一种上下电测试电路及上下电测试装置制造方法
【专利摘要】本发明适用于电子领域，提供了一种上下电测试电路及装置，该电路包括：至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号；至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号；电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压；至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试。本发明通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化多路测试，测试成本低，体积小，效率高。
【专利说明】一种上下电测试电路及上下电测试装置【技术领域】
[0001 ] 本发明属于电子领域，尤其涉及一种上下电测试电路及上下电测试装置。
【背景技术】
[0002]软件开发后需要通过一定的载体设备对其进行上下电测试，以验证其功能的实现，以及实现的效果，目前传统方法测试软件通常需要人工手动切断或闭合电源完成待测设备的上、下电，自动化程度低，或者通过LABVIEW软件进行测试，但是，LABVIEff软件无法实现指令控制，售价又过高，并且只能实现两路上下电的测试，因此导致测试成本高、方案复杂、效率低。
【发明内容】
[0003]本发明实施例的目的在于提供一种自动控制上下电的测试电路，旨在解决软件测试无法实现自动化,并且测试成本高、方案复杂、效率低的问题。
[0004]本发明实施例是这样实现的，一种自动控制上下电的测试电路，其特征在于，所述电路与控制终端和待测设备连接，所述电路包括:
[0005]至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；
[0006]控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，所述控制单元的控制端与所述控制终端的输出端连接，所述控制单元的电源端与所述电源的输出端连接；
[0007]至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，所述`测试选择开关的控制端与所述控制单元的测试选择输出端连接，所述测试选择开关的输入端与所述控制单元的上电测试指令输出端连接；
[0008]电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压，所述电源控制单元的输入端与一个或多个所述电源的输出端连接；
[0009]至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试，所述可控开关单元的控制端与所述测试选择开关的输出端连接，所述可控开关单元的输入端与所述电源控制单元的输出端连接，所述可控开关单元的输出端与所述待测设备的电源端连接；
[0010]所述测试选择开关与所述可控开关单元的数量相等。
[0011]进一步地，所述控制单元为基于ARM架构的MCU，所述控制单元的控制端、测试选择输出端和上电测试指令输出端均为串行数据通信接口。
[0012]更进一步地，所述控制单元的测试选择输出端和上电测试指令输出端均为GPIO接口。
[0013]更进一步地，所述控制单元和所述待测设备均通过232、485或TTL协议进行数据传输。
[0014]更进一步地，所述测试选择开关为N型MOS管，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的控制端，所述N型MOS管的漏极为所述测试选择开关的输入端，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的输出端。
[0015]更进一步地，所述电源控制单元包括:
[0016]第一导通模块和第二导通模块；
[0017]所述电源控制单元的第一输入端同时与所述电源控制单元的第一输出端和所述第一导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第二输入端同时与所述电源控制单元的第二输出端和所述第一导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第二输出端还同时与所述第一导通模块的输出端和所述第二导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第三输入端同时与所述电源控制单元的第三输出端和所述第二导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第三输出端还与所述第二导通模块的输出端连接。
[0018]更进一步地，所述可控开关单元为继电器，所述继电器的线圈端为所述可控开关单元的控制端，所述继电器的公共端为所述可控开关单元的输入端，所述继电器的常开端为所述可控开关单元的输出端。
[0019]更进一步地，所述电源为多个，分别为第一电源和第二电源；
[0020]所述第一电源和所述第二电源的输出端分别与所述电源控制单元的第一输入端和第二输入端连接。
[0021]更进一步地，所述测试选择开关和所述可控开关单元均为多个；
[0022]多个测试选择开关的控制端均与所述控制单元的一个或多个测试选择输出端连接，多个测试选择开关的输入端均与所述控制单元的一个或多个上电测试指令输出端连接，多个测试选择开关的输出端分别与多个可控开关单元的控制端连接，多个可控开关单元的输入端分别与所述电源控制单元的多个输出端连接，多个可控开关单元的输出端分别与多个待测设备的电源端连接。
