在 一个综合系统内。
下面仅以举例方式，参照
本发明。现在，对专门详细参 照的图强调指出，具体画出的图，仅以举例方式并只供说明本发明优 选实施例的目的，且提供认为是最有用的内容和容易了解本发明原理 及概念的说明。就此而言，除对本发明的基本理解必需之外，不试图 更详尽表明本发明的结构细节，结合图所作的说明，作用是引导本领 域熟练人员，了解本发明的若干种形式如何实际实施。图中图1画出本发明一个实施例的方框图。
具体实施方式
本发明是一种把物体从自动光学检查(AOI)系统分配到多个校 验台、之后再到各个其他台的分配系统。在本发明的一个优选实施例中，有包括AOI系统、多个校验台、 机械手、和控制器的配置。控制器从AOI系统接收被扫描物体的位置和关于该物体的信息 包。信息包可以包括物体的像和/或可疑缺陷的像、识别的信息，等等。 控制器中有关每一个校验台的可用性还被连续地更新。控制器命令机械手从接收的位置传送被扫描物体，然后把物体输 送到可用的校验台之一，以便校验可疑的缺陷。要实现校验，控制器 把信息包连同物体一起，传送到该可用的校验台，从而能实现自动的 坐标配置。如果需要，控制器可以把原来的或更新的信息，传送到需 要该信息的任一个另外的系统。在该配置中的分配操作，是自动并高效率地完成的。在全部台都不可用的情况下，控制器命令机械手把物体输送到等待台上，等待即将第一个成为可用的校验台。物体一旦已经校验完毕，控制器把物体传送到卸载台。参照图及所附说明，可以更好地了解按照本发明的分配系统的原理和操作。现在参考附图，图1画出本发明一个实施例的方框图。AOI系统 ll是有多个校验台12的配置。被扫描物体13在AOI系统ll的输出 中等待，AOI系统11把每一物体的位置和信息包传送到控制器14。 控制器14依次地更新有关每一个校验台12的可用性。控制器14命令机械手15实施移动操作17，移到特定的物体16 上，以便拾起物体16。控制器14识别校验台之一 18是可用的，并命 令机械手15实施移动操作19，以便把拾起的物体16输送到可用的校 验台18。同时，控制器14把关于拾起的物体16的信息包，传送到要 把拾起的物体16输送到的校验台相同的校验台18。在全部校验台12都不可用的情况下，控制器l4命令机械手l5 把拾起的物体16输送到緩冲台20等待，直至校验台12之一变成可用 的，然后机械手15把该物体输送该可用的台上。虽然已经结合本发明的具体实施例，说明了本发明，但无需多说， 许多替代、修改、和变更，对本领域熟练人员是显而易见的，因此， 应当认为，本发明涵盖附于后面权利要求书的精神和广泛范围内的所 有这类替代、修改、和变更。
权利要求
1. 一种把来自自动光学检查(AOI)系统的物体进行分配的分 配系统，所述分配系统包括a) 输送装置，能把物体从AOI系统输送到多个台的每一个，并 从多个校验台的每一个输送到任一个其他的台；和b) 控制器，所述控制器可用于i) 从所述AOI系统接收物体；ii) 按顺序接收每一所述台的可用性；iii) 控制所述输送装置，把所述物体从所述位置输送到可用的台。
2. 按照权利要求l的分配系统，其中所述控制器还可用于接收 关于所述物体的信息包，并把所述信息包连同所述物体一起传送到所 述可用的台。
3. 按照权利要求1的分配系统，其中所述物体，是被扫描的有 可疑缺陷的物体，该缺陷被所述AOI系统识别，且其中所述台是校验
4. 按照权利要求l的分配系统，其中所述输送装置是机械手， 所述机械手能传送来自所述AOI系统的所述物体，并能按照所述控制 器的命令，把所述物体输送到台上。
5. 按照权利要求1的分配系统，其中至少所述台之一是緩冲台， 在全部所述台都不可用的情况下，所述输送装置把物体输送到该緩沖 台上，而在某个台变成可用时，把所述物体从所述緩冲台输送到该台 上。
6. 按照权利要求1的分配系统，其中至少所述台之一是卸载台， 在全部所述操作已经完成的情况下，所述输送装置把物体输送到该卸 载台上。
7. 按照权利要求1的分配系统，其中所述分配由多个AOI系 统完成。
8. —种把来自至少一个自动光学检查(AOI)系统的被扫描物 体进行分配的分配系统，该被扫描物体有可疑的缺陷，所述分配系统包括a) 机械手，能把物体从所述AOI系统的每一个，传送到多个校 验台的每一个，并从多个校验台的每一个，传送到任一个其他的台； 和b) 控制器，所述控制器可用于i) 从所述AOI系统接收多个所述被扫描的物体；ii) 从所述AOI系统接收关于每一个所述被扫描物体的信息包；iii) 按顺序接收每一所述校验台的可用性；iv) 如有必要，为跟踪能力而对物体加标记，控制所述机械手， 从所述位置传送每一个所述被扫描物体物体，和把所述物体的每一个， 输送到可用的校验台；v) 把每一个所述信息包，传送到该有关物体要输送到的校验台；和vi) 从每一个已校验物体的位置传送每一个已校验物体，并把这 些物体输送到卸载台；和vii) 如有必要，把每一个原来的或已更新的信息包，传送到任一 个其他系统，该系统因另外的操作，需要该信息包。
9. 按照权利要求8的分配系统，其中所述台之一是緩沖台，在 全部所述台都不可用的情况下，所述机械手把物体输送到该緩冲台上， 而在某个台变成可用时，把所述物体从所述緩冲台输送到该台上。
10. 按照权利要求8的分配系统，其中所述系统连同至少一个 AOI系统和多个校验台一起，被集成在一个综合系统内。
全文摘要
本文公开一种把物体从自动光学检查(AOI)系统分配到多个台之一的分配系统。公开的分配系统由包括输送装置和可用于从AOI系统接收物体的控制器构成，该输送装置能把物体从AOI系统输送到多个台的每一个，该控制器按顺序接收每一所述台的可用性，并控制输送装置把物体从其位置输送到可用的台。
文档编号G06F7/00GK101147121SQ200580026148
公开日2008年3月19日 申请日期2005年8月3日 优先权日2004年8月4日
发明者拉菲·阿米特 申请人:卡姆特有限公司