触控侦测方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种触控侦测方法，包括经由处理单元的输出端输出第一信号；经由该处理单元的输入端接收第二信号，其中该第二信号的位准值对应于该第一信号的位准值、第一电容的第一电容值、及第二电容的第二电容值；以校正参数对于该第二信号的位准值的变化量执行校正运算，从而得到校正后变化量；若该校正后变化量大于门槛值，判断触控事件发生。

技术研发人员：周宜群;蔡明衡;陈许民
受保护的技术使用者：联阳半导体股份有限公司
技术研发日：2016.07.22
技术公布日：2017.09.12