[0023]本发明实施例的另一目的在于提供一种采用上述上下电测试电路的上下电的测
试装置。
[0024]本发明实施例通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。
【专利附图】
【附图说明】
[0025]图1为本发明实施例提供的上下电测试电路的结构图；
[0026]图2为本发明实施例提供的多路相同电压的上下电测试电路的结构图；
[0027]图3为本发明实施例提供的三路两种电压的上下电测试电路的结构图；
[0028]图4为本发明实施例提供的三路三种电压的上下电测试电路的结构；
[0029]图5为本发明实施例提供的三路三种电压的上下电测试电路中电源控制单元的结构图。
【具体实施方式】
[0030]为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0031]本发明实施例通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。
[0032]以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细描述:
[0033]图1示出了本发明实施例提供的上下电测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0034]作为本发明一实施例，该上下电测试电路可以应用于各种上下电的测试装置中。
[0035]该上下电测试电路I与控制终端PC和待测设备2连接，该电路包括:
[0036]至少一电源11，用于提供工作电源电压以及测试电源电压；
[0037]控制单元12，用于将控制终端PC输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，该控制单元12的控制端与控制终端PC的输出端连接，控制单元12的电源端与电源11的输出端连接；
[0038]作为本发明一实施例，该控制单元12可以采用基于ARM(Advanced RISC Machine)架构的MCU (Micro Controller Unit)实现,控制单元12的控制端、测试选择输出端和上电测试指令输出端均可以采用串行数据通信接口，尤其适用通用输入/输出(GeneralPurpose Input Output，GP10)接口，控制单元12和待测设备2均可以采用232、485或TTL协议进行数据传输。当然，控制单元12也可以采用分离元件构成的电路实现。
[0039]至少一测试选择开关13，用于在测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，该测试选择开关13的控制端与控制单元12的测试选择输出端连接，测试选择开关13的输入端与控制单元12的上电测试指令输出端连接；
[0040]作为本发明一实施例，测试选择开关13可以采用半导体开关器件实现，例如MOS管或三极管，若测试选择开关13为N型MOS管，则该N型MOS管的栅极为测试选择开关13的控制端，N型MOS管的漏极为测试选择开关13的输入端，N型MOS管的栅极为测试选择开关13的输出端，本领域技术人员根据N型MOS管与测试选择开关13端口的对应关系很容易得知若测试选择开关13为P型MOS管以及三极管时，其端口的对应关系。
[0041]电源控制单元15，用于选择输出一个或多个测试电源电压，该电源控制单元15的输入端与一个或多个电源11的输出端连接；
[0042]作为本发明一实施例，该电源控制单元15可以根据需要通过MOS管或其他半导体开关搭建选择电路，也可以采用具有多路选择功能的集成芯片实现，具体描述参见后续实施例。
[0043]至少一可控开关单元14，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用测试电源电压对待测设备2进行上电测试，该可控开关单元14的控制端与测试选择开关13的输出端连接，可控开关单元14的输入端与电源控制单元15的输出端连接，可控开关单元14的输出端与待测设备2的电源端连接；
[0044]作为本发明一实施例，可控开关单元14可以采用继电器实现，结合图1，继电器的线圈端为可控开关单元14的控制端，继电器的公共端为可控开关单元14的输入端，继电器14的常开端为可控开关单元的输出端。
[0045]测试选择开关13与可控开关单元14的数量相等。[0046]在本发明实施例中，控制终端PC执行自动化脚本文件，并将指令输出给控制控制单元12，控制单元12上电后将控制终端PC的指令转化为测试选择信号，控制测试选择开关13导通，并在导通时将控制单元12生成的上电测试指令信号传递给可控开关单元14，可控开关单元14在上电测试指令信号的控制下导通，向待测设备2输出电源控制单元15输出的电源电压，以实现上电测试，并由控制单元12控制测试选择开关13关断，从而使可控开关单元14断开，停止对待测设备2供电实现下电测试。
[0047]应当想到，根据实际需要可以通过多个提供不同电压的电源同时对多个待测设备进行多组不同电压的上下电测试，或者当控制单元需要的工作电压与上电测试的电压不同时,也可以相应的增加电源数量。
[0048]本发明实施例通过指令控制可控开关单元闭合或关断，实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。
[0049]图2示出了本发明实施例提供的多路相同电压的上下电测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0050]作为本发明一实施例，该上下电测试电路I可以采用一个电源同时对多个待测设备进行上下电测试，此时，可以相应增加测试选择开关和可控开关单元的数量，参见图2。
