1.一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法，该方法包括以下步骤：
步骤1：采集液晶面板IC粒子区域的清晰图像；
步骤2：对步骤1中的图像计算IC里bump区域的像素均值；
步骤3：将步骤1中的bump区域分割为大小相同的小区域；
步骤4：对步骤3中分割的图像依次求取每个小区域的像素均值；
步骤5：对步骤4中计算的所有像素均值进行指数拉伸；
步骤6：计算步骤5中拉伸后的最大像素均值和最小像素均值；
步骤7：将步骤6中的最大像素均值与最小像素均值做差；
步骤8：如果步骤7中所得的差值小于给定的阈值，说明该IC区域无缺陷，进入步骤11，如果该差值大于给定的阈值，则说明有缺陷，进入步骤9；
步骤9：将步骤6计算的最大均值与步骤2中计算的全图的像素均值做差，再将步骤2中计算全图像素均值与步骤6的最小均值做差，对这两个差值再做差；
步骤10：如果步骤9的所得的差值大于0，则说明为异物缺陷，否则为腐蚀缺陷；
步骤11：输出缺陷检测结果。
2.如权利要求1所述的一种基于局部均值思想的IC粒子区域缺陷检测方法，其特征在于所述步骤4，具体通过以下过程实现：
指数拉伸公式为：
其中strech(i,j)是指(i,j)位置进行指数拉伸后的像素均值，regiArea(i,j)是指步骤4中计算的(i,j)位置的像素均值。