计算机内存松动检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型计算机内存松动检测装置,在内存插槽下安装三个微动开关S1，S2，S3，并将开关接至四输入与门74LS21的三个输入端余下一端给常高电位，74LS21的电源脚VCC，开关S1,S2，S3的一端,PNP三极管Q1的发射极,四输入与门74LS21的IN1接至+5V；开关S1,S2,S3的另一端接至四输入非门74LS21的IN2，IN3，IN4；四输入非门74LS21的OUT端接PNP三极管Q1的基极。通过内存插槽下三个微动S1，S2，S3对内存安装状态进行检测，电路成本低，且能指示内存安装状态，并在异常时发出警报。
【专利说明】计算机内存松动检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型对计算机故障进行简单的排查，主动提示用户内存已松动，降低用户的维护难度与成本。
【背景技术】
[0002]目前越来越多的人对计算机软件使用熟悉了起来，但是对硬件故障的检测，很多用户还是难以下手，很多看似奇怪，难以解决的计算机硬故障，比如频繁蓝屏，显示器无法点亮等，往往都是由于内存松动导致的；这种情景下一个能在内存松动时主动给以警示的装置能给用户带来很多便利。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是对计算机内存进行检测，松动时发出警报。
[0004]本实用新型的技术方案为:计算机内存松动检测装置，其特征在于:在内存插槽下安装三个微动开关SI，S2，S3，并将开关接至四输入与门74LS21的三个输入端余下一端给常高电位，74LS21的电源脚VCC，开关S1，S2，S3的一端，PNP三极管Ql的发射极，四输入与门74LS21的INl接至+5V;开关S1，S2，S3的另一端接至四输入非门74LS21的IN2，IN3，IN4 ;四输入非门74LS21的OUT端接PNP三极管Ql的基极；四输入非门74LS21的OUT端和GND间接发光二极管Dl ；PNP三极管Ql的集电极和GND之间接有源蜂鸣器LSI。
[0005]内存安装良好时这三个开关均接通，四输入与门4个通道均为高电位非门输出高电位，PNP三极管截止，报警电路不工作，发光二极管亮；当内存松动，即SI，S2，S3中有一个及以上开关开路，与门即输出低电位，PNP三极管导通，发光二极管灭，有源蜂鸣器发出声响，进行声光报警。
[0006]本实用新型的有益效果:内存安装状态多位置采样，电路成本低，且能指示内存安装状态，并在异常时发出警报。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]图1为计算机内存松动检测装置的电路图。
【具体实施方式】
[0008]实施例1:计算机内存松动检测装置，其特征在于:在内存插槽下安装三个微动开关SI，S2，S3，并将开关接至四输入与门74LS21的三个输入端余下一端给常高电位，74LS21的电源脚VCC，开关SI，S2，S3的一端，PNP三极管Ql的发射极，四输入与门74LS21的INl接至+5V;开关SI，S2，S3的另一端接至四输入非门74LS21的IN2，IN3, IN4;四输入非门74LS21的OUT端接PNP三极管Ql的基极；四输入非门74LS21的OUT端和GND间接发光二极管Dl ;PNP三极管Ql的集电极和GND之间接有源蜂鸣器LSI。内存安装良好，非门输出高电位，发光二极管亮，蜂鸣器不动作。当内存安装松动，非门输出低电位，发光二极管咩，蜂鸣器蜂鸣。
【权利要求】
1.计算机内存松动检测装置，其特征在于:在内存插槽下安装三个微动开关SI，S2，S3，并将开关接至四输入与门74LS21的三个输入端余下一端给常高电位，74LS21的电源脚VCC,开关SI，S2，S3的一端，PNP三极管Ql的发射极，四输入与门74LS21的INl接至+5V ；开关SI，S2，S3的另一端接至四输入非门74LS21的IN2, IN3, IN4 ;四输入非门74LS21的OUT端接PNP三极管Ql的基极；四输入非门74LS21的OUT端和GND间接发光二极管Dl ；PNP三极管Ql的集电极和GND之间接有源蜂鸣器LSI。
【文档编号】G06F11/22GK203644022SQ201420015810
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2014年1月12日 优先权日:2014年1月12日
【发明者】金欢 申请人:江西科技学院