[0051]测试选择开关131、132的控制端均与控制单元12的一个或多个测试选择输出端连接，测试选择开关131、132的输入端均与控制单元12的一个或多个上电测试指令输出端连接，测试选择开关131、132的输出端分别与可控开关单元141、142的控制端连接，可控开关单元141、142的输入端分别与电源控制单元15的第一输出端、第二输出端连接，可控开关单元141、142的输出端分别与第一待测设备21和第二待测设备22的电源端连接。
[0052]同时对多个待测设备进行上下电测设的工作原理与对一个待测设备测试的工作原理相同，详见上述实施例，此处不再赘述。
[0053]图3示出了本发明实施例提供的三路两种电压的上下电测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0054]作为本发明一实施例，该上下电测试电路I还可以采用多个电源提供多种电压，为多个待测设备同时提供不同的电压进行上下电测试，具体为:
[0055]第一电源111和第二电源112分别提供5V和12V的电压，第一电源111和第二电源112的输出端分别与电源控制单元15的第一输入端和第二输入端连接；
[0056]测试选择开关131、132、133的控制端均与控制单元12的一个或多个测试选择输出端连接，测试选择开关131、132、133的输入端均与控制单元12的一个或多个上电测试指令输出端连接，测试选择开关131、132、133的输出端分别与可控开关单元141、142、143的控制端连接，可控开关单元141、142、143的输入端分别与电源控制单元15的第一输出端、第二输出端、第三输出端连接，可控开关单元141、142、143的输出端分别与第一待测设备21、第二待测设备22和第三待测设备23的电源端连接。
[0057]在本发明实施例中，当对电源控制单元15输入多个电源时，电源控制单元15的第一输出端通过可控开关单兀141向第一待测设备21输出第一测试电源电压，电源控制单兀15的第二输出端和第三输出端分别通过可控开关单元142、143向第二待测设备22、第三待测设备23输出第二测试电源电压。图4示出了本发明实施例提供的三路三种电压的上下电测试电路的结构，为了便于说明，仅示出了与本发明相关的部分。
[0058]作为本发明一实施例，该上下电测试电路I采用三个电源提供三种电压，为三个待测设备同时提供不同的电压进行上下电测试，具体为:
[0059]第一电源111、第二电源112和第三电源113分别提供5V、12V和24V的电压，第一电源111、第二电源112和第三电源113的输出端分别与电源控制单元15的第一输入端、第二输入端和第三输入端连接；
[0060]测试选择开关131、132、133的控制端均与控制单元12的一个或多个测试选择输出端连接，测试选择开关131、132、133的输入端均与控制单元12的一个或多个上电测试指令输出端连接，测试选择开关131、132、133的输出端分别与可控开关单元141、142、143的控制端连接，可控开关单元141、142、143的输入端分别与电源控制单元15的第一输出端、第二输出端、第三输出端连接，可控开关单元141、142、143的输出端分别与第一待测设备21、第二待测设备22和第三待测设备23的电源端连接。
[0061]在本发明实施例中，第一电源111为控制单元12供电，并为第一待测设备21提供第一测试电源电压，第二电源112和第三电源113分别为第二待测设备22和第三待测设备23提供第二测试电源电压和第三测试电源电压。
[0062]若有更多的可控开关单元(N个)与电源控制单元15连接时，则与电源控制单元15对应的第一至第N输出端连接，并且M个电源通过电源控制单元15的第一至第M输出端分别输出M个电源电压，电源控制单元15的第M+1输出端至第N输出端输出第M个电源对应的电压。
[0063]以三路测试为例，电源控制单元15的结构参见图5，该电源控制单元15包括:
[0064]第一导通模块151和第二导通模块152 ；
[0065]电源控制单兀15的第一输入端VINl同时与电源控制单兀15的第一输出端VOUTl和第一导通模块151的第一输入端连接，电源控制单兀15的第二输入端VIN2同时与电源控制单元15的第二输出端V0UT2和第一导通模块151的第二输入端连接，电源控制单元15的第二输出端V0UT2还同时与第一导通模块151的输出端和第二导通模块152的第一输入端连接，电源控制单元15的第三输入端VIN3同时与电源控制单元15的第三输出端V0UT3和第二导通模块152的第二输入端连接，电源控制单元15的第三输出端V0UT3还与第二导通模块152的输出端连接。
[0066]作为本发明一实施例，第一导通模块151和第二导通模块152作为一种功能选择电路可以采用多种实现方式实现，例如，采用导通门电路实现，或者采用MOS管和三极管组合实现，本领域技术人员均可以根据具体需求选择不同的器件实现，本实施例并不限定其连接结构。
[0067]在本发明实施例中，当仅对电源控制单元15的第一输入端VINl接入第一电源时，节点a和节点b之间导通，节点b和节点c之间也导通，因此，电源控制单元15的第一输出端VOUTl、第二输出端V0UT2和第三输出端V0UT3均输出第一电源电压；
[0068]当在电源控制单元15的第一输入端VINl接入第一电源、第二输入端VIN2接入第二电源时，节点a和节点b之间断开,节点b和节点c之间导通，因此，电源控制单元15的第一输出端VOUTl输出第一电源电压，第二输出端V0UT2和第三输出端V0UT3均输出第二电源电压；[0069]当在电源控制单元15的第一输入端VINl、第二输入端VIN2和第三输入端VIN3分别接入第一电源、第二电源和第三电源时，节点a和节点b之间断开,节点b和节点c之间也断开，电源控制单元15的第一输出端V0UT1、第二输出端V0UT2和第三输出端V0UT3分别输出第一电源电压、第二电源电压和第三电源电压。
