专利名称：一种浪涌测试装置控制卡的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种浪涌测试装置部件，具体地说是一种浪涌测试装置控制卡。
背景技术：
在计算机主板的设计制造过程中，为了确保计算机主板的稳定性，浪涌测试是一 项重要的测试内容。在过去的依赖手工进行AC开关机的拔、插电源线方式，测试的次数有 限，不足以发现存在的问题或隐患。
发明内容本实用新型的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种浪涌测试装置控制卡。本实用新型的一种浪涌测试装置控制卡是按以下方式实现的，该控制卡的结构包 括PCI桥接芯片、第一接口、第二接口、控制继电器、控制总线和PCI总线，还包括复杂可编 程逻辑器，复杂可编程逻辑器分为两片，一片分别与控制继电器、第一接口相连接，控制继 电器再与第一接口相连接；另一片分别与控制总线、第二接口相连接，控制总线再与第二接 口相连接；两片复杂可编程逻辑器相连接后再与PCI桥接芯片相连接，PCI桥接芯片再与 PCI总线相连接。本实用新型的一种浪涌测试装置控制卡与现有技术相比，所产生的有益效果是 脱离了依赖手工进行AC开关机的拔、插电源线方式，可以同时对8路计算机主板进行测试， 效率较高。
附图1是本实用新型的结构框图；附图2是本实用新型的工作测试流程图。图中，1、PCI桥接芯片，2、复杂可编程逻辑器，3、第一接口，4、第二接口，5、控制继 电器，6、控制总线，7、PCI总线。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作以下详细说明。如图所示，本实用新型的一种浪涌测试装置控制卡，其结构是由PCI桥接芯片1、 第一接口 3、第二接口 4、控制继电器5、控制总线6和PCI总线7组成的，还包括复杂可编程 逻辑器2，复杂可编程逻辑器2分为两片，一片分别与控制继电器5、第一接口 3相连接，控 制继电器5再与第一接口 3相连接；另一片分别与控制总线6、第二接口 4相连接，控制总 线6再与第二接口 4相连接；两片复杂可编程逻辑器2相连接后再与PCI桥接芯片1相连 接，PCI桥接芯片1再与PCI总线7相连接。本装置和管理机的上层应用软件共同配合，完成被测机的Debug数据读取和浪涌 控制、开关机控制。此装置占用16个I/O端口地址(00-0F)，每路输入占用2个端口共16位数据(分为低位、高位2个字节)。输出控制只有16位，正好是2个字节数据，所以需要占用相应2个I/O端口地址，其中浪涌控制占用1个I/O地址，开机、关机控制占用1个I/ O地址。系统主要的逻辑由两片复杂可编程逻辑器2实现，它完成地址译码、数据输出锁存 和数据输入，其中输出锁存控制各个继电器动作，输入接收被测机发送出来的Debug信息， 发给PCI桥接芯片1，然后被上层应用程序读取到，上层应用程序会根据此信息判断被测机 的健康状况，并做记录。如果在规定的时间内，最后读取的数据不是BIOS预设值的数据，则 认为测试失败，此时主程序可以根据初始选择状态，进行下一轮循环，或者保护现场并发出 报警，通知相关人员进行信号测量，以查找问题原因。 除说明书所述的技术特征外，均为本专业人员的已知技术。
权利要求一种浪涌测试装置控制卡，包括PCI桥接芯片、第一接口、第二接口、控制继电器、控制总线和PCI总线，其特征在于还包括复杂可编程逻辑器，复杂可编程逻辑器分为两片，一片分别与控制继电器、第一接口相连接，控制继电器再与第一接口相连接；另一片分别与控制总线、第二接口相连接，控制总线再与第二接口相连接；两片复杂可编程逻辑器相连接后再与PCI桥接芯片相连接，PCI桥接芯片再与PCI总线相连接。
专利摘要本实用新型提供一种浪涌测试装置控制卡，属于浪涌测试装置部件领域。该控制卡的结构包括PCI桥接芯片、第一接口、第二接口、控制继电器、控制总线和PCI总线，还包括复杂可编程逻辑器，复杂可编程逻辑器分为两片，一片分别与控制继电器、第一接口相连接，控制继电器再与第一接口相连接；另一片分别与控制总线、第二接口相连接，控制总线再与第二接口相连接；两片复杂可编程逻辑器相连接后再与PCI桥接芯片相连接，PCI桥接芯片再与PCI总线相连接。本实用新型脱离了依赖手工进行AC开关机的拔、插电源线方式，可以同时对8路计算机主板进行测试，效率较高。
文档编号G06F11/267GK201594254SQ20102010962
公开日2010年9月29日 申请日期2010年2月9日 优先权日2010年2月9日
发明者刘士豪, 王海涛 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司