一种复杂电子系统剩余寿命预测方法与流程

文档序号:13159740阅读:来源:国知局
技术特征:
1.一种复杂电子系统剩余寿命预测方法,其特征在于包括下述步骤:(1)采用节点的关联重要度描述与该节点直接相连的节点个数,节点的关联重要度式中,Cd(vi)=d(vi)为节点vi的度,d(vi)是与节点vi直接相连的节点个数,n为网络节点的总数;(2)采用位置重要度描述网络中节点在网络拓扑中的位置,节点的位置重要度式中,为节点vi的紧密度,vij为节点vj到节点vi的距离;(3)采用失效率重要度描述网络中节点自身发生失效的可能性大小,节点的失效率重要度式中,λ(vi)为节点vi的失效率;(4)计算节点vi的综合重要度K(vi)=CD(vi)+CC(vi)+CP(vi);(5)选取重要度排序中的前n个元器件作为剩余寿命关键元器件,n由用户设定;(6)采用失效模式影响及危害性分析与基于故障树的仿真相结合的方法,分析n个关键元器件的失效模式及其失效机理,建立n个关键元器件的失效物理模型;(7)利用失效物理模型,计算被选择的各个关键器件的剩余寿命,以最少剩余寿命作为复杂电子系统的剩余寿命。
当前第2页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1