[0070]可以理解地，电源电压的选择可以根据实际需求设定，此处并不限定为5V、12V、24V。
[0071]电源的数量也并不做限定，但是优选为六个以内，因为电源过多将导致电源控制单元15的电路过于复杂，以增大电路面积。
[0072]作为本发明一优选实施例，还可以通过远程控制控制终端PC实现对上下电测试的远程化控制。
[0073]本发明实施例的另一目的在于提供一种采用上述上下电测试电路的自动控制上下电的测试装置。
[0074]本发明实施例通过串口与PC连接，然后通过PC输出指令控制可控开关单元闭合或关断，以实现对待测设备上下电的自动化测试，无需购买软件，测试成本低，并且可以同时进行多路测试，测试装置简单，体积小，测试效率高。
[0075]以上仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种上下电测试电路，其特征在于，所述电路与控制终端和待测设备连接，所述电路包括: 至少一电源，用于提供工作电源电压以及测试电源电压； 控制单元，用于将所述控制终端输出的指令转化为上电测试指令信号和测试选择信号，所述控制单元的控制端与所述控制终端的输出端连接，所述控制单元的电源端与所述电源的输出端连接； 至少一测试选择开关，用于在所述测试选择信号的控制下导通或关断，并于导通时输出上电测试指令信号，所述测试选择开关的控制端与所述控制单元的测试选择输出端连接，所述测试选择开关的输入端与所述控制单元的上电测试指令输出端连接； 电源控制单元，用于选择输出一个或多个所述测试电源电压，所述电源控制单元的输入端与一个或多个所述电源的输出端连接； 至少一可控开关单元，用于在上电测试指令信号的控制下导通或关断，并于导通时利用所述测试电源电压对所述待测设备进行上电测试，所述可控开关单元的控制端与所述测试选择开关的输出端连接，所述可控开关单元的输入端与所述电源控制单元的输出端连接，所述可控开关单元的输出端与所述待测设备的电源端连接； 所述测试选择开关与所述可控开关单元的数量相等。
2.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述控制单元为基于ARM架构的MCU，所述控制单元的控制端、测试选择输出端和上电测试指令输出端均为串行数据通信接口。
3.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述控制单元的测试选择输出端和上电测试指令输出端均为GPIO接口。
4.如权利要求2所述的电路，其特征在于，所述控制单元和所述待测设备均通过232、485或TTL协议进行数据传输。`
5.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试选择开关为N型MOS管，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的控制端，所述N型MOS管的漏极为所述测试选择开关的输入端，所述N型MOS管的栅极为所述测试选择开关的输出端。
6.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电源控制单元包括: 第一导通模块和第二导通模块； 所述电源控制单元的第一输入端同时与所述电源控制单元的第一输出端和所述第一导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第二输入端同时与所述电源控制单元的第二输出端和所述第一导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第二输出端还同时与所述第一导通模块的输出端和所述第二导通模块的第一输入端连接，所述电源控制单元的第三输入端同时与所述电源控制单元的第三输出端和所述第二导通模块的第二输入端连接，所述电源控制单元的第三输出端还与所述第二导通模块的输出端连接。
7.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述可控开关单元为继电器，所述继电器的线圈端为所述可控开关单元的控制端，所述继电器的公共端为所述可控开关单元的输入端，所述继电器的常开端为所述可控开关单元的输出端。
8.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述电源为多个，分别为第一电源和第二电源； 所述第一电源和所述第二电源的输出端分别与所述电源控制单元的第一输入端和第二输入端连接。
9.如权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试选择开关和所述可控开关单元均为多个； 多个测试选择开关的控制端均与所述控制单元的一个或多个测试选择输出端连接，多个测试选择开关的输入端均与所述控制单元的一个或多个上电测试指令输出端连接，多个测试选择开关的输出端分别与多个可控开关单元的控制端连接，多个可控开关单元的输入端分别与所述电源控制单元的多个输出端连接，多个可控开关单元的输出端分别与多个待测设备的电源端连接。
10.一种上下电测试装置，其特征在于，所述装置包括如权利要求1至7任一项所述的上下电测试 电路。
【文档编号】G06F11/36GK103559128SQ201310516415
【公开日】2014年2月5日 申请日期:2013年10月28日 优先权日:2013年10月28日
【发明者】丁志鹏, 孙鑫 申请人:深圳市宏电技术股份有限公司